【正文】 可以有效地估計(jì)出母體的標(biāo)準(zhǔn)差。 Cpk指標(biāo) 的計(jì)算 Cpk = (1 |Ca|) x Cp (當(dāng) Ca = 0 或無(wú)法計(jì)算時(shí)， Cpk = Cp) 另一種直接的計(jì)算方法是： Cpl = (?LSL)/3? ^ ^ Cpu = (USL?)/3? ^ ^ Cpk = min { Cpl , Cpu } World Class Quality CONFIDENTIAL 27 Unimicron 製程能力綜合指標(biāo) Cpk 等級(jí) C p k 值 A+ 7 ≦ C p k A 3 ≦ C p k B 0 ≦ C p k C 7 ≦ C p k 0 D C p k ? Cpk的等級(jí)判定： Cpk值越大，表示製程精密度越好。 World Class Quality CONFIDENTIAL 35 Unimicron 何謂統(tǒng)計(jì)製程管制 我們?yōu)楹我獙W(xué)統(tǒng)計(jì)製程管制？ 品質(zhì)並不是某一個(gè)人或是某一部門(mén)的責(zé)任，如果要生產(chǎn)的產(chǎn)品能達(dá)到顧客所要求的「品質(zhì)」，公司裡每一個(gè)人包括生產(chǎn)線(xiàn)上的作業(yè)員、打字員、採(cǎi)購(gòu)員、工程師以及公司的總經(jīng)理等對(duì)產(chǎn)品的品質(zhì)都有責(zé)任。 World Class Quality CONFIDENTIAL 44 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 b. 蒐集數(shù)據(jù) – 蒐集最近之?dāng)?shù)據(jù) 120個(gè)以上，分析其製程表現(xiàn) (是否合乎規(guī)格 )，若製程表現(xiàn)指標(biāo) (Ppk)太差，應(yīng)重新調(diào)整製程條件以改善現(xiàn)況。 World Class Quality CONFIDENTIAL 49 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 如製程分佈範(fàn)圍比規(guī)格界限之寬度為寬時(shí)，表示製程能力不足。當(dāng)然也有可能是突然出現(xiàn)的可歸屬原因 (例如 : 設(shè)備故障、作業(yè)員操作錯(cuò)誤 …. 等 )所造成的。 c. 決定樣本分組方式 –通常皆以一定時(shí)間之產(chǎn)品為一組、或以每批產(chǎn)品為一組。 (2) 抽樣頻率不固定 ：生產(chǎn)量小的料號(hào)，取樣時(shí)間變得十分不固定，造成一週內(nèi)僅有一兩點(diǎn)數(shù)據(jù)的狀況。以壓合針孔凹陷數(shù)為例，不同大小板面所產(chǎn)生的缺點(diǎn)數(shù)並不能直接比較。 ? 管制圖建立步驟： 先建立解析用管制圖，待確定管制界限後，再建立管制用管制圖 1) 建立解析用管制圖 a. 選定管制項(xiàng)目 – 通常即為某一個(gè)站點(diǎn)的不良率。 2) 在管制界限內(nèi)的點(diǎn)出現(xiàn)特殊圖樣 (Pattern)。 World Class Quality CONFIDENTIAL 48 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 k. 繪製直方圖 – 將所有數(shù)據(jù)作成次數(shù)分配，如不呈常態(tài)分配，則宜應(yīng)用層別，合理分組等方法，檢討原數(shù)據(jù)，直到數(shù)據(jù)呈常態(tài)分配。 2) 管制用管制圖 – 偵測(cè) 可歸屬原因 是否發(fā)生同時(shí) 追查 並迅速消除 此原因。這些自然變異通常稱(chēng)為機(jī)遇原因 (random causes)或是一般原因(mon causes)，當(dāng)製程在只有機(jī)遇原因出現(xiàn)下操作，則稱(chēng)其在管制中 (in control)。 等級(jí) C p 值A(chǔ)+ 7 ≦ CpA 3 ≦ Cp B 0 ≦ Cp C 7 ≦ Cp 0D CpWorld Class Quality CONFIDENTIAL 22 Unimicron Cp的圖示 LSL USL m 6? 6? m World Class Quality CONFIDENTIAL 23 Unimicron 製程準(zhǔn)確度 Ca ? Ca值在衡量製程之實(shí)績(jī)平均值相對(duì)於規(guī)格中心值之偏移程度，為製程中心值偏移規(guī)格中心值時(shí)製程能力之矯正值(noncentering correction)。最近一個(gè)月內(nèi)共生產(chǎn)了二十批，抽樣後得到如右的數(shù)據(jù)。 以之前的線(xiàn)寬數(shù)據(jù)為例。 平均數(shù)對(duì)離群值 (outliers)非常敏感，而中位數(shù)或眾數(shù)對(duì)離群值較不敏感，因此，當(dāng)資料中有離群值時(shí)，則用中位數(shù)或眾數(shù)，否則， 則用平均數(shù)。 ? 在實(shí)務(wù)上我們無(wú)法量測(cè)所有的母體，故我們希望透過(guò)合理的抽樣，然後以取得的樣本數(shù)據(jù) (樣本統(tǒng)計(jì)量 )來(lái)推估母體參數(shù) (平均值與標(biāo)準(zhǔn)差 )。 Cp指標(biāo) 的計(jì)算 Cp = (USLLSL) / 6? ^ (雙邊規(guī)格 ) Cp = (?LSL)/3? ^ ^ (下單邊規(guī)格 ) Cp = (USL?)/3? ^ ^ (上單邊規(guī)格 ) World Class Quality CONFIDENTIAL 21 Unimicron 製程精密度 Cp ? Cp又稱(chēng)為 Potential Capability，即指 製程潛在的最大能力。 World Class Quality CONFIDENTIAL 30 Unimicron 製程能力 /績(jī)效指標(biāo)範(fàn)例 範(fàn)例：面銅厚度的製程能力分析 以前述的銅厚的數(shù)據(jù)為例，計(jì)算其製程能力指標(biāo) Cp, Ca, Cpk以及製程績(jī)效指標(biāo) Ppk。 World Class Quality CONFIDENTIAL 38 Unimicron 管制圖基本原理 UCL LCL CL 時(shí)間軸 數(shù)據(jù)軸 管制圖與一般的統(tǒng)計(jì)圖不同，因其不僅能將數(shù)值以曲線(xiàn)表示出來(lái)，以觀其變異趨勢(shì)，且能顯示變異是屬於機(jī)遇性或是非機(jī)遇性，以指示某種現(xiàn)象是否正常，而採(cǎi)取適當(dāng)之措施。然後去除這些點(diǎn)之?dāng)?shù)據(jù) ,再用剩下來(lái)之?dāng)?shù)據(jù)，重新計(jì)算管制界限。 3) 僅有少數(shù)點(diǎn) (約 5%)靠近管制界限。 ? 再次確認(rèn)設(shè)備 /製程點(diǎn)檢項(xiàng)目是一種典型的 OCAP World Class Quality CONFIDENTIAL 63 Unimicron 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖的使用 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 ? 適用情況： 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖適用於大樣本 ( n ? 10)的抽樣方式。 不良數(shù)管制圖的 中心線(xiàn)及上下管制界限 : UCL = n LCL = n CL = n pp + 3 )1( ppn ? p 3 )1( ppn ?World Class Quality CONFIDENTIAL 74 Unimicron 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 缺點(diǎn)數(shù) (c)管制圖 有些產(chǎn)品雖有缺點(diǎn)，但不致因?yàn)橛猩贁?shù)之缺點(diǎn)，而使產(chǎn)品成為廢品，只是缺點(diǎn)之多少會(huì)影響其品質(zhì)之高低而已。 World Class Quality CONFIDENTIAL 79 Unimicron 使用限制 ? ShortRun管制圖在使用上必頇滿(mǎn)足下列的前提假設(shè)： 1) 所管制的產(chǎn)品源於相同作業(yè)員、機(jī)器設(shè)備、材料、方法，與量測(cè)系統(tǒng)。建立管制用管制圖之程序如下： a. 選定層別資訊 – 將料號(hào)、批號(hào)、機(jī)臺(tái)別、班別、操作者等資料填入管制圖。 當(dāng)平均值管制圖失控時(shí) 平均值管制圖管制的是樣本組間的變異程度，當(dāng)平均值管制圖失控時(shí)，代表組間的變異變大。 如無(wú)規(guī)格界限時(shí)，可直接延長(zhǎng)使用，而由最後成品之品質(zhì)特性 (水準(zhǔn) )，是否能滿(mǎn)足成品規(guī)格來(lái)檢討。在蒐集的過(guò)程中有異常的數(shù)據(jù)應(yīng)捨棄。管制圖是一種關(guān)於品質(zhì)的圖解記錄，操作人員利用所收集的資料計(jì)算出兩個(gè)管制界限 (上限及下限 )，且畫(huà)出這兩個(gè)管制界限，在產(chǎn)品製造過(guò)程中隨時(shí)將樣本資訊點(diǎn)入管制圖內(nèi)，以提醒操作人員。 Ppk指標(biāo)的標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì) 不同於 Cpk指標(biāo)， Ppk指標(biāo)的標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)是直接使用所有的樣本數(shù)據(jù) (不分組 )計(jì)算出樣本標(biāo)準(zhǔn)差來(lái)估計(jì)母體標(biāo)準(zhǔn)差： 1)( 2???nxxniiS = ? = ^ World Class Quality CONFIDENTIAL 29 Unimicron 製程績(jī)效指標(biāo) ? 製程績(jī)效 (Process Performance)指標(biāo)主要目的在評(píng)估 樣本生產(chǎn)或是 量產(chǎn)初期 的製程表現(xiàn)。 n = 5 樣本大小 而樣本大小 (Sample Size) 指的是每一組樣本有多少個(gè)數(shù)據(jù)，通常以英文字母 n 表示。2? 範(fàn)圍內(nèi) % 的數(shù)據(jù)在 ?177。World Class Quality CONFIDENTIAL 1 Unimicron Statistical Process Control 統(tǒng)計(jì)製程管制 欣興電子 品質(zhì)經(jīng)營(yíng)處 World Class Quality CONFIDENTIAL 2 Unimicron 課程大綱 ? 數(shù)據(jù)的蒐集與統(tǒng)計(jì)基本概念 ? 製程能力 (Process Capability)分析 ? 計(jì)量值管制圖 (Variable Control Chart) ? 計(jì)數(shù)值管制圖 (Attribute Control Chart) ? ShortRun管制圖 World Class Quality CONFIDENTIAL 3 Unimicron 製程數(shù)據(jù)蒐集與基本統(tǒng)計(jì)觀念 (Data Collection and Basic Statistics) World Class Quality CONFIDENTIAL 4 Unimicron 製程數(shù)據(jù)蒐集 ? 製程數(shù)據(jù)蒐集的目的是為了監(jiān)測(cè) 1. 產(chǎn)品品質(zhì)特性是否達(dá)到客戶(hù)的要求 2. 製程是否穩(wěn)定 ? 製程數(shù)據(jù)可分成兩種型態(tài)： 計(jì)量值 數(shù)據(jù)與 計(jì)數(shù)值 數(shù)據(jù) 簡(jiǎn)單的說(shuō)，計(jì)量值數(shù)據(jù)是 量 出來(lái)的，如銅厚、線(xiàn)距、線(xiàn)寬 … 等；而計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)是 數(shù) 出來(lái)的，如針孔凹陷數(shù)、導(dǎo)線(xiàn)斷路數(shù) … .等。?