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【正文】 計(jì)劃 實(shí)施 措施 研究 措施 研究 計(jì)劃 實(shí)施 改進(jìn)過(guò)程 措施 研究 改進(jìn)過(guò)程從而更好地理解 普通原因變差 減少普通原因變差 ６ 管制圖類(lèi)型 計(jì)量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù) P chart 不良率管制圖 Xδ均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 nP chart 不良數(shù)管制圖 X R 中位值極差圖 C chart 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 XMR 單值移動(dòng)極差圖 U chart 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖 與過(guò)程有關(guān)的控制圖 計(jì)量單位：（ mm, kg等） 過(guò)程 人員 方法 材料 環(huán)境 設(shè)備 1 2 3 4 5 6 結(jié)果舉例 控制圖舉例 螺絲的外徑（ mm） 從基準(zhǔn)面到孔的距離（ mm） 電阻（ Ω） 錫爐溫度（ 186。 ５ .持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制概述 變差的普通原因和特殊原因 普通原因： 是指過(guò)程在受控的狀態(tài)下，出現(xiàn)的具有 穩(wěn)定的且可重 復(fù)的分布過(guò)程的變差的原因 。 鏈（ Run） 控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的 點(diǎn) 。 ? 為制程分析提供依據(jù)。 ? 1924年，美國(guó)的 休哈特博士 提出將 3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過(guò)程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”，對(duì)過(guò)程變量進(jìn)行控制，為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。 單值（ Individual） 一個(gè)單個(gè)的單位產(chǎn)品或一個(gè)特性的 一次測(cè)量 ，通常用符號(hào) X 表示。 名稱 解釋 普通原因（ Common Cause） 造成變差的一個(gè)原因，它影響被研究過(guò)程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機(jī)過(guò)程變差的一部分。 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 范圍 范圍 范圍 范圍 但它們形成一個(gè)模型 ， 若穩(wěn)定 ， 可以描述為一個(gè)分布 范圍 范圍 范圍 分布可以通過(guò)以下因素來(lái)加以區(qū)分 位置 分布寬度
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