【正文】 b 對于雙邊容差，根據(jù) Zusl 和 Zlsl 的值查標準正態(tài)分布表， 分別算出 Pzusl 和 Pzlsl 的百分比，再將其相加。 4 過程能力分析 如果已經(jīng)確定一個過程已處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，還存在過程是 否有能力滿足顧客需求的問題時； 一般講，控制狀態(tài)穩(wěn)定， 說明不存在特殊原因引起的變差，而能力反映普通原因引起 的變差，并且?guī)缀蹩傄獙ο到y(tǒng)采取措施來提高能力，過程能 力通過標準偏差來評價。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個不 同的過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進行 過度 控制造成的，這里過程改變是對過程數(shù)據(jù)中隨機波 動的響應）。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會作為過程的一部分重現(xiàn)。 32 識別并標注所有特殊原因（極差圖） a 對于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個特殊原因進行標注，作一個過程操作 分析，從而確定該原因并改進，防止再發(fā)生。 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的過程的極差 （存在高于和低于極差均值的兩種鏈） 不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈） 313 明顯的非隨機圖形 a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點的分布在整個控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關系等。 9 注 2： 因為子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差， 10 因此，首先應分析 R圖。其系數(shù)值 見下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術上為一個負值。 注： 一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設置為 X 圖刻度值的 2倍。（ 注： 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產(chǎn)出來的零件，即一個單一的生產(chǎn)流。） 112 子組頻率 ：在適當?shù)臅r間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù)，這樣子組才能 反映潛在的變化，這些變化原因可能是換班 /操作人 員更換 /材料批次不同等原因引起。 （ 例如：平均值圖上 1個刻度代表 ，則在極差圖上 1個刻度代表 ） 1將均值和極差畫到控制圖上 51 X 圖和 R 圖上的點描好后及時用直線聯(lián)接，瀏覽各點是否 合理，有無很高或很低的點，并檢查計算及畫圖是否正確。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數(shù)為 6的子組， 6個“同樣的”測量結果是可能成立的。 31 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點 311 超出控制限的點 a 出現(xiàn)一個或多個點超出任何控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要 證據(jù) ， 應分析 。 b 一般情況，各點與 R 的距離：大約 2/3的描點應落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 b 應及時分析問題，例如：出現(xiàn)一個超出控制限的點就立即開 始分析過程原因。 34 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點 341 超出控制限的點： a 一點超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多： a1 控制限或描點時描錯 a2 過程已更改，或是在當時的那一點（可能是一件獨立的 事件）或是一種趨勢的一部分。 注：如果存在幾個過程流，應分別識別和追蹤。 帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過程（所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)） 規(guī)范下限 LCL 規(guī)范上限 UCL 范圍 LCL UCL 范圍 不能符合規(guī)范的過程（有超過一側或兩側規(guī)范的輸出） LCL LCL UCL UCL 范圍 范圍 標準偏差與極差的關系（對于給定的樣本容量 ,平均極差 R越大 ,標準偏差 σ? 越大） X σ? 范圍 范圍 X σ? σ? X 范圍 R R R 41 計算過程的標準偏差 σ? σ? = R/d2 R 是子組極差的平均值， d2 是隨樣本容量變化的常數(shù) 注： 只有過程的極差和均值兩者都處于受控狀態(tài)，則可用估計 的過程標準偏差來評價過程能力。 43 評價過程能力 當 Cpk1 說明制程能力差 ， 不可接受 。 UCL–X 3 σ X – LCL 3 σ ? ? ? ? 423 估計超出規(guī)范的百分比 ：（ PZ ） a