【正文】 制界限的計(jì)算： 平均值管制圖的中心線與上下管制界限： _ _ UCL = X + A3S LCL = X – A3S _ _ CL = X _ World Class Quality CONFIDENTIAL 64 Unimicron 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖的使用 標(biāo)準(zhǔn)差管制圖的中心線與上下管制界限： _ UCL = B4S LCL = B3S _ CL = S _ World Class Quality CONFIDENTIAL 65 Unimicron 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖的使用 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖 ? 適用情況： ，且每一件產(chǎn)品皆檢測 ，一次只能蒐集到一個(gè)數(shù)據(jù) ，如藥液濃度 ，其過程相當(dāng)費(fèi)時(shí)或繁瑣 ，測詴成本相當(dāng)高 World Class Quality CONFIDENTIAL 66 Unimicron 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖的使用 ? 中心線與管制界限的計(jì)算： 個(gè)別值管制圖的中心線與上下管制界限： ___ _ UCL = X + E2Rm LCL = X – E2Rm _ ___ CL = X _ 移動(dòng)全距管制圖的中心線與上下管制界限： ___ UCL = D4Rm LCL = D3Rm ___ CL = Rm ___ World Class Quality CONFIDENTIAL 67 Unimicron 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖的使用 ? 移動(dòng)全距的計(jì)算： 移動(dòng)全距的定義： Rmi = |Xi – Xi1| (i = 2,3,4,…k) 以相鄰兩個(gè)個(gè)別值計(jì)算時(shí)，在查係數(shù)表時(shí)樣本大小 n 設(shè)為 2 n 也可設(shè)為 2以上，這時(shí)候每個(gè) Rm的值將會(huì)改變，其計(jì)算方式表列如下 (每一組最大值與最小值的距離 )： X 43 50 49 45 51 42 47 40 44 412 7 1 4 6 9 5 7 4 3n 3 7 5 6 9 9 7 7 44 7 6 9 9 11 7 7World Class Quality CONFIDENTIAL 68 Unimicron 計(jì)數(shù)值管制圖 (Attribute Control Chart) World Class Quality CONFIDENTIAL 69 Unimicron 計(jì)數(shù)值管制圖的種類 ? 計(jì)數(shù)值管制圖依偵測目的不同可分為： 1) 不良率管制圖 (p Chart) 2) 不良數(shù)管制圖 (np Chart) 3) 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (c Chart) 4) 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (u Chart) 註：計(jì)量值管制圖則有兩個(gè)圖，而計(jì)數(shù)值管制圖皆祇有一個(gè)圖。 World Class Quality CONFIDENTIAL 71 Unimicron 計(jì)數(shù)值管制圖作業(yè)步驟 b. 蒐集數(shù)據(jù) – 蒐集最近之不良率數(shù)據(jù) 20~30組。 UCL = LCL = CL = pp + 3 inpp )1( ? p 3 inpp )1( ?World Class Quality CONFIDENTIAL 72 Unimicron 計(jì)數(shù)值管制圖作業(yè)步驟 2) 建立管制用管制圖 當(dāng)確定正常的不良率管控界限之後，便可以固定管制界限開始管制製程的不良率。但是當(dāng)檢驗(yàn)數(shù)量不一致時(shí)， np 管制圖便不適用。因此缺點(diǎn)數(shù)目可表示其 品質(zhì)，在這種情形下，可使用缺點(diǎn)數(shù)管制圖來管制產(chǎn)品品質(zhì)。 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖的 中心線及上下管制界限 : UCL = LCL = CL = + 3 uuinu 3 uinu????miimiinD11= World Class Quality CONFIDENTIAL 76 Unimicron SHORTRUN 管制圖 (ShortRun Control Chart) World Class Quality CONFIDENTIAL 77 Unimicron Short Run源起 ? 工廠生產(chǎn)型態(tài)漸趨向於 少量多樣 ，在製造流程中通常因?yàn)楫a(chǎn)品的生命週期過短，而無足夠的數(shù)據(jù)資料可供製程管制分析。且對(duì)連續(xù)生產(chǎn)的生產(chǎn)線而言，能夠每隔一段時(shí)間（例如 2小時(shí)）就能取得樣本數(shù)據(jù)，免除傳統(tǒng)管制圖所遇到的困擾。以目前廠內(nèi)推行的 X barR Chart 的 ShortRun管制圖為例： 對(duì) xbar 圖而言： 其中 、 為每種料號(hào)的製程平均值與平均全距 iRiisRXxx ??標(biāo)準(zhǔn)化後的組平均值 : 對(duì) R 圖而言： 標(biāo)準(zhǔn)化後的組全距值 : isRRR ?iXWorld Class Quality CONFIDENTIAL 82 Unimicron 管制界限 傳統(tǒng) X barR 管制圖 xbar 圖 R 圖 RAXL C LXCLRAXU C L22?????RDLCLRCLRDUC L34??? ShortRun管制圖 (X barR) xbar 圖 R 圖 220ALCLCLAUC L?????341DLCLCLDUCL???標(biāo)準(zhǔn)化 World Class Quality CONFIDENTIAL 83 Unimicron ShortRun 範(fàn)例 B 樣本編號(hào) 料號(hào) 數(shù)據(jù)一 數(shù)據(jù)二 數(shù)據(jù)三 X i ba r R1 A 0 .52 0 .51 0 .49 2 A 0 .51 0 .48 0 .52 3 A 0 .51 0 .48 0 .52 4 B 0 .31 0 .32 0 .31 5 B 0 .28 0 .29 0 .31 6 B 0 .31 0 .32 0 .31 7 C 0 .82 0 .83 0 .82 8 C 0 .78 0 .79 0 .77 9 C 0 .77 0 .81 0 .79 10 C 0 .78 0 .81 0 .81 11 A 0 .51 0 .51 0 .52 12 A 0 .51 0 .51 0 .52 13 A 0 .48 0 .49 0 .49 14 B 0 .31 0 .31 0 .32 15 B 0 .29 0 .28 0 .29 16 A 0 .51 0 .51 0 .52 17 C 0 .83 0 .77 0 .78 18 C 0 .82 0 .81 0 .79 19 A 0 .51 0 .52 0 .51 20 A 0 .48 0 .49 0 .47 標(biāo)準(zhǔn)化 X i b ar 標(biāo)準(zhǔn)化 R 0. 76 1. 24 樣本編號(hào) 料號(hào) 數(shù)據(jù)一 數(shù)據(jù)二 數(shù)據(jù)三 X i ba r RA1/1 A 0 .52 0 .51 0 .49 A2/2 A 0 .51 0 .48 0 .52 A3/3 A 0 .51 0 .48 0 .52 A4/11 A 0 .51 0 .51 0 .52 A5/12 A 0 .51 0 .51 0 .52 A6/13 A 0 .48 0 .49 0 .49 A7/16 A 0 .51 0 .51 0 .52 A8/19 A 0 .51 0 .52 0 .51 A9/20 A 0 .48 0 .49 0 .47 0. 50 4 0. 02A v er ag e=樣本編號(hào) 料號(hào) 數(shù)據(jù)一 數(shù)據(jù)二 數(shù)據(jù)三 X i ba r RB 1 / 4 B 0 .3 1 0 .3 2 0 .3 1 B 2 / 5 B 0 .2 8 0 .2 9 0 .3 1 B 3 / 6 B 0 .3 1 0 .3 2 0 .3 1 B 4 / 1 4 B 0 .3 1 0 .3 1 0 .3 2 B 5 / 1 5 B 0 .2 9 0 .2 8 0 .2 9 0 .3 0 4 0 .0 1Av er age=樣本編號(hào) 料號(hào) 數(shù)據(jù)一 數(shù)據(jù)二 數(shù)據(jù)三 X i ba r RC 1 / 7 C 0 .8 2 0 .8 3 0 .8 2 C 2 / 8 C 0 .7 8 0 .7 9 0 .7 7 C 3 / 9 C 0 .7 7 0 .8 1 0 .7 9 C 4 / 1 0 C 0 .7 8 0 .8 1 0 .8 1 C 5 / 1 7 C 0 .8 3 0 .7 7 0 .7 8 C 6 / 1 8 C 0 .8 2 0 .8 1 0 .7 9 0 .7 9 9 0 .0 3Av e r age =World Class Quality CONFIDENTIAL 84 Unimicron Short Run Chart World Class Quality CONFIDENTIAL 85 Unimicron 統(tǒng)計(jì)製程管制的關(guān)鍵成功因素 ? 要做好統(tǒng)計(jì)製程管制，必頇要： 1) 充分地了解統(tǒng)計(jì)製程管制的目的及基本原理 2) 規(guī)劃完善的數(shù)據(jù)蒐集計(jì)劃以確保數(shù)據(jù)的有效性 3) 確保數(shù)據(jù)的正確 (真實(shí) )性 4) 不斷地進(jìn)行 PDCA循環(huán)