【正文】 3 σ%177。使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟122? 計(jì) 算 和評(píng)價(jià)過程 能力? 對(duì)于 p圖 ， 過 程能 力 是通 過 平均不 合格品 率 p來 表 示 ， 當(dāng)所有 點(diǎn) 都受控 后 才 計(jì) 算 該 值。n 子 組 容量 ：n 用 于計(jì)數(shù) 型 數(shù)據(jù) 的控制 圖 一般要求 較 大的子 組 容量 (例如 50～ 200)以便 檢驗(yàn) 出性能的 變 化，一般希望每 組內(nèi) 能包括 幾個(gè) 不合格品 ；n 分 組頻 率 ：n 應(yīng) 根 據(jù)產(chǎn) 品的 周 期 確 定分 組 的 頻 率以便 幫 助分析和 糾 正 發(fā)現(xiàn) 的 問題 。? 對(duì)一個(gè) Cp、 Cpk等于 1的正態(tài)分布的過程，大約 %的零件落是在綠色區(qū)域， %的零件落在黃色區(qū)域和%的零件落在紅色區(qū)域。? 一旦通過使用計(jì)量型數(shù)據(jù)技術(shù)的過程能力研究，驗(yàn)證符合了這個(gè)假設(shè)，過程分布能夠被這樣劃分：均值 +，過程分布的其它區(qū)域是黃色。過程能力與由公差表示的最大可允許的變差進(jìn)行比較。 如果Ｐ p 值遠(yuǎn)大于對(duì)應(yīng)的Ｐ pk 值，表明有機(jī)會(huì)改進(jìn)。它考慮了過程的位置和能力。58ABCCBAUCLLCLABCCBAUCLLCL特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 :2/3A連續(xù) 3點(diǎn) 中有 2點(diǎn) 在 A區(qū) 或 A區(qū)以外特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 2: 4/5B連續(xù) 5點(diǎn) 中有 4點(diǎn) 在 B區(qū) 或B區(qū) 以外典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則59ABCCBAUCLLCLABCCBAUCLLCL特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 :6連 串連續(xù) 6點(diǎn)持續(xù) 地上升或下降特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 : 8缺 C連續(xù) 8點(diǎn) 在中心 線 的 兩側(cè) ,但 C區(qū)沒有點(diǎn)典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則60ABCCBAUCLLCLABCCBAUCLLCL特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 : 7單側(cè)連續(xù) 7點(diǎn)位于中心線一側(cè)特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 : 14升降連續(xù) 14點(diǎn)交替上下變化典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則61ABCCBAUCLLCLABCCBAUCLLCL特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則： 15C連續(xù) 15點(diǎn) 在中心 線 上下 兩側(cè) 的C區(qū)特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 : 1界外有 1點(diǎn) 在 A區(qū) 以外典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則62使用 XbarR控制 圖 的步 驟 Ｃ案例練習(xí)：　 請(qǐng)應(yīng)用典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則判定過程是否存在特殊原因？63D 為持續(xù)控制延長控制限使用 XbarR控制 圖 的步 驟 D當(dāng)初始的（或歷史的）數(shù)據(jù)都一致地落在試用的控制限內(nèi)，就可以延長控制限以適用未來的控制需要。UCLCLLCL如何定義 “不受控 ”信號(hào)48UCLLCL RUCL RLCL不受控制的過程的極差（存在高于和低于極差均值的兩種鏈）不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈）49不受控制的過程的均值（長的上升鏈）不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈）UCL XLCLUCL XLCL50n 控制限內(nèi)的模式或趨勢(shì) ——明 顯 的非 隨機(jī)模式 ：n 通常大約 2/3的 描點(diǎn)應(yīng) 落 在控制限內(nèi) 中 間的 1/3區(qū) 域 ， 大約 1/3的 描點(diǎn)應(yīng) 落 在控制限內(nèi)外面的 2/3區(qū) 域 。使用 XbarR控制 圖 的步 驟 A30 建立抽樣計(jì)劃 定義 子 組容量，較大的子組更容易發(fā)現(xiàn)微小的過程變化；規(guī)定子組頻率，通常按時(shí)間順序來取子組，如 15分鐘一次或每班一次；子組數(shù)量應(yīng)滿足如下原則：應(yīng)該收集足夠的子組以確保影響過程變差的主要原因有機(jī)會(huì)出現(xiàn)，通常在 25或更多個(gè)子組內(nèi)包括 100或更多的單值讀數(shù)可以很好地用來檢驗(yàn)穩(wěn)定性。 控制圖的縱軸代表產(chǎn)品質(zhì)量特性值 (或由質(zhì)量特性值獲得的某種統(tǒng)計(jì)量 )；橫軸代表按時(shí)間順序 (自左至右 )抽取的各個(gè)樣本子組順序號(hào)。SPC常用術(shù)語解釋9如果僅存在變差的普通原因， 目標(biāo)值線隨著時(shí)間的推移，過程的輸出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測(cè)。? 為制程分析提供依據(jù)。? 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措 施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。 預(yù)測(cè) 時(shí)間 范圍 目標(biāo)值線如果存在變差的特殊原因，隨著時(shí)間的推 預(yù)測(cè)移，過程的輸出不穩(wěn)定。 圖內(nèi)有三條線： — 中心線 (CL)； — 上控制界限 (UCL)； — 下控制界限 (LCL) 。使用 XbarR控制 圖 的步 驟 A31抽樣頻率參考表每小時(shí)產(chǎn)量 抽樣間隔不穩(wěn)定 穩(wěn)定10以下 8小時(shí) 8小時(shí)1019 4小時(shí) 8小時(shí)2049 2小時(shí) 8小時(shí)5099 1小時(shí) 4小時(shí)100以上 1小時(shí) 2小時(shí)32 設(shè)置控制圖包括過程和抽樣方法描述的表頭信息；記錄 /顯示所收集數(shù)據(jù)的實(shí)際值的部分（日期 /時(shí)間 /子組編號(hào)）；對(duì)用于分析的每一個(gè)控制統(tǒng)計(jì)量描點(diǎn)的部分；使用 XbarR控制 圖 的步 驟 A將觀察記入日志的部分。n 如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離中心線很近之處（對(duì)于 25子組，如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限內(nèi)中間的 1/3區(qū)域），則應(yīng)調(diào)查是否存在下列一種或兩種情況：n 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)誤或描錯(cuò)；n 過程或取樣方法被分層，每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或多個(gè)具有完全不同的過程均值的過程流的測(cè)量值（如：從幾組軸中，每組抽一根來測(cè)取數(shù)據(jù)）。如果此過程中心線偏離目標(biāo)值，可能需要針對(duì)目標(biāo)值調(diào)整此過程。對(duì)于雙邊公差， Cpk 將總是小于或者等于 Cp。Ｐ pk是Ｐ PU或者Ｐ PL的最小值，公式如下：3Ｓ3ＳLSLxＰ PLxUSLＰ PU==80雙邊公差的過程測(cè)量指數(shù)如果過程處于統(tǒng)計(jì)受控狀態(tài)，過程能力將非常接近于過程性能。 該指數(shù)對(duì)于單邊公差沒有意義。過程分布（ %的范圍）以外的任何區(qū)域被標(biāo)注為紅色。如果發(fā)現(xiàn)過程分布是非正態(tài)的或能力很高時(shí)，也可以做類似的計(jì)算。 時(shí)間隔 短 則 反 饋 快，但 與大 的子組 容量的要求矛盾 ；n 子 組數(shù) 量 ：n 要大 于 等 于 25組 以上，才能判定其 穩(wěn)定 性。如需要， 還 可以用符合 規(guī)范 的比例 (1p)來 表示。2 σ%177。4 σ%177。使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟121Ｄ步驟 過程能力解釋D 計(jì) 算 和 評(píng)價(jià) 過程 能力 ；D２、改進(jìn)過 程能力 ；D３、繪 制 并 分析修改 后 的控制 圖。使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟110? A 選擇 子 組 的容量、 頻 率及 數(shù) 量n 因控制限是基于近似的正態(tài)分布，故使用的樣本容量應(yīng)該使 np≥5 。規(guī)范以外的區(qū)域被標(biāo)注為紅色。紅綠燈信號(hào)控制圖98? 紅綠燈信號(hào)控制圖中的假設(shè)是：n 過程是統(tǒng)計(jì)受控的；n 過程能力（包括測(cè)量變差）是可接受的；n 過程靠近目標(biāo)值。對(duì)于單邊公差， Cpk 等于 CPU或者 CPL，公式如下：233dRLSLxCPLxUSLCPU===Cpk=Cpk=（ 只有公差上限 ）（ 只有公差下限 ）866LSLUSLＰp=單邊公差的過程測(cè)量指數(shù)Pp:能力指數(shù)。 Ｐ pk 和Ｐ p應(yīng)該總是一起進(jìn)行評(píng)價(jià)和分析。71USL USLLSL LSL雙邊公差的過程測(cè)量指數(shù)6sigma 6sigmaX XM72雙邊公差的過程測(cè)量指數(shù)Cpk：能力指數(shù)。每個(gè)附加準(zhǔn)則的應(yīng)用增加了發(fā)現(xiàn)特殊原因的靈敏度，但也增加了犯第 1類錯(cuò)誤的機(jī)會(huì)。UCLCLLCL異 常異 常如何定義 “不受控 ”信號(hào)45 不受控制的過程的極差（有超過控制限的點(diǎn)）UCLLCLUCLLCL R R受控制的過程的極差46不受控制的過程的均值（有一點(diǎn)超過控制限） 受控制的過程的均值UCLLCL XLCLUCL X47n 控制限內(nèi)的模式或趨勢(shì) —— 鏈 ：n 有下列 現(xiàn) 象之一 都 表明 過 程