【正文】 根據(jù)美國(guó)工業(yè)界的經(jīng)驗(yàn)，長(zhǎng)期的過程變差的７５％來自設(shè)備變差。? 目標(biāo)區(qū)域指定為綠色，警告區(qū)域是黃色，停止區(qū)域是紅色。n 如果一個(gè)或兩個(gè)都在黃色區(qū)域，檢查三個(gè)零件。103預(yù)控制圖? 假設(shè)能夠滿足，公差劃分成：名義值 +1/4公差被標(biāo)注為綠色區(qū)域，規(guī)范內(nèi)其它區(qū)域是黃色。n 一個(gè)數(shù)據(jù)落在綠色區(qū)域，一個(gè)數(shù)據(jù)落在黃色區(qū)域 —— 繼續(xù)運(yùn)行過程。107統(tǒng)計(jì)過程控制(SPC)七、計(jì)數(shù)型控制圖p控制圖np控制圖c控制圖u控制圖108A、 收集 數(shù)據(jù)B、 建立 控制限 C、 統(tǒng)計(jì)上是否受控的解釋 D、 為了持續(xù)控制延長(zhǎng)控制限使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟109Ａ 步驟 收集數(shù)據(jù)A 選擇 子 組 的容量、 頻 率及 數(shù) 量 ；A 計(jì) 算每 個(gè) 子 組 內(nèi)的不合格品率 ；A 選擇 控 制圖的 坐 標(biāo) 刻度 ；A 將 不合格品率描 繪 在控制 圖上。使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟115nipppLCLnipppUCLpCLnnndddnnnpnpnpnppppkkkkk)1(3)1(3.......... ........2121212211=+==++++++=++++++=中心線和控制限：計(jì) 算 過程 平均不合格 品 率 和 控制限 ：使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟116使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟? 如果樣本容量（ n ）恒定，控制限為：npppLCLnpppUCLpp)1(3)1(3=+=117使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟? 當(dāng)樣本容量變化時(shí)，如果 nmin/nmax≥ 則控制限不變：　 n為子組樣本容量的均值npppLCLnpppUCLpp)1(3)1(3=+=118? 任何處理可變控制限的程序都會(huì)變得麻煩，并且可能使解釋控制圖的人員造成混淆。它 們 便 變 成了操作控制限， 控制圖則成為控制用控制圖。 ? 可以使用 諸 如排列 圖 分析法及因果分析 圖 等 解決問題技術(shù) ?！??” 及 “ ?” 風(fēng)險(xiǎn)130“α”風(fēng)險(xiǎn)說明 “β”風(fēng)險(xiǎn)說 明“ ?” 及 “ ?” 風(fēng)險(xiǎn)131%177。 σ“ β” 值控制界限注：當(dāng)平均值偏移 1σ 時(shí)。 σ“ α” 值控制界限%177。 由于徒 勞 地查找原因 并為 此采取了相 應(yīng) 的措施 ，從 而造成 損 失 。? 對(duì)于過 程能力的初步估 計(jì) 值， 應(yīng) 使用 歷史數(shù)據(jù) ，但應(yīng)剔除與 特殊原因有 關(guān) 的 數(shù)據(jù)點(diǎn) 。使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟120? C 尋 找 并糾 正 特殊 原因n 當(dāng)從數(shù)據(jù) 中已 發(fā)現(xiàn) 了失控的情況 時(shí) ， 則 必 須 研究操作 過 程以便確定 其原因。使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟111? A 計(jì) 算每 個(gè) 子 組內(nèi) 的不合格品率n 記錄 每 個(gè)樣本組 的下列值 ：n 樣本數(shù) 量 — nn 發(fā)現(xiàn) 的不合格 品的數(shù) 量 ─ d(np)n 通 過上述數(shù)據(jù)計(jì) 算 每個(gè)子組的 不合格品率 ：使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟i為子組數(shù)112? A 選擇 控 制圖的 坐 標(biāo) 刻度n 描 繪數(shù)據(jù)點(diǎn) 用的 圖應(yīng)將 不合格品率作 為縱坐標(biāo) ， 識(shí)別的 子 組 作 為橫 坐 標(biāo) 。? 每當(dāng)過程被調(diào)整，在開始取樣前，過程生產(chǎn)的 5個(gè)連續(xù)的零件必須落在綠色區(qū)域。? 預(yù)控制圖的取樣使用的樣本容量為 2。在調(diào)整或其它改正完成時(shí)，重復(fù)步驟 1。? 如果過程分布遵循正態(tài)分布，分布的大約 %是在綠色區(qū)內(nèi)， %是在黃色區(qū)內(nèi)。設(shè)備能力研究設(shè)備能力要求： Cmk≥93? 計(jì)算 Cmk：n 連續(xù)取樣 50件產(chǎn)品；n 連續(xù)取樣過程中，不變更工藝參數(shù)、材料、作業(yè)人員、環(huán)境；n 估計(jì)設(shè)備變差；n 計(jì)算 Cm、 Cmk；n 分析和改進(jìn)（必要時(shí)）。如果產(chǎn)品的特性具有物理極限（例如：平面度不可能小于 0）， Pp就可以用物理極限（ 0）作為下限的替代值來計(jì)算。過程能力與由公差表示的最大可允許的變差進(jìn)行比較。 C和 P之間出現(xiàn)較大差異，表明有特殊原因出現(xiàn)。過程性能與由公差表示的最大可允許的變差進(jìn)行比較。 Cpk 和 Cp應(yīng)該總是一起進(jìn)行評(píng)價(jià)和分析。如果過程處于統(tǒng)計(jì)受控狀態(tài)，過程能力將非常接近過程性能，當(dāng)過程的能力和性能 6 之間存在較大差別時(shí)表示有特殊原因存在。這些控制限將用于過程的持續(xù)監(jiān)控，操作者和所屬的管理者根據(jù)在 X或 R圖上所出現(xiàn)的關(guān)于位置和變差不受控的信號(hào)而采取迅速的措施。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是 “丟棄壞數(shù)據(jù) ”。n 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 (極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改或刪除）如何定義 “不受控 ”信號(hào)51n 控制限內(nèi)的模式或趨勢(shì) ——明 顯 的非 隨機(jī)模式 ：n 如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離中心線很近之處（對(duì)于 25子組，如果 40%或更少的點(diǎn)落在控制限中間的 1/3區(qū)域），則應(yīng)調(diào)查是否存在下列一種或兩種情況： n 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)誤或描錯(cuò) 。（即其中之一或兩者均不受控）進(jìn)而采取適當(dāng)?shù)拇胧??？刂茍D格式見 SPC手冊(cè) 5152頁(yè)。 σ%%μ 177?？刂?圖 的 定義18上 控 制限 (UCL)中心 線 (CL)下控制限 (LCL)控制 圖 的 定義收集收集數(shù)據(jù)并描點(diǎn)在圖上控制 從過程數(shù)據(jù)計(jì)算試運(yùn)行控制限 識(shí)別變差的特殊原因并采取措施分析及改進(jìn)量化普通原因變差，采取措施將它減小重復(fù)這三個(gè)階段從而持續(xù)地改進(jìn)過程 19? 工序處于穩(wěn)定狀態(tài)下，其分布通常符合正態(tài)分布。如原材料不合格、設(shè)備出現(xiàn)故障、工夾具不良、操作者不熟練等。 時(shí)間 范圍10 過程能力 受控且有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差已減少） 規(guī)范下限 規(guī)范上限 時(shí)間 范圍 受控但沒有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差太大）11 波動(dòng)的概念是指在現(xiàn)實(shí)生活中沒有兩件東西是完全一樣的。變差（ Variation） 過程的單個(gè)輸出之間 不可避免的差別 ；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。SPC的作用6名稱 解 釋平均值（ Xbar） 一組測(cè)量值的 均值極 差 （ Range） 一個(gè)子組、樣本或總體中 最大與最小值之差σ（ Sigma） 用于代表標(biāo)準(zhǔn)差的希臘字母標(biāo)準(zhǔn)差(Standard Deviation)過程輸出的 分布寬度 或從過程中統(tǒng)計(jì)抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的 量度 ，用希臘字母 σ或字母 s（用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差）表示。于是，英、美等國(guó)開始著手研究用統(tǒng)計(jì)方法代替事后檢驗(yàn)的質(zhì)量控制方法。? 提高產(chǎn)品質(zhì)量、生產(chǎn)能力、降低成本。過程均值（ Process Average）一個(gè)特定過程特性的測(cè)量值分布的位置即為過程均值，通常用 X 來表示。移動(dòng)極差（ Moving Range)兩個(gè)或多個(gè)連續(xù)樣本值中最大值和最小值之差。正常波動(dòng)引起工序質(zhì)量微小變化，難以查明或難以消除?？刂茍D是一種帶有控制限的反映過程質(zhì)量的記錄圖形。3 σ%%μ 177。否 使用中位數(shù)圖是子組均值是否能很方便地計(jì)算？接上頁(yè)子組容量是否大于或等于 9？ 是否能方便地計(jì)算每個(gè)子組的 S值 ?控制 圖 的 選用程序26統(tǒng)計(jì)過程控制(SPC)三、計(jì)量型控制圖應(yīng)用 ~Ｘ－Ｒ控制圖Ｘ－ S控制圖Ｘ－ MＲ控制圖Ｘ－Ｒ控制圖27收集數(shù)據(jù)并制作分析 用控制 圖過程 是否 穩(wěn) 定 ？