【正文】 3 C 834 過程控制解釋（同 P管制圖） 835 過程能力解釋 固定樣本容量為 n 的過程能力為其不合格數(shù)的平均值 c. 84 單位不合格（缺陷）數(shù)的 u圖 841 使用的時(shí)機(jī) u圖用來測量具有不同的樣本（受檢材料的量不同）的子組 內(nèi)每檢驗(yàn)單位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量（可以用 不良率 表示） . 842 數(shù)據(jù)的收集 8421 各子組樣本容量彼此不必都相同，盡量使它的容量在其平 均值的正負(fù)擔(dān)過重 25%以內(nèi)，可以簡化控制限的計(jì)算 . 8422 記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的單位產(chǎn)品不合格數(shù)（ u） u=c / n 式中 : C為發(fā)現(xiàn)的不合格數(shù)量， n為子組中樣本的容量。 822 數(shù)據(jù)的收集（基本和 p 圖相同） 8221 受檢驗(yàn)的樣本的容量必須相同，樣本容量足夠大使每個(gè)子組 內(nèi)都有幾個(gè)不良品并在。 81313 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢；周期性；子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有 規(guī)律的關(guān)系等 。 ） 813 過程控制用控制圖解釋： 8131 分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定的證據(jù)（一個(gè)受控的 P管制圖 中，落在均值兩側(cè)的點(diǎn)的數(shù)量將幾乎相等） 。 在實(shí)際運(yùn)用中 ， 當(dāng)各組容量不超過其平均容量 25%時(shí) ， 可用平均樣本容量 n 代替 n 來計(jì)算控制限 UCL； LCL。 分組頻率： 根據(jù)實(shí)際情況，兼大容量和信息反饋快的要求。 b 單值的最大值與最小值之差的 2倍 。 12 53 描點(diǎn) 13 操作者將每個(gè)單值的點(diǎn)標(biāo)在中位數(shù)圖上。 7 c 刻度應(yīng)與量具一致。 n – 1 式中： Xi， X； N 分別代表單值、均值和樣本容量。 b 應(yīng)及時(shí)分析問題，例如：出現(xiàn)一個(gè)超出控制限的點(diǎn)就立即開 始分析過程原因。 a1 過程均值已改變 a2 測量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標(biāo)注這些使人們作出決定的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線延伸到 鏈的開始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時(shí)間。 b 由于出現(xiàn)特殊原因而從 R 圖中去掉的子組，也應(yīng)從 X圖中去掉。 c2 過程或取樣方法被分層，每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或多 個(gè)具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（如：從幾組 軸中，每組抽一根來測取數(shù)據(jù)）。 a2 測量系統(tǒng)的改變 （ 如新的檢驗(yàn)人或新的量具 )。 ? 各控制限畫成虛線。 注： 對(duì)于還沒有計(jì)算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 接上頁 113 子組數(shù)： 子組越多，變差越有機(jī)會(huì)出現(xiàn)。 b 確保檢測設(shè)備或量具本身的準(zhǔn)確性和精密性 。 ? 觀察控制圖的數(shù)據(jù)位置，可以了解過程情況有無改變。 過程控制 ? 目標(biāo)：對(duì)影響過程的措施做出合理經(jīng)濟(jì)的決定 ? 過程在統(tǒng)計(jì)控制下運(yùn)行（過程受控）：僅存在造成變差的特殊原因 ? 過程控制的作用：當(dāng)出現(xiàn)變差的特殊原因時(shí)報(bào)警；反之，不報(bào)警 過程控制 受控 （消除了特殊原因） 時(shí)間 范圍 不受控 （存在特殊原因） 過程能力 ? 過程能力是指過程處于受控狀態(tài)下（不存在變差的特殊原因）的實(shí)際加工能力 – 一個(gè)穩(wěn)定過程的固有變差的總范圍 ? 過程能力是由造成變差的普通原因造成 ? 工序能力高時(shí)：產(chǎn)品品質(zhì)出現(xiàn)異常的幾率越小 ? 工序能力低時(shí)：產(chǎn)品品質(zhì)出現(xiàn)異常的幾率越大 過程能力 受控且有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差已減少） 規(guī)范下限 規(guī)范上限 時(shí)間 范圍 受控但沒有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差太大） 過程改進(jìn)循環(huán) 分析過程 維護(hù)過程 本過程應(yīng)做什么？ 監(jiān)控過程性能 會(huì)出現(xiàn)什么錯(cuò)誤？ 查找變差的特殊原因并 本過程正在做什么？ 采取措施。 SPC技術(shù)原理 SPC的概念 ? 使用諸如控制圖等統(tǒng)計(jì)技術(shù)來分析過程或其輸出以便采取適當(dāng)?shù)拇胧﹣磉_(dá)到并保持統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)從而提高過程能力。它對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量影響很大，但能夠采取措施避免和消除。 如何做？（方法 /程序 /技術(shù)） 按程序（不合格品控制）； 不合格品評(píng)審； 返工 /返修指導(dǎo)書； SPC圖； 分隔 /追溯性； 標(biāo)準(zhǔn)樣品。 誰進(jìn)行？（能力 /技能 /培訓(xùn)） 有資格檢驗(yàn)員、操作員； 質(zhì)量負(fù)責(zé)人（領(lǐng)班）； 培訓(xùn)授權(quán)。正常波動(dòng)是偶然性原因（不可避免因素）造成的。由于過程波動(dòng)具有統(tǒng)計(jì)規(guī)律性，當(dāng)過程受控時(shí)，過程特性一般服從穩(wěn)定的隨機(jī)分布；而失控時(shí)，過程分布將發(fā)生改變。 預(yù)測 時(shí)間 范圍 目標(biāo)值線 如果存在變差的特殊 原因，隨著時(shí)間的推 預(yù)測 移，過程的輸出不 穩(wěn)定。 ? 根據(jù)小概率事件可以“忽略”的原則：如果出現(xiàn)超出 μ177。 計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖 與過程有關(guān)的控制圖 計(jì)量單位：（ mm, kg等） 過程 人員 方法 材料 環(huán)境 設(shè)備 1 2 3 4 5 6 結(jié)果舉例 控制圖舉例 螺絲的外徑（ mm） 從基準(zhǔn)面到孔的距離（ mm） 電阻（ Ω） 錫爐溫度（ 186。（ 注： 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產(chǎn)出來的零件，即一個(gè)單一的生產(chǎn)流。 注： 一個(gè)有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的 2倍。其系數(shù)值 見下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對(duì)于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值。 9 注 2： 因?yàn)樽咏M極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差， 10 因此，首先應(yīng)分析 R圖。 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的過程的極差 （存在高于和低于極差均值的兩種鏈） 不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈） 313 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè)控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。 32 識(shí)別并標(biāo)注所有特殊原因（極差圖） a 對(duì)于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個(gè)特殊原因進(jìn)行標(biāo)注，作一個(gè)過程操作 分析，從而確定該原因并改進(jìn)，防止再發(fā)生。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會(huì)作為過程的一部分重現(xiàn)。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè)不 同的過程流的測量值（這可能是由于對(duì)可調(diào)整的過程進(jìn)行 過度 控制造成的，這里過程改變是對(duì)過程數(shù)據(jù)中隨機(jī)波 動(dòng)的響應(yīng)）。 總結(jié)：過程異常判斷準(zhǔn)則 ? 出現(xiàn)超出控制線的點(diǎn) ? 存在鏈（ Run)： – 連續(xù)七個(gè)點(diǎn)全在控制限之上或之下， – 連續(xù)七個(gè)點(diǎn)上升（后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn)）或下降 ? 任何其他明顯非隨機(jī)的圖形，例如： – 顯著多于 2/3以上的點(diǎn)落在均值很近之處（ 25組有超過 90%的點(diǎn)落在控制限 1/3區(qū)域） – 顯著少于 2/3以上的點(diǎn)落在均值很近之處（ 25組有等于或少于 40%的點(diǎn)落在控制限 1/3區(qū)域） 以下控制圖理論為選學(xué)內(nèi)容 根據(jù)時(shí)間確定 均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（ Xs圖） 一般來講 ， 當(dāng)出現(xiàn)下列一種或多種情況時(shí)用 S圖代替 R圖：