【正文】 3 σ%177。過 程已 經(jīng)處 于不 穩(wěn) 定 狀態(tài)， 但 并 未采取相 應(yīng) 的措施 ，導(dǎo)致 不合格品增加 ， 也造成 損 失 。 這 些連續(xù) 的受控的 時(shí) 期 樣本組 的 p值是 該過 程 當(dāng) 前能 力 的更好的估 計(jì) 值。由 于 特殊原因是通 過 控制 圖發(fā)現(xiàn) 的，希望操作者或 現(xiàn)場檢驗(yàn)員 有能力找出特殊 原因 并糾 正。劃圖區(qū)域使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟113? A 將 不合格品率描 繪 在控制 圖 上n 將每個(gè)子組組的不合格品率 p描繪在 控 制圖上；n 依次用直線連接，將這 些 點(diǎn)連 成 線 通常有助 于發(fā)現(xiàn)異 常 圖 形和 趨勢(shì)；n 當(dāng)點(diǎn) 描完 后 ，粗 覽 一遍看看它 們 是否合理，如果任意一 點(diǎn) 比別的高出或低出 許多 ， 檢 查 計(jì) 算是否正 確；n 記錄過 程的 變 化或者可能影 響過 程的 異 常 狀 況， 當(dāng)這 些情 況 被 發(fā)現(xiàn)時(shí) ， 將 它 們記錄 在控制 圖 的 “ 備注” 欄位 。? 預(yù)控制圖的缺點(diǎn)：n 既不能估計(jì)也不能監(jiān)控過程的穩(wěn)定性。然后把兩個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)中的每一個(gè)描在控制圖上并且對(duì)照一組規(guī)則進(jìn)行評(píng)審。紅綠燈信號(hào)控制圖101否執(zhí)行反應(yīng)計(jì)劃是否另外選 3個(gè)樣本否是 全部在 綠色區(qū)？ 有落在紅色區(qū) ?設(shè)置過程正常生產(chǎn)選 2個(gè)零件是有落在紅色區(qū) ?35個(gè)落在黃色區(qū) ?是紅綠燈信號(hào)控制圖102預(yù)控制圖? 預(yù)控制圖的目的是對(duì)不合格的控制而不是過程控制，它的控制是基于公差而不是過程變差。n 如果一個(gè)或兩個(gè)都在紅色區(qū)域，停止過程，通知指定人員采取糾正措施和材料挑選。951 2 3 4 5 6 7 8 9 101 50 47 46 50 46 50 47 48 50 492 50 53 45 48 48 49 49 50 50 513 49 53 49 49 50 52 50 46 49 514 52 45 48 49 54 51 48 49 51 465 51 50 49 52 50 54 52 51 53 48課堂練習(xí)? 假設(shè) 其 規(guī)格為 50177。它同時(shí)考慮了過程的位置和性能。如果產(chǎn)品的特性具有物理極限（例如：平面度不可能小于 0）， Cp就可以用物理極限（ 0）作為下限的替代值來計(jì)算。82? 請(qǐng) 依 照 上 個(gè)課堂練習(xí) 的 數(shù)據(jù) ， 計(jì) 算下列 指數(shù)：n Pp、 Ppk。計(jì)算公式如下：6SLSLUSL=78USL USLLSL LSL雙邊公差的過程測量指數(shù)6sigma 6sigmaX XM79雙邊公差的過程測量指數(shù)Ｐ pk： 性能 指數(shù)。Cpk是 CPU或者 CPL的最小值，公式如下：233dRLSLxCPLxUSLCPU===Cp和 Cpk僅僅當(dāng)過程處于穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)才有效。過程能力與由公差表示的最大可允許的變差進(jìn)行比較。使用 XbarR控制 圖 的步 驟 D65UCL XLCLUCLRLCL子組編號(hào)日期時(shí)間x1x2X3X4X5均值 Xbar極差 R按照延長的控制限描新的點(diǎn)。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會(huì)作為過程的一部分重現(xiàn)。 如何定義 “不受控 ”信號(hào)52UCL XLCLUCL XLCL均值失控的過程（點(diǎn)離過程均值太近）均值失控的過程（點(diǎn)離控制限太近）53? 在進(jìn)行初次過程研究或重新評(píng)定過程能力時(shí)，不受控的特殊原因已被識(shí)別和消除或制度化，然后應(yīng)重新計(jì)算控制限，以排除不受控時(shí)期的影響；? 排除所有受已被識(shí)別和消除或制度化的特殊原因影響的子組，然后重新計(jì)算新的中心線和控制限，并在圖中繪出；? 確保當(dāng)與新的控制限相比時(shí)，兩個(gè)圖都沒有不受控的情況。 因?yàn)樽咏M極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差，因此， 首先應(yīng)分析 R圖。使用 XbarR控制 圖 的步 驟 A34 計(jì)算控制統(tǒng)計(jì)量 從子組的測量數(shù)據(jù)中計(jì)算用于描點(diǎn)的控制統(tǒng)計(jì)量；控制統(tǒng)計(jì)量： 樣本均值、中位數(shù)、極差、標(biāo)準(zhǔn)差 等；使用 XbarR控制 圖 的步 驟 A按照控制圖的類型選擇適當(dāng)?shù)墓接?jì)算控制統(tǒng)計(jì)量。 在外的概率在內(nèi)的概率μ 177。這是一個(gè)很小的概率，根據(jù)概率論 “ 視小概率事件為實(shí)際上不可能事件 ” 的原理，可以判定：出現(xiàn)在μ ?3?區(qū)間外的事件是異常波動(dòng)，它的發(fā)生是由于特殊原因使總體的分布偏離了正常位置。波 動(dòng) 的原因13存在性 方向 影響大小 消除的難易程度普通原因（例：設(shè)備震動(dòng)）始終 或大或小小 難特殊原因（例：車刀磨斷）有時(shí) 偏向 大 易普通原因和特殊原因的區(qū)別14概念形成和批準(zhǔn) 設(shè)計(jì)確認(rèn) 樣件量產(chǎn)策劃產(chǎn)品開發(fā)和設(shè)計(jì)過程開發(fā)和設(shè)計(jì)產(chǎn)品和過程確認(rèn) 策劃生產(chǎn) Production評(píng)估反饋和改善統(tǒng)計(jì)過程控制策劃試產(chǎn)項(xiàng)目批準(zhǔn)初始統(tǒng)計(jì)過程研究如何進(jìn)行統(tǒng)計(jì)過程控制策劃量產(chǎn)過程中，實(shí)施統(tǒng)計(jì)過程控制15如何進(jìn)行統(tǒng)計(jì)過程控制策劃 在新產(chǎn)品策劃過程中， APQP小組根據(jù)試生產(chǎn)控制計(jì)劃制定《初始過程能力研究計(jì)劃》。 消除波動(dòng)不是統(tǒng)計(jì)過程控制的目的，但通過統(tǒng)計(jì)過程控制可以對(duì)過程的波動(dòng)進(jìn)行 預(yù)測和控制 。有時(shí)被稱為可查明原因，它存在的信號(hào)是：存在超過控制限的點(diǎn)或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機(jī)性的圖形。如果數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)為偶數(shù)，將中間兩個(gè)數(shù)的平均值作為中位數(shù)。統(tǒng)計(jì)過程控制 的 起源4制造過程原 輔 料人 機(jī) 法 環(huán) 測量測量結(jié)果合格不 合格測量不要等 產(chǎn) 品 制造 出 來后 再去 檢驗(yàn)合格與否， 而是在 制 造的時(shí)候就要 制 造 出合格產(chǎn)品。應(yīng)用統(tǒng)計(jì)過程控制的方法實(shí)現(xiàn)預(yù)防不合格的原則。單值（Individual）一個(gè)單個(gè)的單位產(chǎn)品或一個(gè)特性的 一次測量 ，通常用符號(hào) X 表示。SPC常用術(shù)語解釋8名稱 解 釋 普通原因（ Common Cause）造成變差的一個(gè)原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機(jī)過程變差的一部分。波動(dòng)（變差）的概念12波 動(dòng) 原因人員機(jī)器材料測量環(huán)境方法? 正常波動(dòng) ：是由 普通 原因 造成的。批量生產(chǎn)過程中，責(zé)任部門根據(jù)批量生產(chǎn)控制計(jì)劃實(shí)施統(tǒng)計(jì)過程控制。? 根據(jù)這一原理，將控制限的寬度設(shè)定為 ?3?。 kσ控制 圖 的 設(shè)計(jì)22逆時(shí)針旋轉(zhuǎn) 90176。35均值的 計(jì) 算：極 差的 計(jì) 算：如何計(jì) 算 Ｘ bar－Ｒ控制圖每 個(gè) 子 組 的 控制統(tǒng)計(jì)量 ?nn21 x…xxX +++=minmax xxR =36 將控制統(tǒng)計(jì)量畫到控制圖上將 控制統(tǒng)計(jì)量 畫在圖上，確保所描的控制統(tǒng)計(jì)量的點(diǎn)是一一對(duì)應(yīng)的；將相鄰點(diǎn)用直線連接從而顯示模式和趨勢(shì)；使用 XbarR控制 圖 的步 驟 A進(jìn)行評(píng)估以識(shí)別出潛在的問題；如果有的點(diǎn)比別的點(diǎn)高很多或低很多，需要確認(rèn)計(jì)算及描圖是否正確并查詢?nèi)魏蜗嚓P(guān)的觀察記錄。44? 超出控制界限的 點(diǎn) ：? 出 現(xiàn) 一 個(gè) 或 更 多 點(diǎn) 超出任何一 個(gè) 控制界限是 那一點(diǎn)的特殊原因?qū)е伦儾畹?主要 證據(jù)。如果不是，則重復(fù) 識(shí)別特殊原因 /糾正 /重新計(jì)算 的過程。重新計(jì)算控制限55使用 XbarR控制 圖 的步 驟 C案例練習(xí)：　判定過程是否存在特殊原因，如存在排除已知特殊原因影響的子組后，重新計(jì)算新的控制限并畫出新的控制圖，再次判定過程是否受控？56典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則的匯總1 一個(gè)點(diǎn)遠(yuǎn)離中心線超過 3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差2 連續(xù) 7點(diǎn)位于中心線一側(cè)3 連續(xù) 6點(diǎn)上升或下降4 連續(xù) 14點(diǎn)交替上下變化5 2/3的點(diǎn)距中心線的距離超過 2個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差（同一側(cè)）6 4/5的點(diǎn)距中心線的距離超過 1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差（同一側(cè)）7 連續(xù) 15個(gè)點(diǎn)排列在中心線 1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差范圍內(nèi)（任一側(cè)）8 連續(xù) 8個(gè)點(diǎn)距中心線的距離大于 1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差（任一側(cè)）57典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則應(yīng)用注意事項(xiàng)：1 除了第一條準(zhǔn)則，其他與準(zhǔn)則相聯(lián)系的數(shù)字不并不代表使用的順序和優(yōu)先級(jí)，確定使用哪一條附加的準(zhǔn)則取決于特定的過程特性，和在過程內(nèi)起顯著作用的特殊原因。66 有關(guān) “控制 ”的最終概念 在生產(chǎn)過程中，控制的完美狀態(tài)是從來達(dá)不到的，過程控制的目標(biāo)不是完美狀態(tài)，而是使控制達(dá)到合理和經(jīng)濟(jì)的狀態(tài)，因此為了使用的目的，受控的過程并不是在圖上永遠(yuǎn)不失控。該指數(shù)反映了過程是否能夠很好地滿足變化要求。73X為過程平均值；M為公差中心值；K= x M（ USLLSL） / 2過程偏移系數(shù)K7410 14 1812 16CPKCPUCPLCpμ10 14 1812 1610 14 1812 16CPKCPUCPLCpμCPKCPUCPLCpμ指 數(shù) 差 異說明75? 請(qǐng) 依 照 上 個(gè)課堂練習(xí) 的 數(shù)據(jù) ， 計(jì) 算下列 指數(shù)：n Cp 、 Cpk、 K。它考慮了過程的位置和性