【正文】 程能力 繪製解析用管制圖 探討、並去除 可歸屬原因 NO 執(zhí)行管制用管制圖 YES World Class Quality CONFIDENTIAL 42 Unimicron 計量值管制圖的種類 ? 計量值管制圖依抽樣方式或數(shù)據(jù)特性的不同可分為： 1) 平均值與全距管制圖 (XR Chart) 2) 平均值與標準差管制圖 (XS Chart) 3) 中位值與全距管制圖 (XR Chart) 4) 個別值與移動全距管制圖 (XRm Chart) _ _ ~ 以下將以平均值與全距管制圖為例，說明管制圖作業(yè)的詳細步驟： World Class Quality CONFIDENTIAL 43 Unimicron 計量值管制圖作業(yè)步驟 平均值與全距管制圖作業(yè)細則 ? 適用情況： 平均值與全距管制圖適用於小樣本 ( n 10)的抽樣方式。 g. 計算平均值管制圖的中心線及上下管制界限 (查表法 ) _ _ CL = X UCL = X + A2R LCL = X A2R _ _ _ _ _ 註： A2之值請參照前述之係數(shù)表 _ World Class Quality CONFIDENTIAL 46 Unimicron 計量值管制圖作業(yè)步驟 CL = R UCL = D4R LCL = D3R _ _ _ i. 點圖 – 將每組平均值點入平均值管制圖、每組全距點入全距管制圖。 l. 與規(guī)格比較 如製程分佈範圍在規(guī)格界限內(nèi)，且中心在規(guī)格中心附近，可認為製程能力能滿足規(guī)格要求。建立管制用管制圖之程序如下： a. 選定層別資訊 – 將料號、批號、機臺別、班別、操作者等資料填入管制圖。 但是下列法則若有一成立，則判斷製程異常： 在統(tǒng)計製程管制中的「製程異?！怪傅氖悄壳暗难u程分佈可能已經(jīng)不同於之前確認的正常情況。 註：變異的來源取決於樣本分組的方式 World Class Quality CONFIDENTIAL 61 Unimicron 練習題 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 管制上限 管制下限 連續(xù) 5點中有 4點 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 5點中有 4點 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 5點中有 4點 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 3點中有 2點在 區(qū)域 A或以上 看有無任何點在 A區(qū)之外 ? 規(guī)則 1. 一點落在 A區(qū)之外 (超出管制界限 ) 看有無接近的兩點在 A區(qū) (含 )之外 ? 規(guī)則 A區(qū) 看有無接近的四點在 B區(qū) 之外 規(guī)則 B區(qū)或是 B區(qū)之外 一個管制圖如下所示。所謂不良是指超出允收的規(guī)格，可能要報廢、重工或是特採者。 World Class Quality CONFIDENTIAL 73 Unimicron 不良數(shù)管制圖 不良數(shù) (np)管制圖 np 管制圖的目的與 p 管制圖是一樣的。在這種情形下，應(yīng)使用單位缺點數(shù)管制圖。 World Class Quality CONFIDENTIAL 80 Unimicron 設(shè)計理念 平均 值 管制圖(X B a r)0 .4 7 80 .4 8 80 .4 9 80 .5 0 80 .5 1 81 2 3 4 5 6 7 8 9平均 值 管制圖(X B a r)0 .2 8 50 .2 9 50 .3 0 50 .3 1 51 2 3 4 5平均 值 管制圖(X B a r)0 .7 6 30 .7 8 30 .8 0 30 .8 2 31 2 3 4 5 6 將不同料號 (規(guī)格 )的管制圖整合成一張圖 料號 A 料號 B 料號 C X B a r S h o r t R u n C o n t r o l C h a r t 1 . 5 0 0 1 . 0 0 0 0 . 5 0 00 . 0 0 00 . 5 0 01 . 0 0 01 . 5 0 0A A A B B B C C C C A A A B B A C C A AX B a rCLU C LL C LWorld Class Quality CONFIDENTIAL 81 Unimicron 設(shè)計方法 ? 不同規(guī)格的特性項目 (process characteristic)其管制中心值與範圍會不同，透過 標準化 的轉(zhuǎn)換，即可將不同中心值與管制範圍的數(shù)據(jù)放在同一張管制圖內(nèi)。傳統(tǒng)的管制圖在面對此種生產(chǎn)型態(tài)時，會有下述困擾： (1) 管制圖的數(shù)量過多 ：不同的料號或製程規(guī)格就要製作不同的管制圖。一般而言，不良數(shù)管制圖用在檢驗數(shù)量很大的時候。在蒐集的過程中有異常的數(shù)據(jù)應(yīng)捨棄 (如設(shè)備當機造成大量報廢 )。 ? OCAP並不是改善行動，它的主要目的是要讓製程立即回復(fù)到正常的狀態(tài)，讓生產(chǎn)可以繼續(xù)進行。 World Class Quality CONFIDENTIAL 56 Unimicron 製程的分佈 ?3? ?+3? ? 3? 3? World Class Quality CONFIDENTIAL 57 Unimicron 個別值與樣本平均值的分佈 ?3? ?+3? ? LCL UCL x _ 樣本平均 標準差 = ? 標準差 = ? _ x 3? _ x x _ +3? _ x x _ World Class Quality CONFIDENTIAL 58 Unimicron 製程的失控 Out of Control UCL LCL CL 製程的中心偏移，或是變異變大，在管制圖上都可能產(chǎn)生出超出管制界限的點。 World Class Quality CONFIDENTIAL 51 Unimicron 計量值管制圖實例 範例：電鍍線的管制圖製作 依分組之資料計算出以下各項目值： 總平均值 X = 平均全距 R = _ _ _ _ _ _ UCL = X + A2R = + * = LCL = X A2R = * = 平均值管制圖的上下管制界限： 全距管制圖的上下管制界限： UCL = D4R = * = LCL = D3R = 0 * = 0 _ _ World Class Quality CONFIDENTIAL 52 Unimicron 計量值管制圖實例 World Class Quality CONFIDENTIAL 53 Unimicron 管制圖的檢定規(guī)則 (Test Rules for Control Chart) World Class Quality CONFIDENTIAL 54 Unimicron 管制圖的判讀 ? 管制圖判定基本法則：正常管制圖上的點，必頇符合「隨意分散」 (Random Fluctuation)與「常態(tài)分佈」 (Normal Distribution) 的原則，所以至少要滿足下面幾點要求： 1) 中心線上下的點數(shù)要大約相等 (各佔 40%~60%)。 如製程分佈範圍比規(guī)格界限之寬度為窄，但中心離開規(guī)格中心且偏向一方，致使產(chǎn)品上限或下限超出規(guī)格界限，此時宜調(diào)整製程平均值，使與規(guī)格中心一致(或接近）後，方可延長作為管制用管制圖之界限。 h. 計算全距管制圖的中心線及上下管制界限。 ? 管制圖建立步驟： 先建立解析用管制圖，待確定管制界限後，再建立管制用管制圖 1) 建立解析用管制圖 a. 選定管制項目 – 在製程中選擇對產(chǎn)品品質(zhì)特性有重要影響之要因或重要品質(zhì)特性作為管制項目。此圖同時包含兩條水平線，稱為管制上限 (Upper Control Limit, UCL) 及管制下限 (Lower Control Limit, LCL) ，用來表示製程或品質(zhì)變異的容許範圍或均勻性。 「非機遇原因」或「特殊原因」 就是我們進行統(tǒng)計製程管制所要找到的重點。此時使用分組方式估計製程標準差會有低估製程變異的風險，同時也會高估製程 Cpk。 )World Class Quality CONFIDENTIAL 25 Unimicron Ca的圖示 LSL USL ? ? m World Class Quality CONFIDENTIAL 26 Unimicron 製程能力綜合指標 Cpk ? Cpk 是 Cp 與 Ca 兩個 值的綜合指標，它考慮到製程平均值的位置 (準確度 )；也考慮到製程的變異程度 (精密度 )。 ? 在評估製程能力之前應(yīng)計算 /取得以下的數(shù)值： 製程平均值 ? 製程標準差 ? 規(guī)格目標值 T 規(guī)格上限 USL 規(guī)格下限 LSL 規(guī)格中心值 m ^ ^ World Class Quality CONFIDENTIAL 20 Unimicron 製程精密度 Cp ? Cp值在衡量製程之變異寬度與規(guī)格上下限之範圍的相差情形，其定義為規(guī)格上下限之間可以容納多少個 177。而標準差是否可以用所有樣本數(shù)據(jù)的