spc數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析與管理-xxxx18(文件)
【正文】 項分布的近似，其中 λ 為 np。 ? ：過程的異常趨勢可即時對策 ， 預(yù)防整批不良 ，以減少浪費 ， 從而降低損失成本 。 基本概念 過程控制系統(tǒng) ? 過程控制系統(tǒng) 人 機(jī)器 材料 方法 環(huán)境 我們的工作方式 資源的整合 產(chǎn)品 服務(wù) 顧客 輸入 過程 /系統(tǒng) 輸出 過程的呼聲 統(tǒng)計方法 顧客的呼聲 識別不斷變化的需要求和期望 過程控制系統(tǒng) ? 變異：任何系統(tǒng)中均存在變異，因此沒有任何兩件成品是完全相同 的。 但誤將偶然原因當(dāng)作是異常 原因，而 改變制程的生產(chǎn) 條件，不但影響 生產(chǎn)效率也會 導(dǎo)致產(chǎn)品品質(zhì) 下降。若數(shù)據(jù)為『 常態(tài)分配 』 則在 μ177。 ? 管制界限受制程的自然允差界限 (natural tolerance limits)的驅(qū)策，通常取制程平均數(shù)上下 3s所做的界限稱為自然允差上、下界限，以 Untl與 Lntl表示 。 由管制界限的寬度 177。 PPK 有偏移的長期過程性能指數(shù)； K 偏移量 ∑X 樣本數(shù)據(jù)求和 R 極差 = 單組最大值 單組最小值 ∑ R 每組極差求和 標(biāo)準(zhǔn)差 (Standard Deviation)是一組數(shù)值自平均值分散開來的程度的一種測量觀念。例如在物理科學(xué)中，做重復(fù)性測量時，測量數(shù)值集合的標(biāo)準(zhǔn)差代表這些測量的精確度。再求出 25 個子組極差的 平均值 ； 步驟 3：查 d2系數(shù)表、 、 計算均值控制圖和極差控制圖的管制上限（ UCL)、管制下限（ LCL)； 步驟 4：根據(jù)管制上限（ UCL)、管制下限（ LCL) 和中心線（ CL）設(shè)置 Y坐標(biāo)軸格式和刻度。 ? R Chart計算簡單，若是使用計算機(jī)軟件執(zhí)行 SPC時 ， 采用S Chart； 另外 S Chart可用于組內(nèi)樣本數(shù)不同 。 ?每種狀態(tài)發(fā)生的機(jī)率皆很小 (%)，因此若發(fā)生視為異常。 控制圖在實際工作應(yīng)用中常見的錯誤 Thank You ! 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。 ? 典型的判讀準(zhǔn)則選用參考如下 ︰ ?準(zhǔn)則 5最為通用； ?準(zhǔn)則 6較能探測平均值的變化； ?準(zhǔn)則 8最能探測層別的問題； ?準(zhǔn)則 7能探測數(shù)據(jù)來源以及展示改善的過程； ?準(zhǔn)則 3用于探測過程的漂移 控制圖的利用 ? 當(dāng)發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定，并尋找到特殊原因后，設(shè)法予以消除，然后剔除這些異常點的數(shù)據(jù)，再利用剩下來的數(shù)據(jù)（若所剩數(shù)據(jù)不足 25組則需重新收集適當(dāng)數(shù)據(jù)），重新計算管制界限，重新判讀直至穩(wěn)定。 1, ??? ? nxxMR niii 通常定義 控制 圖 (單一觀測值管制圖 , ) Rmx ? MRI ?MRDLCLMRCLMRDUCLdMRxLCLxCLdMRxUCL3422 3 3 ,????????變異管制圖為平均數(shù)管制圖為在此資料型態(tài)下Rmx ? MRI ? 控制 圖 (單一觀測值管制 圖 , ) 組內(nèi)樣本大小固定 ? 假設(shè) m組樣本大小均為 n，若第 i組樣本含有 Di個不良品，則不合格率 為 ? 全部樣本的不合格率 ? 不合格率管制圖 mpmnDp mi imi i ?? ?? ??? 11 ?總樣本總不合格品數(shù)nDp i??npppLCLpCLnpppUCL)()(???????1313P控制 圖 (不良率管制圖 ) ? 不合格品數(shù)管制圖 )1(CL)1(n1ppnpnLppnpnUCLmNpmk k???????? ?nP控制 圖 (不良品數(shù)管制 圖 ) 這里： kN=子集 k中的不良品數(shù)（ k=1,2,3…m ） m=子集數(shù)（組數(shù)） ?????mk kmk kNp11n? 可用來管制 ? 一個檢測單位 (每組樣本數(shù)大小固定 )的總不合格點數(shù)即為 c管制圖 ? 固定樣本下出現(xiàn)不合格點的機(jī)率服從 卜瓦松 分配 ? 基本假設(shè)有 ? 平均缺點數(shù)必須遠(yuǎn)小于所有可能的缺點總數(shù) ? 發(fā)生缺點的機(jī)會很大然而特定位置發(fā)生不合格點的機(jī)率很小且固定 ? 每一樣本發(fā)生不合格點的機(jī)會相同 ? 不合格點的發(fā)生為獨立 c chart(缺點數(shù)管制圖 ) ? 在卜瓦松分配假設(shè)下，平 均 值 為 c，變異數(shù)亦為 c 因此管制界限為 以平均不合格點 數(shù) 作為平均值的估計： ccLCLcCLccUCL33?????ccLCLcCLccUCL33?????c chart(缺點數(shù)管制圖 ) ? 適用時機(jī) ? 在實務(wù)應(yīng)用 上 單 位 樣本數(shù) 可能會不同，無法滿足 c管制圖的假設(shè) ? 此時，使用 u chart單位缺點數(shù)管制圖 ? 定義單位不合格點數(shù) ? 管制界限 ncu ??樣本數(shù)缺點數(shù)??????????????iinuuLCLuCLnuuUCL33U chart(單位缺點管制 圖 ) 檢定法則 ? 控制圖異常 點區(qū)域檢定法則 ?將管制圖自上管制界限（ UCL）至下管制界限（ LCL）間隔分成 6個區(qū)域，每一個區(qū)域范圍恰為一個 標(biāo)準(zhǔn)偏差 ，分別給予 ABC的稱號。對于 CPK 5M1E方面進(jìn)行原因分析，且制定糾正預(yù)防措施。 ?一般先判斷 R(
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