【正文】 且對(duì)連續(xù)生產(chǎn)的生產(chǎn)線而言，能夠每隔一段時(shí)間（例如 2小時(shí)）就能取得樣本數(shù)據(jù)，免除傳統(tǒng)管制圖所遇到的困擾。因此缺點(diǎn)數(shù)目可表示其 品質(zhì)，在這種情形下，可使用缺點(diǎn)數(shù)管制圖來(lái)管制產(chǎn)品品質(zhì)。 UCL = LCL = CL = pp + 3 inpp )1( ? p 3 inpp )1( ?World Class Quality CONFIDENTIAL 72 Unimicron 計(jì)數(shù)值管制圖作業(yè)步驟 2) 建立管制用管制圖 當(dāng)確定正常的不良率管控界限之後，便可以固定管制界限開(kāi)始管制製程的不良率。 ? 中心線與管制界限的計(jì)算： 平均值管制圖的中心線與上下管制界限： _ _ UCL = X + A3S LCL = X – A3S _ _ CL = X _ World Class Quality CONFIDENTIAL 64 Unimicron 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖的使用 標(biāo)準(zhǔn)差管制圖的中心線與上下管制界限： _ UCL = B4S LCL = B3S _ CL = S _ World Class Quality CONFIDENTIAL 65 Unimicron 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖的使用 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖 ? 適用情況： ，且每一件產(chǎn)品皆檢測(cè) ，一次只能蒐集到一個(gè)數(shù)據(jù) ，如藥液濃度 ，其過(guò)程相當(dāng)費(fèi)時(shí)或繁瑣 ，測(cè)詴成本相當(dāng)高 World Class Quality CONFIDENTIAL 66 Unimicron 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖的使用 ? 中心線與管制界限的計(jì)算： 個(gè)別值管制圖的中心線與上下管制界限： ___ _ UCL = X + E2Rm LCL = X – E2Rm _ ___ CL = X _ 移動(dòng)全距管制圖的中心線與上下管制界限： ___ UCL = D4Rm LCL = D3Rm ___ CL = Rm ___ World Class Quality CONFIDENTIAL 67 Unimicron 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖的使用 ? 移動(dòng)全距的計(jì)算： 移動(dòng)全距的定義： Rmi = |Xi – Xi1| (i = 2,3,4,…k) 以相鄰兩個(gè)個(gè)別值計(jì)算時(shí)，在查係數(shù)表時(shí)樣本大小 n 設(shè)為 2 n 也可設(shè)為 2以上，這時(shí)候每個(gè) Rm的值將會(huì)改變，其計(jì)算方式表列如下 (每一組最大值與最小值的距離 )： X 43 50 49 45 51 42 47 40 44 412 7 1 4 6 9 5 7 4 3n 3 7 5 6 9 9 7 7 44 7 6 9 9 11 7 7World Class Quality CONFIDENTIAL 68 Unimicron 計(jì)數(shù)值管制圖 (Attribute Control Chart) World Class Quality CONFIDENTIAL 69 Unimicron 計(jì)數(shù)值管制圖的種類(lèi) ? 計(jì)數(shù)值管制圖依偵測(cè)目的不同可分為： 1) 不良率管制圖 (p Chart) 2) 不良數(shù)管制圖 (np Chart) 3) 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (c Chart) 4) 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (u Chart) 註：計(jì)量值管制圖則有兩個(gè)圖，而計(jì)數(shù)值管制圖皆祇有一個(gè)圖。以面銅厚度的例子而言，即是 Paneltopanel均勻性不好。 4) 任何連續(xù)多點(diǎn)不可形成向上或向下的「趨勢(shì)」 (Trend)。如果目前情況下，由於技術(shù)或經(jīng)濟(jì)之限制無(wú)法改善製程能力，則應(yīng)檢討規(guī)格界限是否可以放寬，以獲得較經(jīng)濟(jì)之生產(chǎn)，如無(wú)法改善製程能力又無(wú)法改變規(guī)格時(shí)，則應(yīng)行全數(shù)檢查 (選剔 )。 雖有點(diǎn)超出管制界限，但原因不明，或已查明原因，而無(wú)法消除時(shí)，這些點(diǎn)將無(wú)頇除去。 d. 蒐集並分析樣本組數(shù)據(jù) – 將分組的數(shù)據(jù)輸入系統(tǒng)，累積20~30組數(shù)據(jù)。管制圖同時(shí)可展示時(shí)間順序的資料。 World Class Quality CONFIDENTIAL 36 Unimicron 管制圖簡(jiǎn)介 1924年休哈特 ()提出了管制圖 (Control Chart)的概念與方法。假設(shè)其製程規(guī)格為 ? 製程平均值 ? = 製程標(biāo)準(zhǔn)差 ? = R/d2 = _ ^ ^ Cp = (USLLSL) / 6? ^ = / (6*) = Ca = (? m)/[(USLLSL)/2] = () /() = ^ Cpk = (1 |Ca|) x Cp = ()* = Ppk = ? World Class Quality CONFIDENTIAL 31 Unimicron 統(tǒng)計(jì)製程管制基本概念 (Basic SPC Concept) World Class Quality CONFIDENTIAL 32 Unimicron 何謂統(tǒng)計(jì)製程管制 統(tǒng)計(jì)製程管制 (Statistical Process Control, 簡(jiǎn)稱 SPC)，是利用抽樣所得之樣本資料 (樣本統(tǒng)計(jì)量 )來(lái)監(jiān)視製程之狀態(tài)，統(tǒng)計(jì)製程管制為 預(yù)防性 之品質(zhì)管制手段，其主要目的在儘快偵測(cè)出 可歸屬原因之發(fā)生 或 製程之跳動(dòng) (偏移 )，以便在製造出更多不合格品之前，就能發(fā)現(xiàn)製程之變異並進(jìn)行改善工作： 第一時(shí)間就做對(duì) (Do it right the first time) World Class Quality CONFIDENTIAL 33 Unimicron 為什麼要採(cǎi)用統(tǒng)計(jì)製程管制 在任何的生產(chǎn)程序中，不管如何設(shè)計(jì)或維護(hù)，產(chǎn)品的一些固有的或自然之變異將永遠(yuǎn)存在。其公式和製程能力指標(biāo)的計(jì)算方法一樣，唯一的差別在於標(biāo)準(zhǔn)差的估計(jì)方式 。當(dāng)製程之中心值與規(guī)格之中心值有偏移時(shí)，製程能力就必頇減掉修正值 Ca (即製程準(zhǔn)確度，見(jiàn)下頁(yè) )。 World Class Quality CONFIDENTIAL 17 Unimicron 樣本數(shù)與樣本大小 樣本 (組 )數(shù)與樣本大小是不一樣的 樣本 (組 )數(shù) (Number of Samples) 指的是蒐集到的樣本組數(shù)，通常以英文字母 k 表示。 World Class Quality CONFIDENTIAL 13 Unimicron 樣本數(shù)據(jù)的蒐集 電鍍製程的樣本數(shù)據(jù)： 假設(shè)在電鍍製程之後，以厚度量測(cè)儀進(jìn)行銅厚測(cè)量。? 範(fàn)圍內(nèi) % 的數(shù)據(jù)在 ?177。 World Class Quality CONFIDENTIAL 7 Unimicron 數(shù)據(jù)的離散趨勢(shì)指標(biāo) 離散趨勢(shì)指標(biāo) (Dispersion) 統(tǒng)計(jì)學(xué)上常用的離散趨勢(shì)指標(biāo)有 全距 (Range)與 標(biāo)準(zhǔn)差 (Standard Deviation)。World Class Quality CONFIDENTIAL 1 Unimicron Statistical Process Control 統(tǒng)計(jì)製程管制 欣興電子 品質(zhì)經(jīng)營(yíng)處 World Class Quality CONFIDENTIAL 2 Unimicron 課程大綱 ? 數(shù)據(jù)的蒐集與統(tǒng)計(jì)基本概念 ? 製程能力 (Process Capability)分析 ? 計(jì)量值管制圖 (Variable Control Chart) ? 計(jì)數(shù)值管制圖 (Attribute Control Chart) ? ShortRun管制圖 World Class Quality CONFIDENTIAL 3 Unimicron 製程數(shù)據(jù)蒐集與基本統(tǒng)計(jì)觀念 (Data Collection and Basic Statistics) World Class Quality CONFIDENTIAL 4 Unimicron 製程數(shù)據(jù)蒐集 ? 製程數(shù)據(jù)蒐集的目的是為了監(jiān)測(cè) 1. 產(chǎn)品品質(zhì)特性是否達(dá)到客戶的要求 2. 製程是否穩(wěn)定 ? 製程數(shù)據(jù)可分成兩種型態(tài)： 計(jì)量值 數(shù)據(jù)與 計(jì)數(shù)值 數(shù)據(jù) 簡(jiǎn)單的說(shuō)，計(jì)量值數(shù)據(jù)是 量 出來(lái)的，如銅厚、線距、線寬 … 等；而計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)是 數(shù) 出來(lái)的，如針孔凹陷數(shù)、導(dǎo)線斷路數(shù) … .等。全距的算法是將數(shù)據(jù)中的最大值減去最小值。2? 範(fàn)圍內(nèi) % 的數(shù)據(jù)在 ?177。抽樣的方式是每批取五片，然後在每一片的中央位置量測(cè)面銅厚度。 n = 5 樣本大小 而樣本大小 (Sample Size) 指的是每一組樣本有多少個(gè)數(shù)據(jù)，通常以英文字母 n 表示。 ? Cp的等級(jí)判定： Cp值越大，表示製程精密度越好。 Ppk指標(biāo)的標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì) 不同於 Cpk指標(biāo)， Ppk指標(biāo)的標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)是直接使用所有的樣本數(shù)據(jù) (不分組 )計(jì)算出樣本標(biāo)準(zhǔn)差來(lái)估計(jì)母體標(biāo)準(zhǔn)差： 1)( 2???nxxniiS = ? = ^ World Class Quality CONFIDENTIAL 29 Unimicron 製程績(jī)效指標(biāo) ? 製程績(jī)效 (Process Performance)指標(biāo)主要目的在評(píng)估 樣本生產(chǎn)或是 量產(chǎn)初期 的製程表現(xiàn)。這些變異是由一些小量不可控制原因累積而成，例如：同種原料內(nèi)的變化、機(jī)器的振動(dòng)所引起的變化等，當(dāng)這些變異之量極小時(shí)，製程仍可被接受。管制圖是一種關(guān)於品質(zhì)的圖解記錄，操作人員利用所收集的資料計(jì)算出兩個(gè)管制界限 (上限及下限 )，且畫(huà)出這兩個(gè)管制界限，在產(chǎn)