【正文】 一般講，控制狀態(tài)穩(wěn)定 ,說明 不存在特殊原因引起的變差，而能力反映普通原因引起的變差， 并且?guī)缀蹩傄獙ο到y(tǒng)采取措施來提高能力，過程能力通過標(biāo)準(zhǔn)偏 差來評價(jià)。 (極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除 ） ◆ （ XR） = 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處（對于 25子組，如果有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一種或更多進(jìn)行 調(diào)查： 。而是排除受已知的特殊原因影響的點(diǎn)。 (極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除 ). ◆ （ XR） 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處（對于 25子組，如果有40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： 。 ： b1 輸出值的分布寬度減小 ， 好狀態(tài) 。 各控制限畫成虛線。 注：對于還沒有計(jì)算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注 明 “ 初始研究 ” 字樣。 9113 子組數(shù) ：子組越多，變差越有機(jī)會(huì)出現(xiàn)。 。 ： (通常也叫可查明原因 )是指造成不是始終作用于過程 的變差的原因，即當(dāng)它們出現(xiàn)時(shí)將造成 (整個(gè) )過程的 分布改變。 特殊原因 （ Special Cause） 一種間斷性的，不可預(yù)計(jì)的，不穩(wěn)定的變差根源。 分布寬度（ Spread） 一個(gè)分布中從最小值到最大值之間的間距 中位數(shù) ?x 將一組測量值從小到大排列后，中間的值即為中位數(shù)?！? ◆ ◆ ◆ ◆ ◆ ◆ ◆ ◆ （ XR） ◆ （ Xs圖） ◆ （ ?X R） ◆ （ X—MR） ◆ ? 工業(yè)革命以后， 隨著生產(chǎn)力的進(jìn)一步發(fā)展，大規(guī)模生產(chǎn)的形成，如何控制大批量產(chǎn)品質(zhì)量成為一個(gè)突出問題，單純依靠事后檢驗(yàn)的質(zhì)量控制方法已不能適應(yīng)當(dāng)時(shí)經(jīng)濟(jì)發(fā)展的要求，必須改進(jìn)質(zhì)量管理方式。 ◆ 名稱 解釋 平均值（ X） 一組測量值的均值 極差 (Range） 一個(gè)子組、樣本或總體中最大與最小值之差 σ （ Sigma） 用于代表標(biāo)準(zhǔn)差的希臘字母 標(biāo)準(zhǔn)差 (Standard Deviation) 過程輸出的分布寬度或從過程中統(tǒng)計(jì)抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的量度，用希臘字母 σ 或字母 s（ 用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差）表示。 變差（ Variation） 過程的單個(gè)輸出之間不可避免的差別；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。只有過程變差的普通原因存在且不 改變時(shí)，過程的輸出才可以預(yù)測。 c、 確定待控制的特性 應(yīng)考慮到： 顧客的需求 當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域 特性間的相互關(guān)系 ◆ d、 確定測量系統(tǒng) 、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設(shè)備或量具。對正在生產(chǎn)的產(chǎn) 品進(jìn)行監(jiān)測的子組頻率可以是每班 2次，或一小時(shí)一 次等。 X 和 R點(diǎn)在縱向是對應(yīng)的。 ◆ （ XR） 平均極差和過程均值用畫成實(shí)線。 a2 測量系統(tǒng)的改變 （ 如新的檢驗(yàn)人或新的量具 )。 ,每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或多個(gè)具有完全 不同的過程均值的過程流的測量值 (如：從幾組軸中，每組抽一根來測 取數(shù)據(jù)）。A2R. 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是 “ 丟棄壞數(shù)據(jù) ” 。 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處 （ 對于 25子組 ， 如果超過90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域 ） ， 則應(yīng)對下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： ， 每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或個(gè)具有 完全不同的過程均值的過程流的測量值 （ 如：從幾組軸中 ， 每組 抽一根來測取數(shù)據(jù) 。方法如下： b –（用 σ ? 表示），用現(xiàn)有的子組容量計(jì)算： σ ? = R/d2 式中 R為子組極差的均值 (在極差受控期間 ), d2 為隨樣本容量變化的常數(shù)，如下表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 _ ◆ （ XR） b –2. 按照新的子組容量查表得到系數(shù) d2 、 D D4 和 A2， 計(jì)算新的極 差和控制限： R新 = σ ? d2 UCLR = D4 R新 LCLR = D3 R新 UCLX = X+ A2 R新 LCLX = X– A2 R新 將這些控制限畫在控制圖上。 UCL –X 3 σ X – LCL 3 σ ? ?= = ◆ （ XR） ：（ PZ ） a 對于單邊容差，直接使用 Z值查標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表，換算成 百分比。 注： s 圖的刻度尺寸應(yīng)與相應(yīng)的 X圖的相同 。 ，圈上子組的中位數(shù)， 并連接起來。 :操作者與每個(gè)子組的最大標(biāo)記點(diǎn)和最小標(biāo)記 點(diǎn)進(jìn)行比較，用窄垂直框圈上超出膠片控制限的子組。 （ MR） 的刻度間隔與 X 圖一致 。 一般為 25組 。 25%的樣本容量范圍。 測量系統(tǒng)變化（如：不同的檢驗(yàn)員或量具）。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除） 2/3以上的描點(diǎn)落在離均值很近之處（對于 25子組， 如果只有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域）則應(yīng)對下列情況的一種 或更多進(jìn)行調(diào)查： 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè)不 同平均性能的過程流的測量 ◆ 當(dāng)有任何變差時(shí)，應(yīng)立即進(jìn)行分析，以便識(shí)別條件并防止 再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的， 希望操作者和檢驗(yàn)員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。 1324 過程控制解釋和過程能力解釋 同 p管制圖 ◆ （缺陷）數(shù)的 c 圖 C圖用來測量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的不合格（的缺陷）的數(shù)量， C圖 要求樣本的容量恒定或受檢驗(yàn)材料的數(shù)量恒定，主要用于以 下兩類檢驗(yàn)： （如：每條尼龍上的瑕疵， 玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點(diǎn)），以及可以用不合 格的平均比率表示的地方（如 100平方米上的缺陷） 。 注：如果某些子組的樣本容量與平均樣本容量的差超過正負(fù) 25%，按下式重新計(jì)算其準(zhǔn)確的控制限： ◆ U/LSLu = u 177。3 C （同 P管制圖） 固定樣本容量為 n 的過程能力為其不合格數(shù)的平均值 C. ◆ （缺陷）數(shù)的 u圖 u圖用來測量具有不同的樣本（受檢材料的量不同）的子組 內(nèi)每檢驗(yàn)單位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量（可以用 不良率 表示） . ，盡量使它的容量在其平 均值的正負(fù)擔(dān)過重 25%以內(nèi)，可以簡化控制限的計(jì)算 . （ u） u=c / n 式中 : C為發(fā)現(xiàn)的不合格數(shù)量， n為子組中樣本的容量。 。 ◆ 13計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 （ 7點(diǎn)） ,通常表明存在下列情 況之一或兩者。 3 p ( 1 – p ) / n 過程平均 （ P） 為水平實(shí)線 ， 控制限 （ USL； LSL） 為虛線 。 “ 備注 ” 部分記錄過程的變化和可能影響過程的異 常情況 。見下表： ◆ （ XMR） n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 注： 只有過程受控，才可直接用 δ 的估計(jì)值來評價(jià)過程能力。 ： 12 數(shù)據(jù)收集 （ 基本同 XR ） ， 從左到右記錄單值的讀數(shù) 。 （同 XR） 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差： δ= R / d2 注：只有中位數(shù)和極差處于受控狀態(tài)，才可用 δ 的估計(jì)值來評價(jià)過程 能力。見下表： 當(dāng)需要計(jì)算過程能力時(shí)；將 σ 帶入 XR圖 42的公式即可。 ≤ Cpk≤ ,說明制程能力正常。 9921 對于單邊容差，計(jì)算：