【正文】 程能力 繪製解析用管制圖 探討、並去除 可歸屬原因 NO 執(zhí)行管制用管制圖 YES World Class Quality CONFIDENTIAL 42 Unimicron 計(jì)量值管制圖的種類(lèi) ? 計(jì)量值管制圖依抽樣方式或數(shù)據(jù)特性的不同可分為： 1) 平均值與全距管制圖 (XR Chart) 2) 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 (XS Chart) 3) 中位值與全距管制圖 (XR Chart) 4) 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖 (XRm Chart) _ _ ~ 以下將以平均值與全距管制圖為例，說(shuō)明管制圖作業(yè)的詳細(xì)步驟： World Class Quality CONFIDENTIAL 43 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 平均值與全距管制圖作業(yè)細(xì)則 ? 適用情況： 平均值與全距管制圖適用於小樣本 ( n 10)的抽樣方式。 g. 計(jì)算平均值管制圖的中心線及上下管制界限 (查表法 ) _ _ CL = X UCL = X + A2R LCL = X A2R _ _ _ _ _ 註： A2之值請(qǐng)參照前述之係數(shù)表 _ World Class Quality CONFIDENTIAL 46 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 CL = R UCL = D4R LCL = D3R _ _ _ i. 點(diǎn)圖 – 將每組平均值點(diǎn)入平均值管制圖、每組全距點(diǎn)入全距管制圖。 l. 與規(guī)格比較 如製程分佈範(fàn)圍在規(guī)格界限內(nèi)，且中心在規(guī)格中心附近，可認(rèn)為製程能力能滿足規(guī)格要求。建立管制用管制圖之程序如下： a. 選定層別資訊 – 將料號(hào)、批號(hào)、機(jī)臺(tái)別、班別、操作者等資料填入管制圖。 但是下列法則若有一成立，則判斷製程異常： 在統(tǒng)計(jì)製程管制中的「製程異?！怪傅氖悄壳暗难u程分佈可能已經(jīng)不同於之前確認(rèn)的正常情況。 註：變異的來(lái)源取決於樣本分組的方式 World Class Quality CONFIDENTIAL 61 Unimicron 練習(xí)題 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 管制上限 管制下限 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn) 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn) 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn) 在 區(qū)域 B或以上 連續(xù) 3點(diǎn)中有 2點(diǎn)在 區(qū)域 A或以上 看有無(wú)任何點(diǎn)在 A區(qū)之外 ? 規(guī)則 1. 一點(diǎn)落在 A區(qū)之外 (超出管制界限 ) 看有無(wú)接近的兩點(diǎn)在 A區(qū) (含 )之外 ? 規(guī)則 A區(qū) 看有無(wú)接近的四點(diǎn)在 B區(qū) 之外 規(guī)則 B區(qū)或是 B區(qū)之外 一個(gè)管制圖如下所示。所謂不良是指超出允收的規(guī)格，可能要報(bào)廢、重工或是特採(cǎi)者。 World Class Quality CONFIDENTIAL 73 Unimicron 不良數(shù)管制圖 不良數(shù) (np)管制圖 np 管制圖的目的與 p 管制圖是一樣的。在這種情形下，應(yīng)使用單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖。 World Class Quality CONFIDENTIAL 80 Unimicron 設(shè)計(jì)理念 平均 值 管制圖(X B a r)0 .4 7 80 .4 8 80 .4 9 80 .5 0 80 .5 1 81 2 3 4 5 6 7 8 9平均 值 管制圖(X B a r)0 .2 8 50 .2 9 50 .3 0 50 .3 1 51 2 3 4 5平均 值 管制圖(X B a r)0 .7 6 30 .7 8 30 .8 0 30 .8 2 31 2 3 4 5 6 將不同料號(hào) (規(guī)格 )的管制圖整合成一張圖 料號(hào) A 料號(hào) B 料號(hào) C X B a r S h o r t R u n C o n t r o l C h a r t 1 . 5 0 0 1 . 0 0 0 0 . 5 0 00 . 0 0 00 . 5 0 01 . 0 0 01 . 5 0 0A A A B B B C C C C A A A B B A C C A AX B a rCLU C LL C LWorld Class Quality CONFIDENTIAL 81 Unimicron 設(shè)計(jì)方法 ? 不同規(guī)格的特性項(xiàng)目 (process characteristic)其管制中心值與範(fàn)圍會(huì)不同，透過(guò) 標(biāo)準(zhǔn)化 的轉(zhuǎn)換，即可將不同中心值與管制範(fàn)圍的數(shù)據(jù)放在同一張管制圖內(nèi)。傳統(tǒng)的管制圖在面對(duì)此種生產(chǎn)型態(tài)時(shí)，會(huì)有下述困擾： (1) 管制圖的數(shù)量過(guò)多 ：不同的料號(hào)或製程規(guī)格就要製作不同的管制圖。一般而言，不良數(shù)管制圖用在檢驗(yàn)數(shù)量很大的時(shí)候。在蒐集的過(guò)程中有異常的數(shù)據(jù)應(yīng)捨棄 (如設(shè)備當(dāng)機(jī)造成大量報(bào)廢 )。 ? OCAP並不是改善行動(dòng)，它的主要目的是要讓製程立即回復(fù)到正常的狀態(tài)，讓生產(chǎn)可以繼續(xù)進(jìn)行。 World Class Quality CONFIDENTIAL 56 Unimicron 製程的分佈 ?3? ?+3? ? 3? 3? World Class Quality CONFIDENTIAL 57 Unimicron 個(gè)別值與樣本平均值的分佈 ?3? ?+3? ? LCL UCL x _ 樣本平均 標(biāo)準(zhǔn)差 = ? 標(biāo)準(zhǔn)差 = ? _ x 3? _ x x _ +3? _ x x _ World Class Quality CONFIDENTIAL 58 Unimicron 製程的失控 Out of Control UCL LCL CL 製程的中心偏移，或是變異變大，在管制圖上都可能產(chǎn)生出超出管制界限的點(diǎn)。 World Class Quality CONFIDENTIAL 51 Unimicron 計(jì)量值管制圖實(shí)例 範(fàn)例：電鍍線的管制圖製作 依分組之資料計(jì)算出以下各項(xiàng)目值： 總平均值 X = 平均全距 R = _ _ _ _ _ _ UCL = X + A2R = + * = LCL = X A2R = * = 平均值管制圖的上下管制界限： 全距管制圖的上下管制界限： UCL = D4R = * = LCL = D3R = 0 * = 0 _ _ World Class Quality CONFIDENTIAL 52 Unimicron 計(jì)量值管制圖實(shí)例 World Class Quality CONFIDENTIAL 53 Unimicron 管制圖的檢定規(guī)則 (Test Rules for Control Chart) World Class Quality CONFIDENTIAL 54 Unimicron 管制圖的判讀 ? 管制圖判定基本法則：正常管制圖上的點(diǎn)，必頇符合「隨意分散」 (Random Fluctuation)與「常態(tài)分佈」 (Normal Distribution) 的原則，所以至少要滿足下面幾點(diǎn)要求： 1) 中心線上下的點(diǎn)數(shù)要大約相等 (各佔(zhàn) 40%~60%)。 如製程分佈範(fàn)圍比規(guī)格界限之寬度為窄，但中心離開(kāi)規(guī)格中心且偏向一方，致使產(chǎn)品上限或下限超出規(guī)格界限，此時(shí)宜調(diào)整製程平均值，使與規(guī)格中心一致(或接近）後，方可延長(zhǎng)作為管制用管制圖之界限。 h. 計(jì)算全距管制圖的中心線及上下管制界限。 ? 管制圖建立步驟： 先建立解析用管制圖，待確定管制界限後，再建立管制用管制圖 1) 建立解析用管制圖 a. 選定管制項(xiàng)目 – 在製程中選擇對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)特性有重要影響之要因或重要品質(zhì)特性作為管制項(xiàng)目。此圖同時(shí)包含兩條水平線，稱(chēng)為管制上限 (Upper Control Limit, UCL) 及管制下限 (Lower Control Limit, LCL) ，用來(lái)表示製程或品質(zhì)變異的容許範(fàn)圍或均勻性。 「非機(jī)遇原因」或「特殊原因」 就是我們進(jìn)行統(tǒng)計(jì)製程管制所要找到的重點(diǎn)。此時(shí)使用分組方式估計(jì)製程標(biāo)準(zhǔn)差會(huì)有低估製程變異的風(fēng)險(xiǎn)，同時(shí)也會(huì)高估製程 Cpk。 )World Class Quality CONFIDENTIAL 25 Unimicron Ca的圖示 LSL USL ? ? m World Class Quality CONFIDENTIAL 26 Unimicron 製程能力綜合指標(biāo) Cpk ? Cpk 是 Cp 與 Ca 兩個(gè) 值的綜合指標(biāo)，它考慮到製程平均值的位置 (準(zhǔn)確度 )；也考慮到製程的變異程度 (精密度 )。 ? 在評(píng)估製程能力之前應(yīng)計(jì)算 /取得以下的數(shù)值： 製程平均值 ? 製程標(biāo)準(zhǔn)差 ? 規(guī)格目標(biāo)值 T 規(guī)格上限 USL 規(guī)格下限 LSL 規(guī)格中心值 m ^ ^ World Class Quality CONFIDENTIAL 20 Unimicron 製程精密度 Cp ? Cp值在衡量製程之變異寬度與規(guī)格上下限之範(fàn)圍的相差情形，其定義為規(guī)格上下限之間可以容納多少個(gè) 177。而標(biāo)準(zhǔn)差是否可以用所有樣本數(shù)據(jù)的