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spc統(tǒng)計過程控制講義-免費閱讀

2025-05-10 12:18 上一頁面

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【正文】 經(jīng)Cp′的計算避免了公司的巨大經(jīng)濟損失。K*可以通過K*數(shù)值表查到。 因此,當(dāng)規(guī)定了θ值后,對不同的Cp值可查出相應(yīng)的K*。 經(jīng)過分析研究知道:在任何情況下Cpk都是小于Cp′的; Cp越小,Cp′與Cpk的差別越大;Cp越大,Cp′與Cpk的差別越小。偏移帶來的質(zhì)量水平下降是很大的,(這種偏移不算很大)時,若Cp=1,p=%,當(dāng)ε=可見,當(dāng)發(fā)生ε=,過程能力指數(shù)下降不大,當(dāng)質(zhì)量水平(不合格品率)下降了幾乎一倍。不過偏移應(yīng)盡量小。l 配線逼近法 配線逼近法計算的假設(shè)以樣本直方圖中最高的一塊的橫坐標(biāo)中心為該樣本的“樣本眾數(shù)” 當(dāng)時為正態(tài)分布Ⅰ()當(dāng)時為正態(tài)分布Ⅱ()若抽取樣本估計總體時,首先取樣本眾數(shù),它與樣本均值的距離為e。 、σ,也不能對不同的181。=0時, σ=1的正態(tài)分布稱為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布。它是密度曲線的拐點橫坐標(biāo)到181。和σ是正態(tài)分布的兩個參數(shù),當(dāng)181。 由密度函數(shù)與分布函數(shù)的關(guān)系,正態(tài)隨機變量的分布函數(shù)為: 此時ξ在[a,b]內(nèi)取值的概率為:l 正態(tài)分布密度曲線的特征下圖是正態(tài)分布的密度函數(shù)和分布函數(shù)曲線l 正態(tài)分布密度曲線的特征:(1)服從正態(tài)分布的隨機變量,取值區(qū)域是整個X軸。 P(ε0)= P(ε0)(2)ε取值有對稱性。l 過程能力指數(shù)Cp(Capability of process)T—規(guī)格界限 (過程目標(biāo))B(6 σ)—過程能力 Cp標(biāo)志著過程結(jié)果(B)對過程目標(biāo)(T)的滿足程度。如果要求的過程能力指數(shù)為Cp,若成立,說明過程已經(jīng)處于正常,可以將分析用控制圖作為生產(chǎn)過程控制用控制圖。AUCLCLLCLBCCLCBLCLAUCL 建立用于過程控制的穩(wěn)定而正常的控制圖l 圖、R圖與μ、σ的關(guān)系經(jīng)常有人提出這樣的問題:為什么控制圖總是圖與R圖聯(lián)合使用?判斷過程是否受控制時又是同時看兩個控制圖?因為R圖僅與標(biāo)準(zhǔn)差σ有關(guān);圖既與均值μ有關(guān),也與標(biāo)準(zhǔn)差σ有關(guān),但主要是與均值μ有關(guān)。(2)小概率事件不是不可能事件,所以發(fā)生概率不等于零。l 點子跳出了界限(在界限上的點子按跳界處理);l 點子雖未跳出控制界限,但排列有缺陷。l 先計算平均缺陷數(shù)C圖控制界限的計算公式 控制界限: l C圖實際練習(xí)用鋼板加工零件時,因使用切割設(shè)備使零件上產(chǎn)生裂縫,這些可以透過目視檢查。l P圖的繪制方法實例練習(xí)某工廠檢驗以往所生產(chǎn)的20批得到一組結(jié)果,將結(jié)果繪制P控制圖并分析 不合格品數(shù)控制圖(np圖、d圖)通過對過程中不合格品數(shù)的控制實現(xiàn)過程的控制。l 單值—移動差控制圖(XMR)的控制界限的計算公式單值控制圖 移動差控制圖 CL= CL= UCL=+E2 UCL=D4 LCL=E2 LCL=D3 其中: 由于單值移動差是相鄰兩個單值差的絕對值,此時樣本容量n=2,所以控制圖系數(shù)E2 =、D 4=、D3 =0,則上述公式可化簡為: 單值控制圖 移動差控制圖 CL= CL= UCL=+ UCL= LCL= LCL=05. 計數(shù)型控制圖計數(shù)型控制圖分為計件式(P圖、d圖)和計點式(C圖、u圖)。l 中位數(shù)控制圖樣本數(shù)據(jù)打點方法每抽到一個樣本,比如5個數(shù)據(jù),則將五個數(shù)據(jù)均以“o”的符號記在控制圖上,同時將中位數(shù)以“?”打點。具有數(shù)理統(tǒng)計功能的計算器上,一般標(biāo)有 STAT ,并用黑線將,S, n,ΣX, ΣX2,σ框起來。l 規(guī)格和控制界限的分析必須從概念上牢牢掌握:規(guī)格界限——用戶(顧客)或設(shè)計部門給出。(2)如果控制界限比產(chǎn)品規(guī)格界限窄,但控制中心線離規(guī)格中心偏離一定距離,使得控制限的上限或下限超出規(guī)格界限,則應(yīng)將過程的平均值進行調(diào)整,使分布中心與規(guī)格中心靠近。需注意當(dāng)n≤6時,D3為負(fù)值,由于R為非負(fù)值,所以取LCL=0。(5) 計算各組樣本的統(tǒng)計量(均值、標(biāo)準(zhǔn)差、極差等)(6) 計算控制界限值(7) 繪制統(tǒng)計圖,計算各組的統(tǒng)計量(8) 分析樣本點的排列形狀,判斷過程是否受控l 控制圖的繪制繪制控制圖,在計算控制上下限,中心線時,往往用到各種與樣本容量n有關(guān)的系數(shù),下面表中列出n=210的各個系數(shù)。 控制圖的術(shù)語與繪制應(yīng)用的程序l 控制圖的術(shù)語(系統(tǒng)原因):引起的變異微小,在經(jīng)濟上不需剔除部分。缺點是不易發(fā)現(xiàn)工序分布中心的變化。l 計數(shù)值控制圖繪制控制圖所需數(shù)據(jù)為計數(shù)單位,如不良品數(shù)、合格與不合格品數(shù)、表面疵點數(shù)、表面劃傷數(shù)等。 。,其概率分布如下圖。 應(yīng)了解的幾個基本概念l 平均值(或μ):n個樣本測定值X1,X2,……,Xn的平均值記為;群體的平均值記為μ。 直方圖練習(xí) 某公司對生產(chǎn)的電線直徑進行抽驗,以下是100個數(shù)據(jù),用直方圖進行分析。 直方圖的功用l 測知工序的過程能力,是過程能力的最好最直觀的寫照; 直方圖中心愈接近規(guī)格中心,表示過程愈集中。上限xian限下限xian限中心值(3)中心偏右的直方圖上限下限中心值直方圖偏向規(guī)格的上限,并伸展至規(guī)格上限右側(cè)。8g,今抽驗50罐數(shù)據(jù)如下:308317306314308315306302311307305310309305304310316307303318309312307305317312315305316309313307317315320311308310311314304311309309310309312316312318l 計算 (1) 確定基本內(nèi)容:N=50(2) 組數(shù):K=7(參考經(jīng)驗數(shù)值)(3) 最大值L=320 最小值S=302 全距 R=320302=18(4) 計算組距H H=R/K 即 18247。l 直方圖 以數(shù)據(jù)的測量值為橫軸,以各區(qū)間的測量值為底邊,以該區(qū)間數(shù)據(jù)出現(xiàn)的次數(shù)為高度作出直方柱,這些直方柱組成的圖形稱為直方圖。l 群體: 單位產(chǎn)品的總合,又稱總體。(8)過程改善的標(biāo)準(zhǔn)化。(2)特殊性(偶然性)原因引起的變異。l 日本產(chǎn)品質(zhì)量的崛起 日本貨在3040年代就是“劣等貨”的代名詞,在戰(zhàn)后開始從美國引進了質(zhì)量管理的理論和實戰(zhàn)。 1940 二次世界大戰(zhàn)期間,美國軍工產(chǎn)品使用抽樣方案和控制圖以保證軍工產(chǎn)品的質(zhì)量。(5) 最重要的是忽略了大部分質(zhì)量問題來自高層人員(決策層、管理層)的管理和技術(shù)。 傳統(tǒng)的生產(chǎn)模型檢驗用戶過程輸入報廢返工這個模型反映出了傳統(tǒng)的生產(chǎn)模式,特征是控制結(jié)果。本講義僅介紹并討論八個方面的內(nèi)容:一、在前言中概要介紹有關(guān)SPC的基本內(nèi)容;二、數(shù)據(jù)的收集、整理與分析;三、控制圖的基本概念;四、五、六、七介紹計量值控制圖、計量值控制圖、控制圖的分析與判斷,并介紹過程能力分析;八、專門探討Cpk的近似精度,應(yīng)用范圍,當(dāng)量過程能力指數(shù)Cpk的概念與使用。統(tǒng)計過程控制講義目 錄一、前言二、數(shù)據(jù)的收集、整理與分析三、控制圖的基本概念四、計量值控制圖五、計數(shù)值控制圖六、控制圖的分析與判斷七、過程能力分析八、關(guān)于Cpk值的計算與分析企業(yè)無不是以盈利為目的的,因此產(chǎn)品質(zhì)量是企業(yè)的生命。 檢驗、控制與預(yù)防 社會化大生產(chǎn)產(chǎn)生之前,基本上處于手工業(yè)生產(chǎn),手工業(yè)生產(chǎn)不可能出現(xiàn)管理。l 檢驗的基本要求:(1) 檢驗要由專職人員組成的檢驗部門進行,專職人員必須訓(xùn)練有素;(2) 要有相關(guān)的檢驗作業(yè)指導(dǎo)書;(3) 要有判定標(biāo)準(zhǔn);(4) 要有保留一定期限的檢驗記錄。l 預(yù)防的概念 事物不是一成不變的,生產(chǎn)過程中各種條件都在不斷地變化,這就會導(dǎo)致產(chǎn)品質(zhì)量不斷的波動。 1950 質(zhì)量管理大師戴明博士在日本工業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)過程中全面推推行SPC。46年 創(chuàng)建了日本科學(xué)技術(shù)聯(lián)盟(JUSE);49年 組成質(zhì)量管理小組并開始制定工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JIS;50年 聘請美國質(zhì)量管理專家戴明()博士到日本講學(xué)八天,內(nèi)容包括SPC和抽樣檢驗法;5154年 重點開展SPC;5560年 普及SPC,從56年利用電臺、電視向中小企業(yè)領(lǐng)導(dǎo)和班組長進行普及SPC教育;6170年 電子計算機應(yīng)用于SPC,大學(xué)中設(shè)置了質(zhì)量管理課程,專門培養(yǎng)質(zhì)量管理人才;62年 開展QC小組活動應(yīng)該說日本引入了美國的質(zhì)量管理又加上了自己的觀念,更豐富了QC內(nèi)容,60年代后日本成為僅次于美國的第二經(jīng)濟大國。屬于可以避免的,也必須避免的變異,如不同批原料之間的差異、未經(jīng)培訓(xùn)的不熟練的操作人員、設(shè)備的故障等。l 統(tǒng)計過程控制使用的工具1. 控制圖:為主要使用工具,特別適用于大批量生產(chǎn)過程。l 樣本: 自群體中選取一部分個體所構(gòu)成的集合體。l 直方圖作圖方法:(1) 收集數(shù)據(jù),要求至少要收集50個以上數(shù)據(jù),記為N。7= 取H為3(為測定值最小單位的整數(shù)倍) (5) 第一組下限值為302,上限值為第一組下限值+組距320+3=305(6) 各組中心值=(上組界+下組界)/2l 作次數(shù)分配表(與下組界相同數(shù)據(jù)計入本組)組號組 界中心值標(biāo)記F(次數(shù))1302305正42305308正正103308311正正正134311314正正95314317正正86317320正57320313—1l 作直方圖 直方圖形態(tài)分析l 外觀形態(tài)分析 正常狀態(tài)直方圖(理想型) 偏峰狀直方圖有兩種情況: 數(shù)據(jù)本身就遵從這種分布,如百分率; 加工習(xí)慣造成,如車外園易貼近上差。表示已產(chǎn)生部分超出規(guī)格上限要求的不良品。分布在規(guī)格界限內(nèi),表示過程差異小或變異小。請練習(xí)做以下計算 N=100 K=7 最大值L= 最小值S= 全距R= 組距H= 組界: 第一組下組界= 第一組上組界= 余下各組界 計算各組中心值分別為: 作次數(shù)分配表:組號組界中心值標(biāo)記次數(shù)作直方圖 繪制直方圖的注意事項l 直方圖的原理是基于“正態(tài)分布”,特別適用于計量值;l 使用直方圖計算平均值和標(biāo)準(zhǔn)差S時,應(yīng)剔除差距太大的數(shù)據(jù);l 確定組界時,出現(xiàn)組界值與測量值一致時,可以按照同一方向歸類。l 中位數(shù) :n個樣本測定值X1,X2,……,Xn,n為奇數(shù)時,將n個測定值從大到小排列,最中間
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