【正文】 範(fàn)圍！ World Class Quality CONFIDENTIAL 11 Unimicron 常態(tài)分佈的特性 範(fàn)例：全校男同學(xué)身高 假設(shè)一所學(xué)校共有 500位男同學(xué)，這些同學(xué)的身高呈現(xiàn)常態(tài)分佈。最近一個(gè)月內(nèi)共生產(chǎn)了二十批，抽樣後得到如右的數(shù)據(jù)。 k = 20 組數(shù) World Class Quality CONFIDENTIAL 18 Unimicron 製程能力分析 (Process Capability Analysis) World Class Quality CONFIDENTIAL 19 Unimicron 製程能力分析 ? 評(píng)估製程能力 (Process Capability)時(shí)由兩個(gè)角度觀察：製程精密度 (Precision)及製程準(zhǔn)確度 (Accuracy)。 等級(jí) C p 值A(chǔ)+ 7 ≦ CpA 3 ≦ Cp B 0 ≦ Cp C 7 ≦ Cp 0D CpWorld Class Quality CONFIDENTIAL 22 Unimicron Cp的圖示 LSL USL m 6? 6? m World Class Quality CONFIDENTIAL 23 Unimicron 製程準(zhǔn)確度 Ca ? Ca值在衡量製程之實(shí)績(jī)平均值相對(duì)於規(guī)格中心值之偏移程度，為製程中心值偏移規(guī)格中心值時(shí)製程能力之矯正值(noncentering correction)。在此階段，由於產(chǎn)品生產(chǎn)數(shù)量不多，不適用以樣本分組的方式估計(jì)製程標(biāo)準(zhǔn)差。這些自然變異通常稱為機(jī)遇原因 (random causes)或是一般原因(mon causes)，當(dāng)製程在只有機(jī)遇原因出現(xiàn)下操作，則稱其在管制中 (in control)。如發(fā)現(xiàn)有超出管制界限外之點(diǎn)或是出現(xiàn)特殊圖樣 (異常現(xiàn)象 )時(shí)，應(yīng)立即由人員、機(jī)械設(shè)備、材料、方法(4M)或環(huán)境 (1E)等方向進(jìn)行層別以追查原因，進(jìn)而改善製程。 2) 管制用管制圖 – 偵測(cè) 可歸屬原因 是否發(fā)生同時(shí) 追查 並迅速消除 此原因。 World Class Quality CONFIDENTIAL 45 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 e. 計(jì)算每組平均值 (X)及全距 (R) f. 計(jì)算總平均值 (X)及平均全距 (R)。 World Class Quality CONFIDENTIAL 48 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 k. 繪製直方圖 – 將所有數(shù)據(jù)作成次數(shù)分配，如不呈常態(tài)分配，則宜應(yīng)用層別，合理分組等方法，檢討原數(shù)據(jù)，直到數(shù)據(jù)呈常態(tài)分配。 World Class Quality CONFIDENTIAL 50 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 2) 建立管制用管制圖 經(jīng)解析用管制圖對(duì)製程解析後，確定製程能力能滿足規(guī)格需求，且將來(lái)係按此種同樣條件繼續(xù)生產(chǎn)時(shí)，可以固定管制界限開(kāi)始管制製程。 2) 在管制界限內(nèi)的點(diǎn)出現(xiàn)特殊圖樣 (Pattern)。以面銅厚度的例子而言，即是 Lottolot均勻性不好。 ? 管制圖建立步驟： 先建立解析用管制圖，待確定管制界限後，再建立管制用管制圖 1) 建立解析用管制圖 a. 選定管制項(xiàng)目 – 通常即為某一個(gè)站點(diǎn)的不良率。 b. 持續(xù)蒐集數(shù)據(jù)並點(diǎn)圖 c. 管制界限之重新計(jì)算 – 當(dāng)不良率有明顯的變化時(shí) (變好或變差 )，應(yīng)重新計(jì)算管制界限，以符合製程不良率之現(xiàn)況。以壓合針孔凹陷數(shù)為例，不同大小板面所產(chǎn)生的缺點(diǎn)數(shù)並不能直接比較。 2) 每種料號(hào) (製程 )的抽樣樣本大小一致。 (2) 抽樣頻率不固定 ：生產(chǎn)量小的料號(hào)，取樣時(shí)間變得十分不固定，造成一週內(nèi)僅有一兩點(diǎn)數(shù)據(jù)的狀況。這時(shí)不良率的值通常很小 (以 ppm計(jì) )，造成圖形不易區(qū)別，因此使用不良數(shù)做為繪圖數(shù)據(jù)點(diǎn)。 c. 決定樣本分組方式 –通常皆以一定時(shí)間之產(chǎn)品為一組、或以每批產(chǎn)品為一組。 ? OCAP應(yīng)該由現(xiàn)場(chǎng)的第一線作業(yè)人員執(zhí)行，以確保其時(shí)效性。當(dāng)然也有可能是突然出現(xiàn)的可歸屬原因 (例如 : 設(shè)備故障、作業(yè)員操作錯(cuò)誤 …. 等 )所造成的。 2) 大部份的點(diǎn) (約 70%)集中在中心線，但不能所有的點(diǎn)都靠近中心線。 World Class Quality CONFIDENTIAL 49 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 如製程分佈範(fàn)圍比規(guī)格界限之寬度為寬時(shí)，表示製程能力不足。 World Class Quality CONFIDENTIAL 47 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 如有點(diǎn)超出管制界限 ,則應(yīng)調(diào)查原因，並加以消除。 World Class Quality CONFIDENTIAL 44 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 b. 蒐集數(shù)據(jù) – 蒐集最近之?dāng)?shù)據(jù) 120個(gè)以上，分析其製程表現(xiàn) (是否合乎規(guī)格 )，若製程表現(xiàn)指標(biāo) (Ppk)太差，應(yīng)重新調(diào)整製程條件以改善現(xiàn)況。管制圖可用來(lái)判斷品質(zhì)變異之顯著性，以測(cè)知製程是否在正常狀態(tài)。 World Class Quality CONFIDENTIAL 35 Unimicron 何謂統(tǒng)計(jì)製程管制 我們?yōu)楹我獙W(xué)統(tǒng)計(jì)製程管制？ 品質(zhì)並不是某一個(gè)人或是某一部門的責(zé)任，如果要生產(chǎn)的產(chǎn)品能達(dá)到顧客所要求的「品質(zhì)」，公司裡每一個(gè)人包括生產(chǎn)線上的作業(yè)員、打字員、採(cǎi)購(gòu)員、工程師以及公司的總經(jīng)理等對(duì)產(chǎn)品的品質(zhì)都有責(zé)任。 在這種情況下， Ppk指標(biāo)比較能反映出製程實(shí)際的表現(xiàn)。 Cpk指標(biāo) 的計(jì)算 Cpk = (1 |Ca|) x Cp (當(dāng) Ca = 0 或無(wú)法計(jì)算時(shí)， Cpk = Cp) 另一種直接的計(jì)算方法是： Cpl = (?LSL)/3? ^ ^ Cpu = (USL?)/3? ^ ^ Cpk = min { Cpl , Cpu } World Class Quality CONFIDENTIAL 27 Unimicron 製程能力綜合指標(biāo) Cpk 等級(jí) C p k 值 A+ 7 ≦ C p k A 3 ≦ C p k B 0 ≦ C p k C 7 ≦ C p k 0 D C p k ? Cpk的等級(jí)判定： Cpk值越大，表示製程精密度越好。3? (亦即是6?)。 World Class Quality CONFIDENTIAL 15 Unimicron 利用樣本數(shù)據(jù)估算母體標(biāo)準(zhǔn)差 母體標(biāo)準(zhǔn)差的估計(jì) 在母體為常態(tài)分佈的情況下，利用「具代表性」的樣本數(shù)據(jù)可以有效地估計(jì)出母體的標(biāo)準(zhǔn)差。 ? 在統(tǒng)計(jì)學(xué)上，稱全部電鍍板的面銅厚度為 母體數(shù)據(jù) ，而抽樣得來(lái)的稱為 樣本數(shù)據(jù) 。 World Class Quality CONFIDENTIAL 9 Unimicron 常態(tài)分佈 ? 數(shù)據(jù)在分組之後，按照各組次數(shù)的分配，可以出現(xiàn)不同的分佈圖型。眾數(shù)則是在一組數(shù)據(jù)中，出現(xiàn)次數(shù)最多之?dāng)?shù)值。例如在製造現(xiàn)場(chǎng)收集到 20個(gè)線寬的數(shù)據(jù)，分別為： World Class Quality CONFIDENTIAL 6 Unimicron 數(shù)據(jù)的集中趨勢(shì)指標(biāo) 集中趨勢(shì)指標(biāo) (續(xù) ) 經(jīng)過(guò)計(jì)算後，得到平均值為 3。全距即是 – = 註 : 使用全距做為離散趨勢(shì)指標(biāo)的好處是容易計(jì)算，但卻沒(méi)有考慮到數(shù)據(jù)次數(shù)分配的問(wèn)題。而全體男同學(xué)的平均身高為 175公分，標(biāo)準(zhǔn)差為 5公分。 接下來(lái)的問(wèn)題是：如何以這些樣本數(shù)據(jù)來(lái)估算母體的平均值及標(biāo)準(zhǔn)差？ World Class Quality CONFIDENTIAL 14 Unimicron 樣本數(shù)據(jù)的蒐集 首先，先分別算出各樣本組的平均值、全距以及標(biāo)準(zhǔn)差。 ? 製程的變異程度越小 (標(biāo)準(zhǔn)差越小 )，表示精密度越好。 Ca指標(biāo) 的計(jì)算 Ca = (? m)/[(USLLSL)/2] ^ 註：?jiǎn)芜呉?guī)格因?yàn)闆](méi)有規(guī)格中心值，故無(wú)法計(jì)算 Ca 值 World Class Quality CONFIDENTIAL 24 Unimicron 製程準(zhǔn)確度 Ca ? Ca的等級(jí)判定： Ca 的絶對(duì)值越小，表示製程準(zhǔn)確度越好。因此使用不分組的方式來(lái)估計(jì)製程標(biāo)準(zhǔn)差。 World Class Quality CONFIDENTIAL 34 Unimicron 為什麼要採(cǎi)用統(tǒng)計(jì)製程管制 此外，製程中可能存在有其它的變異，這些變異的來(lái)源有機(jī)器的不適當(dāng)調(diào)整、操作員之錯(cuò)誤、原料之不良、機(jī)器故障或損壞等，這些變異的幅度通常較機(jī)遇原因之變異為大，當(dāng)這些變異出現(xiàn)時(shí)，代表製程不可接受。 World Class Quality CONFIDENTIAL 37 Unimicron 管制圖基本原理 管制圖為一種圖形表示工具，用以顯示從樣本中量測(cè)或計(jì)算所得之品質(zhì)特性。 1) 計(jì)量值管制圖 (Variable Control Chart) 2) 計(jì)數(shù)值管制圖 (Attribute Control Chart) ? 依用途目的可分為： World Class Quality CONFIDENTIAL 41 Unimicron 管制圖繪製流程 決定管制特性 安定狀態(tài) ? 決定抽樣計(jì)劃 蒐集數(shù)據(jù) 並分析製