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【正文】 ， X2 ? ? ? ?為子組內(nèi)的每個(gè)測(cè)量值。 （ 例如：平均值圖上 1個(gè)刻度代表 ，則在極差圖上 1個(gè)刻度代表 ） 1將均值和極差畫(huà)到控制圖上 51 X 圖和 R 圖上的點(diǎn)描好后及時(shí)用直線聯(lián)接，瀏覽各點(diǎn)是否 合理，有無(wú)很高或很低的點(diǎn)，并檢查計(jì)算及畫(huà)圖是否正確。 4 5 21 計(jì)算平均極差（ R）及過(guò)程均值（ X） 6 R=（ R1+R2+…+Rk ） / k（ K表示子組數(shù)量） 7 8 X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 9 22 計(jì)算控制限 10 計(jì)算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時(shí)子組的均 11 值和極差的變化和范圍。在這種情況下沒(méi)有下控制限，這意味著對(duì)于一個(gè)樣本數(shù)為 6的子組， 6個(gè)“同樣的”測(cè)量結(jié)果是可能成立的。 3 過(guò)程控制分析 4 分析控制圖的目的在于識(shí)別過(guò)程變化或過(guò)程均值不恒定的證據(jù)。 均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（ Xs圖） 一般來(lái)講 ， 當(dāng)出現(xiàn)下列一種或多種情況時(shí)用 S圖代替 R圖： a 數(shù)據(jù)由計(jì)算機(jī)按設(shè)定時(shí)序記錄和 /或描圖的 ， 因 s的計(jì)算程序 容易集成化 。 注： s 圖的刻度尺寸應(yīng)與相應(yīng)的 X圖的相同。見(jiàn)下表： 當(dāng)需要計(jì)算過(guò)程能力時(shí)；將 σ 帶入 XR圖 42的公式即可。見(jiàn)下表： 注： 在樣本容量低于 6時(shí)，沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)差的下控制限。 11 數(shù)據(jù)的收集（基本同 XR圖） 111 如果原始數(shù)據(jù)量大，常將他們記錄于單獨(dú)的數(shù)據(jù)表，計(jì)算 出 X 和 s 112 計(jì)算每一子組的標(biāo)準(zhǔn)差 s = ∑ (Xi–X )178。 6 7 注 1： R 圖和 X 圖應(yīng)分別分析，但可進(jìn)行比較，了解影響過(guò)程 8 的特殊原因。 ? 各控制限畫(huà)成虛線。 13 計(jì)算公式： 14 UCLx=X+ A2R UCLR=D4R 15 LCLx=X A2R LCLR=D3R 16 接上頁(yè) 注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。 注： 對(duì)于還沒(méi)有計(jì)算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 42 刻度選擇 ： 接上頁(yè) 對(duì)于 X 圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對(duì)于 R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 接上頁(yè) 113 子組數(shù)： 子組越多，變差越有機(jī)會(huì)出現(xiàn)。 11 選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù) 111 子組大小 ：一般為 5件連續(xù)的產(chǎn)品，僅代表單一刀具 /沖頭 /過(guò)程 流等。 時(shí)間 范圍 局部措施和對(duì)系統(tǒng)采取措施 ? 局部措施 ? 通常用來(lái)消除變差的特殊原因 ? 通常由與過(guò)程直接相關(guān)的人員實(shí)施 ? 通?？杉m正大約 15%的過(guò)程問(wèn)題 ? 對(duì)系統(tǒng)采取措施 ? 通常用來(lái)消除變差的普通原因 ? 幾乎總是要求管理措施，以便糾正 ? 大約可糾正 85%的過(guò)程問(wèn)題 過(guò)程控制 受控 （消除了特殊原因）
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