【正文】 標(biāo)準(zhǔn)差與母體標(biāo)準(zhǔn)差的計(jì)算稍有不同 S = 1)( 2???nxxniiWorld Class Quality CONFIDENTIAL 16 Unimicron 利用樣本數(shù)據(jù)估算母體標(biāo)準(zhǔn)差 母體標(biāo)準(zhǔn)差的估計(jì) (續(xù) ) 係數(shù)的值與樣本大小 (n)有關(guān)，可由以下的係數(shù)表查得相對(duì)應(yīng)的值 n A1A2B3B4d2D3D4c4K1E2m3A22 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 註： 在使用係數(shù)表時(shí)基本上必頇最少要有 15組樣本。 ? 製程的變異程度越小 (標(biāo)準(zhǔn)差越小 )，表示精密度越好。 Cp指標(biāo) 的計(jì)算 Cp = (USLLSL) / 6? ^ (雙邊規(guī)格 ) Cp = (?LSL)/3? ^ ^ (下單邊規(guī)格 ) Cp = (USL?)/3? ^ ^ (上單邊規(guī)格 ) World Class Quality CONFIDENTIAL 21 Unimicron 製程精密度 Cp ? Cp又稱(chēng)為 Potential Capability，即指 製程潛在的最大能力。 Ca指標(biāo) 的計(jì)算 Ca = (? m)/[(USLLSL)/2] ^ 註：?jiǎn)芜呉?guī)格因?yàn)闆](méi)有規(guī)格中心值，故無(wú)法計(jì)算 Ca 值 World Class Quality CONFIDENTIAL 24 Unimicron 製程準(zhǔn)確度 Ca ? Ca的等級(jí)判定： Ca 的絶對(duì)值越小，表示製程準(zhǔn)確度越好。 World Class Quality CONFIDENTIAL 28 Unimicron 製程績(jī)效指標(biāo) ? 另外一組評(píng)估製程表現(xiàn)的指標(biāo)為 Pp, Pa, 以及 Ppk，稱(chēng)為製程績(jī)效 (Process Performance)指標(biāo)。因此使用不分組的方式來(lái)估計(jì)製程標(biāo)準(zhǔn)差。 World Class Quality CONFIDENTIAL 30 Unimicron 製程能力 /績(jī)效指標(biāo)範(fàn)例 範(fàn)例：面銅厚度的製程能力分析 以前述的銅厚的數(shù)據(jù)為例，計(jì)算其製程能力指標(biāo) Cp, Ca, Cpk以及製程績(jī)效指標(biāo) Ppk。 World Class Quality CONFIDENTIAL 34 Unimicron 為什麼要採(cǎi)用統(tǒng)計(jì)製程管制 此外，製程中可能存在有其它的變異，這些變異的來(lái)源有機(jī)器的不適當(dāng)調(diào)整、操作員之錯(cuò)誤、原料之不良、機(jī)器故障或損壞等，這些變異的幅度通常較機(jī)遇原因之變異為大，當(dāng)這些變異出現(xiàn)時(shí)，代表製程不可接受。而製程管制即是品管的一種技巧，凡與製程有關(guān)之人員均需具備製程管制的相關(guān)知識(shí)或技巧，盡到自己的品質(zhì)責(zé)任。 World Class Quality CONFIDENTIAL 37 Unimicron 管制圖基本原理 管制圖為一種圖形表示工具，用以顯示從樣本中量測(cè)或計(jì)算所得之品質(zhì)特性。 World Class Quality CONFIDENTIAL 38 Unimicron 管制圖基本原理 UCL LCL CL 時(shí)間軸 數(shù)據(jù)軸 管制圖與一般的統(tǒng)計(jì)圖不同，因其不僅能將數(shù)值以曲線表示出來(lái)，以觀其變異趨勢(shì)，且能顯示變異是屬於機(jī)遇性或是非機(jī)遇性，以指示某種現(xiàn)象是否正常，而採(cǎi)取適當(dāng)之措施。 1) 計(jì)量值管制圖 (Variable Control Chart) 2) 計(jì)數(shù)值管制圖 (Attribute Control Chart) ? 依用途目的可分為： World Class Quality CONFIDENTIAL 41 Unimicron 管制圖繪製流程 決定管制特性 安定狀態(tài) ? 決定抽樣計(jì)劃 蒐集數(shù)據(jù) 並分析製程能力 繪製解析用管制圖 探討、並去除 可歸屬原因 NO 執(zhí)行管制用管制圖 YES World Class Quality CONFIDENTIAL 42 Unimicron 計(jì)量值管制圖的種類(lèi) ? 計(jì)量值管制圖依抽樣方式或數(shù)據(jù)特性的不同可分為： 1) 平均值與全距管制圖 (XR Chart) 2) 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 (XS Chart) 3) 中位值與全距管制圖 (XR Chart) 4) 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖 (XRm Chart) _ _ ~ 以下將以平均值與全距管制圖為例，說(shuō)明管制圖作業(yè)的詳細(xì)步驟： World Class Quality CONFIDENTIAL 43 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 平均值與全距管制圖作業(yè)細(xì)則 ? 適用情況： 平均值與全距管制圖適用於小樣本 ( n 10)的抽樣方式。 c. 決定樣本分組方式 – 在確認(rèn)製程表現(xiàn)合乎規(guī)格要求後，便開(kāi)始設(shè)計(jì)如何抽取樣本數(shù)據(jù) (paneltopanel, lottolot, fixed time period…. ) 及樣本大小 (Sample Size)。 g. 計(jì)算平均值管制圖的中心線及上下管制界限 (查表法 ) _ _ CL = X UCL = X + A2R LCL = X A2R _ _ _ _ _ 註： A2之值請(qǐng)參照前述之係數(shù)表 _ World Class Quality CONFIDENTIAL 46 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 CL = R UCL = D4R LCL = D3R _ _ _ i. 點(diǎn)圖 – 將每組平均值點(diǎn)入平均值管制圖、每組全距點(diǎn)入全距管制圖。然後去除這些點(diǎn)之?dāng)?shù)據(jù) ,再用剩下來(lái)之?dāng)?shù)據(jù)，重新計(jì)算管制界限。 l. 與規(guī)格比較 如製程分佈範(fàn)圍在規(guī)格界限內(nèi)，且中心在規(guī)格中心附近，可認(rèn)為製程能力能滿足規(guī)格要求。對(duì)原數(shù)據(jù)應(yīng)按原料別、機(jī)械別、時(shí)間別、操作人員別等加以層別，分別檢討其分配之情況，找出變異較大之處，應(yīng)用工程與技術(shù)知識(shí)加以改善。建立管制用管制圖之程序如下： a. 選定層別資訊 – 將料號(hào)、批號(hào)、機(jī)臺(tái)別、班別、操作者等資料填入管制圖。 3) 僅有少數(shù)點(diǎn) (約 5%)靠近管制界限。 但是下列法則若有一成立，則判斷製程異常： 在統(tǒng)計(jì)製程管制中的「製程異?！怪傅氖悄壳暗难u程分佈可能已經(jīng)不同於之前確認(rèn)的正常情況。 World Class Quality CONFIDENTIAL 59 Unimicron 管制圖的測(cè)詴法則 3 倍標(biāo)準(zhǔn)差 中心線 A A B C C B 2 倍標(biāo)準(zhǔn)差 1 倍標(biāo)準(zhǔn)差 3 倍標(biāo)準(zhǔn)差 2 倍標(biāo)準(zhǔn)差 1 倍標(biāo)準(zhǔn)差 1. 1 點(diǎn)落在 A區(qū)之外 2. 連續(xù) 9 點(diǎn)在中心線的同一側(cè) 3. 連續(xù) 6 點(diǎn)上升或下降 4. 連續(xù) 14 點(diǎn)交互著上下跳動(dòng) 5. 連續(xù) 3 點(diǎn)中有 2 點(diǎn)落在 A區(qū)或 A區(qū)之外 (同一側(cè) ) 6. 連續(xù) 5 點(diǎn)中有 4 點(diǎn)落在 B區(qū)或 B區(qū)之外 (同一側(cè) ) 7. 連續(xù) 15 點(diǎn)出現(xiàn)在 C區(qū) (任一側(cè) ) 8. 連續(xù) 8 點(diǎn)出現(xiàn)在 A區(qū)或 B區(qū) (任一側(cè) ) 注意：每一條測(cè)詴法則皆有其統(tǒng)計(jì)上的意義，已決定運(yùn)用於判定製程是否在管制之中的法則不可臨時(shí)取消！ World Class Quality CONFIDENTIAL 60 Unimicron 管制圖失控的含意 當(dāng)全距管制圖失控時(shí) 全距管制圖管制的是樣本組內(nèi)的變異程度，當(dāng)全距管制圖失控時(shí)，代表組內(nèi)的變異變大。 註：變異的來(lái)源取決於樣本分組的方式 World Class Quality CONFIDENTIAL 61 Unimicron 練習(xí)題 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 管制上限 管制下限 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn) 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn) 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn) 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 3點(diǎn)中有 2點(diǎn)在 區(qū)域 A或以上 看有無(wú)任何點(diǎn)在 A區(qū)之外 ? 規(guī)則 1. 一點(diǎn)落在 A區(qū)之外 (超出管制界限 ) 看有無(wú)接近的兩點(diǎn)在 A區(qū) (含 )之外 ? 規(guī)則 A區(qū) 看有無(wú)接近的四點(diǎn)在 B區(qū) 之外 規(guī)則 B區(qū)或是 B區(qū)之外 一個(gè)管制圖如下所示。 ? 再次確認(rèn)設(shè)備 /製程點(diǎn)檢項(xiàng)目是一種典型的 OCAP World Class Quality CONFIDENTIAL 63 Unimicron 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖的使用 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 ? 適用情況： 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖適用於大樣本 ( n ? 10)的抽樣方式。所謂不良是指超出允收的規(guī)格，可能要報(bào)廢、重工或是特採(cǎi)者。 d. 計(jì)算中心線及上下管制界限。 World