spc統(tǒng)計(jì)制程管制培訓(xùn)課件(文件)
【正文】 值 。 帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過程（所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)） 規(guī)范下限 LCL 規(guī)范上限 UCL 范圍 LCL UCL 范圍 不能符合規(guī)范的過程（有超過一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的輸出） LCL LCL UCL UCL 范圍 范圍 標(biāo)準(zhǔn)偏差與極差的關(guān)系（對(duì)于給定的樣本容量 ,平均極差 R越大 ,標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ? 越大） X σ? 范圍 范圍 X σ? σ? X 范圍 R R R 41 計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ? σ? = R/d2 R 是子組極差的平均值， d2 是隨樣本容量變化的常數(shù) 注： 只有過程的極差和均值兩者都處于受控狀態(tài)，則可用估計(jì) 的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差來評(píng)價(jià)過程能力。 過程能力分析管制圖判讀 過程能力分析 5 管制圖抽樣的基本原則 區(qū)分 重要呎寸 次要呎寸 製程能力指數(shù) 管制方法 取樣頻率 管制方法 取樣頻率 以下 檢驗(yàn) 全檢 檢驗(yàn) 全檢 ~ 管制圖 高 管制圖 中 ~ 管制圖 查檢表 中 高 查檢表 中 ~ 管制圖 查檢表 低 中 查檢表 低 大於 視情形需要 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 1 ? 判斷失控的規(guī)則 – 樣本點(diǎn)落在管制界限之外 – 連續(xù) 9點(diǎn)在 同側(cè)的 C區(qū)或 C區(qū)之外 A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 2 – 連續(xù) 6點(diǎn)以上持續(xù)地上升或下降 A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 3 – 連續(xù) 11點(diǎn)交互一升一降 A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 4 – 相連 3點(diǎn)中有 2點(diǎn)在同側(cè)的 A區(qū)或 A區(qū)之外 A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 5 – 相連 5點(diǎn)中有 4點(diǎn)在同側(cè)的 B區(qū)或 B區(qū)之外 A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 6 – 連續(xù) 15點(diǎn)在中心線上下兩側(cè)的 C區(qū) A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 6 – 有 8點(diǎn)在中心線之兩側(cè)，但 C區(qū)並無點(diǎn)子 A B C C B A UCL LCL CL 37 為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 a 當(dāng)首批數(shù)據(jù)都在試驗(yàn)控制限之內(nèi)（即控制限確定后），延長控 制限，將其作為將來的一段時(shí)期的控制限。 注：如果存在幾個(gè)過程流，應(yīng)分別識(shí)別和追蹤。 b 一般情況 ， 各點(diǎn)與 X的距離：大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的 中間 1/3的區(qū)域內(nèi) ， 大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域； 1/20的 點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之處 （ 位于外 1/3的區(qū)域 ） 。 34 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 341 超出控制限的點(diǎn)： a 一點(diǎn)超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多： a1 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) a2 過程已更改，或是在當(dāng)時(shí)的那一點(diǎn)（可能是一件獨(dú)立的 事件）或是一種趨勢(shì)的一部分。 A2R 。 b 應(yīng)及時(shí)分析問題，例如：出現(xiàn)一個(gè)超出控制限的點(diǎn)就立即開 始分析過程原因。 d 如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處（對(duì)于 25子組，如果有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： d1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)。 b 一般情況，各點(diǎn)與 R 的距離：大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域。 b2 測(cè)量系統(tǒng)的改好。 31 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 311 超出控制限的點(diǎn) a 出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何控制限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要 證據(jù) ， 應(yīng)分析 。 3 過程控制分析 4 分析控制圖的目的在于識(shí)別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對(duì)于一個(gè)樣本數(shù)為 6的子組， 6個(gè)“同樣的”測(cè)量結(jié)果是可能成立的。 4 5 21 計(jì)算平均極差（ R）及過程均值（ X） 6 R=（ R1+R2+…+Rk ） / k（ K表示子組數(shù)量） 7 8 X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 9 22 計(jì)算控制限 10 計(jì)算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時(shí)子組的均 11 值和極差的變化和范圍。 （ 例如：平均值圖上 1個(gè)刻度代表 ，則在極差圖上
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