spc統(tǒng)計制程管制培訓(xùn)課件-文庫吧在線文庫
【正文】 值（有一點超過控制限） 受控制的過程的均值 UCL LCL X LCL UCL X 342 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： 連續(xù) 7點在平均值一側(cè)或 7點連續(xù)上升或下降 a 與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者 。 UCL X LCL UCL X LCL 均值失控的過程（點離過程均值太近） 均值失控的過程（點離控制限太近） 35 識別并標注所有特殊原因（均值圖） a 對于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進行一次過 程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)， 防止再發(fā)生。 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 3 9 20.6 3 3 0 5 7 8 42 計算過程能力 過程能力 是指按標準偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格 界限的距離，用 Z來表示。 1≤Cpk≤,說明制程能力可以 ， 但需改善 。 式中 : UCL 和 LCL為工程規(guī)范上、下， σ? 為過程標準偏差 注： Z 值為負值時說明過程均值超過規(guī)范。 b 當子組容量變化時，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率） 應(yīng)調(diào)整中心限和控制限 。 c 如果顯著多余 2/3以上的描點落在離 R很近之處 （ 對于 25子組 ， 如果超過 90%的點落在控制限的 1/3區(qū)域 ） ， 則應(yīng)對下列情況的 一種或更多進行調(diào)查： c1 控制限或描點計算錯描錯 c2 過程或取樣方法被分層 ， 每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或 多個具有完全不 同的過程均值的過程流的測量值 （ 如：從 幾組軸中 ， 每組抽一根來測取數(shù)據(jù) 。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù)據(jù)”。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個具有 明顯不同的變化性的過程流的測量值（如：輸入材料批次混 淆）。 注 1： 當子組數(shù)（ n）變得更?。?5或更?。r，出現(xiàn)低于 R 的鏈的可能 性增加，則 8點或更多點組成的鏈才能表明過程變差減小。 5 （即其中之一或兩者均不受控）進而采取適當?shù)拇胧??？刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反 12 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。 n 表示子組 的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 41 兩個控制圖的縱坐標分別用于 X 和 R 的測量值。 注： 應(yīng)制定一個收集數(shù)據(jù)的計劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。 接上頁 113 子組數(shù)： 子組越多，變差越有機會出現(xiàn)。 注： 對于還沒有計算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 ? 各控制限畫成虛線。 a2 測量系統(tǒng)的改變 （ 如新的檢驗人或新的量具 )。 c2 過程或取樣方法被分層，每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多 個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（如：從幾組 軸中，每組抽一根來測取數(shù)據(jù)）。 b 由于出現(xiàn)特殊原因而從 R 圖中去掉的子組，也應(yīng)從 X圖中去掉。 a1 過程均值已改變 a2 測量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸到 鏈的開始點，分析時應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。 b 應(yīng)及時分析問題，例如：出現(xiàn)一個超出控制限的點就立即開 始分析過程原因。 421 對于單邊容差，計算： Z=(USLX) / σ? 或 Z=(XLSL) / σ? （選擇合適的確一個） 注：式中的 SL=規(guī)范界限， X=測量的過程均值， σ? =估計的過程標準偏差 。 ≤Cpk≤,說明制程能力正常 。 Zlsl } Zmin 也可以轉(zhuǎn)化為能力指數(shù) Cpk: Cpk= Zmin / 3 =CPU(即 ) 或 CPL(即 ) 的最小值 。 過程能力分析管制圖判讀 過程能力分析 5 管制圖抽樣的基本原則 區(qū)分 重要呎寸 次要呎寸 製程能力指數(shù) 管制方法 取樣頻率 管制方法 取樣頻率 以下 檢驗 全檢 檢驗 全檢 ~ 管制圖 高 管制圖 中 ~ 管制圖 查檢表 中 高 查檢表 中 ~ 管制圖 查檢表
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