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spc統(tǒng)計制程管制培訓(xùn)課件(文件)

2025-03-04 14:48 上一頁面

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【正文】 值 。 帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過程(所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)) 規(guī)范下限 LCL 規(guī)范上限 UCL 范圍 LCL UCL 范圍 不能符合規(guī)范的過程(有超過一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的輸出) LCL LCL UCL UCL 范圍 范圍 標(biāo)準(zhǔn)偏差與極差的關(guān)系(對于給定的樣本容量 ,平均極差 R越大 ,標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ? 越大) X σ? 范圍 范圍 X σ? σ? X 范圍 R R R 41 計算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ? σ? = R/d2 R 是子組極差的平均值, d2 是隨樣本容量變化的常數(shù) 注: 只有過程的極差和均值兩者都處于受控狀態(tài),則可用估計 的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差來評價過程能力。 過程能力分析管制圖判讀 過程能力分析 5 管制圖抽樣的基本原則 區(qū)分 重要呎寸 次要呎寸 製程能力指數(shù) 管制方法 取樣頻率 管制方法 取樣頻率 以下 檢驗 全檢 檢驗 全檢 ~ 管制圖 高 管制圖 中 ~ 管制圖 查檢表 中 高 查檢表 中 ~ 管制圖 查檢表 低 中 查檢表 低 大於 視情形需要 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 1 ? 判斷失控的規(guī)則 – 樣本點落在管制界限之外 – 連續(xù) 9點在 同側(cè)的 C區(qū)或 C區(qū)之外 A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 2 – 連續(xù) 6點以上持續(xù)地上升或下降 A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 3 – 連續(xù) 11點交互一升一降 A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 4 – 相連 3點中有 2點在同側(cè)的 A區(qū)或 A區(qū)之外 A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 5 – 相連 5點中有 4點在同側(cè)的 B區(qū)或 B區(qū)之外 A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 6 – 連續(xù) 15點在中心線上下兩側(cè)的 C區(qū) A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 6 – 有 8點在中心線之兩側(cè),但 C區(qū)並無點子 A B C C B A UCL LCL CL 37 為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 a 當(dāng)首批數(shù)據(jù)都在試驗控制限之內(nèi)(即控制限確定后),延長控 制限,將其作為將來的一段時期的控制限。 注:如果存在幾個過程流,應(yīng)分別識別和追蹤。 b 一般情況 , 各點與 X的距離:大約 2/3的描點應(yīng)落在控制限的 中間 1/3的區(qū)域內(nèi) , 大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域; 1/20的 點應(yīng)落在控制限較近之處 ( 位于外 1/3的區(qū)域 ) 。 34 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點 341 超出控制限的點: a 一點超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多: a1 控制限或描點時描錯 a2 過程已更改,或是在當(dāng)時的那一點(可能是一件獨立的 事件)或是一種趨勢的一部分。 A2R 。 b 應(yīng)及時分析問題,例如:出現(xiàn)一個超出控制限的點就立即開 始分析過程原因。 d 如果顯著少余 2/3以上的描點落在離 R很近之處(對于 25子組,如果有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域),則應(yīng)對下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查: d1 控制限或描點計算錯或描錯。 b 一般情況,各點與 R 的距離:大約 2/3的描點應(yīng)落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi),大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 b2 測量系統(tǒng)的改好。 31 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點 311 超出控制限的點 a 出現(xiàn)一個或多個點超出任何控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要 證據(jù) , 應(yīng)分析 。 3 過程控制分析 4 分析控制圖的目的在于識別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。在這種情況下沒有下控制限,這意味著對于一個樣本數(shù)為 6的子組, 6個“同樣的”測量結(jié)果是可能成立的。 4 5 21 計算平均極差( R)及過程均值( X) 6 R=( R1+R2+…+Rk ) / k( K表示子組數(shù)量) 7 8 X =( X1+X2+…+Xk ) / k 9 22 計算控制限 10 計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均 11 值和極差的變化和范圍。 ( 例如:平均值圖上 1個刻度代表 ,則在極差圖上
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