【正文】 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?555555222222222222222????????????????????????????????????CBA???R=23 R=14 R=9 20250 ?X◎ Ca等級評定 LSL USL C A21)(x19 而 Ca值是衡量製程之平均值與規(guī)格之中心值一致性， １、 Ca 計算之公式 USL: 規(guī)格上限 LSL 規(guī)格下限 T 規(guī)格公差 注意：因為單邊規(guī)格無視規(guī)格中心值，所以不能計算 Ca值。 【例題】 某一射出成型廠 ,其產(chǎn)品厚度規(guī)格為 30177。 Cp值可應(yīng)用在雙邊規(guī)格和單邊規(guī)格 ,當(dāng)制程已達到統(tǒng)計學(xué)之管制狀態(tài)時 ,計算 制程精密度 Cp才具意義。 不能符合規(guī)范的過程 (有超過一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的產(chǎn)品輸出 ) 標準偏差與極差的關(guān)系 (對于給定的樣本容量 ﹐ 平均極差一越大 ﹐ 標準偏差越大 ) 來自示例 (用均值極差來估計過程的標準偏差 ) 范圍 范圍 規(guī)范下限 (LSL) 規(guī)范上限 (USL) 規(guī)范下限 (LSL) 規(guī)范上限 (USL) 范圍 范圍 (LSL) (USL) (LSL) (USL) 范圍 范圍 范圍 (USL) (LSL) 500 900 738 x? 14 ◎ 過程能力指數(shù) 短期 :是以從一個操作循環(huán)中獲取的測量為基礎(chǔ)的。 ◎?qū)敵鰭袢〈胧? ○僅對輸出進行檢驗並隨之採取措施不是一種有效的管理方法 ○重點在對過程信息收集和分析上 ,以便對過程本身採取糾正 措施。 . 如果測量系統(tǒng)缺少統(tǒng)計控制 ,或變差占過程數(shù)據(jù)總變差中很 大比例 ,就可能作出不當(dāng)?shù)臎Q定 。 ◎有關(guān)性能的信息 : ○通過分析過程輸出可以獲得許多與過程實際性能有關(guān)的信息。 圖 25 圖 26 11 圖 27說明制程是不在統(tǒng)計管制狀態(tài)下 ,顯示制程遭受某種變動 ,而影響其制程的變異以不定的狀態(tài)改變 ,此時制程被稱為是非管制狀態(tài)。 統(tǒng)計過程概述 15 ?Cp D ?Cp ≥ C ?Cp ≥ B Cp?2 A Cp 等級 ◎過程能力 (Cp)Capability of process(Capability of Precision) ○衡量產(chǎn)品分散寬度符合公差的程序 ○ Cp值愈小 ,表示能力差 ,反之表示好 B A 規(guī)格下限 規(guī)格上限 ????36 . 05 . 166756. 2 64 10438. 068 . 13628 . 2 64 106? ???? ?????? ?CpbCpalsl uslCpBACp?實際分散寬度規(guī)格寬度4 7 10 ◎ Cp等級評定 16 二、制程精密度 Cp(Capability of Precision) Cp值系在衡量制程之變異寬度與規(guī)格界限範圍 (規(guī)格允差 )的情形。 C級 :表示尚可 ,但需立即找出對策 ,加以改善 ,不要使其品質(zhì)惡化。 。所以 Ca值越小表示偏離規(guī)格值越集中，準確度越良好。 。 CaTxKTKC PK ??????2,6)1( ??????3)(3)())(),(()()1(LSLLCpkUSLuCpkLCpkUCpkMinCpkCpCaCpk???????﹐或變邊規(guī)格??x規(guī)格下限 規(guī)格上限 超過管制 界限的機率 x?圖 66 Cpk值之意義圖解 母體均數(shù) 24 統(tǒng)計過程概述 ７ .控制圖 過程控制工具可控制和不可控制的變差 ８ .控制圖的益處 ◎ 控制圖的功能 ○數(shù)據(jù)的收集 ○控制限 :利用數(shù)據(jù)計算試驗控制限 ○分析及改進 ● 管理措施 ● 對於調(diào)整過程的變差 ,應(yīng)在顧客滿意和經(jīng)濟性 兩方面進行權(quán)衡 ○更高的質(zhì)量。 2均值圖上的數(shù)據(jù)點 ○ 如果均值處於統(tǒng)計控制狀態(tài) ,其變差便與極差圖中的變差有關(guān) ○如果均值沒能受控 ,則存在造成過程位置不穩(wěn)定的特殊原因變差 21超出控制限的點 為特殊原因 ,需立即對操作進行分析。 P36 ?收集數(shù)據(jù) (可參照 P圖 P16) O樣本的容量必需相同 O分組周期應(yīng)按生產(chǎn)間隔或反饋系統(tǒng)而定 ?計算控制制 (參照 P圖 P16) 不同之處為 np 上下控制限 UCLnp LCLnp ?過程控制解釋 (參照 P圖 P17) ?過程能力解釋 (參照 P圖 P17) :不合格數(shù) 一個檢驗批內(nèi)的不合格的數(shù)量 ,主要應(yīng)用於下列檢驗 O不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上 ,以及可以用不合格的平均率表示的地方 O在單個的產(chǎn)品檢驗中 ,可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因造成的不合格。 日 生產(chǎn)捲數(shù) 缺點總數(shù) 日 生產(chǎn)捲數(shù) 缺點總數(shù) 1 18 12 11 18 18 2 18 14 12 18 14 3 24 20 13 18 9 4 22 18 14 20 10 5 22 15 15 20 14 6 22 12 16 20 13 7 20 11 17 24 16 8 20 15 18 24 18 9 20 12 19 22 20 10 20 10 20 21 17 43 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。 25次檢驗后建立 C管制圖 ,如表中為這 25組樣本 ,一張 C管制圖上所有的缺陷數(shù)都能被解釋原因。 收據(jù)數(shù)據(jù) 只有每組的 和ｓ出現(xiàn) 計算控制限 過程控制解釋 (同 P9) 過程能力解釋 (同 P10) ○估計過程標準 Sx?X 1 )(2??? ?nXXS iSBUC L S 4? SLCL S 3 SAXLCL X 3??UC L 3?4/? CS??30 中位數(shù)圖 ● 優(yōu)點： ○ 易於使用並不要求很多計算 ○ 描出單值的點，可顯示過程輸出的分布寬度，及變差趨勢 ○ 可對同一過程不同階段的輸出進行比較 ● 缺點： ○ 統(tǒng)計意義上不如均值理想 ● 收集數(shù)據(jù) ○ 子組樣本容量小於或等於１０，若是偶數(shù)則取中間兩個 數(shù)的均值。 ○更高的有效能力 ○為討論過程的性能提供共同的語言 22 25 計量型控制圖 1. R圖均值和極差圖 ◎ 使用控制圖的準備 ○適用於實施的環(huán)境 ○定義過程 ○確定待管理的特性 ○確定量測系統(tǒng) ○使不必要的變差最小 ◎ 收集數(shù)據(jù) 1. ○ 子組大小 ○ 子