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2023-03-11 15:11:05 本頁面
【正文】 人員 方法 材料 環(huán)境 設(shè)備 1 2 3 4 5 6 結(jié)果舉例 控制圖舉例 螺絲的外徑（ mm） 從基準(zhǔn)面到孔的距離（ mm） 電阻（ Ω） 錫爐溫度（ 186。只用特殊原因被查出且采取 措 施 ,否則它們將繼續(xù)不可預(yù)測的影響過程的輸出。 ５ .持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計過程控制概述 變差的普通原因和特殊原因 普通原因： 是指過程在受控的狀態(tài)下，出現(xiàn)的具有 穩(wěn)定的且可重 復(fù)的分布過程的變差的原因 。有時被稱為可查明原因，它存在的信號是：存在超過控制限的點或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機(jī)性的圖形。 鏈（ Run） 控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的 點 。如果數(shù)據(jù)的個數(shù)為偶數(shù)，一般將中間兩個數(shù)的平均值作為中位數(shù)。 ? 為制程分析提供依據(jù)。于是，英、美等國開始著手研究用統(tǒng)計方法代替事后檢驗的質(zhì)量控制方法。 ? 1924年，美國的 休哈特博士 提出將 3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”，對過程變量進(jìn)行控制，為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。 ? 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措 施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。 單值（ Individual） 一個單個的單位產(chǎn)品或一個特性的 一次測量 ，通常用符號 X 表示。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。 名稱 解釋 普通原因（ Common Cause） 造成變差的一個原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機(jī)過程變差的一部分。普通原因表現(xiàn)為一個穩(wěn) 系統(tǒng)的 偶然原因 。 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 范圍 范圍 范圍 范圍 但它們形成一個模型 ， 若穩(wěn)定 ， 可以描述為一個分布 范圍 范圍 范圍 分布可以通過以下因素來加以區(qū)分 位置 分布寬度 形狀 或這些因素的組合 如果僅存在變差的普通原因， 目標(biāo)值線 隨著時間的推移，過程的輸 出形成一個穩(wěn)定的分布并可 預(yù)測。C ） 工程更改處理時間（ h） X圖 R圖 接上頁 測量方法必須保證始終產(chǎn)生準(zhǔn)確和精密的結(jié)果 不精密 精密 準(zhǔn)確 不準(zhǔn)確 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 均值和極差圖（ XR） 收集數(shù)據(jù) 以樣本容量恒定的子組形式報告，子組通常包括 25件連續(xù)的產(chǎn)品，并周性期的抽取子組。） 112 子組頻率 ：在適當(dāng)?shù)臅r間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù)，這樣子組才能 反映潛在的變化，這些變化原因可能是換班 /操作人 員更換 /材料批次不同等原因引起。 12 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) （見下圖） 1計算每個子組的均值（ X）和極差 R 對每個子組計算： X=（ X1+X2+…+Xn ） / n R=XmaxXmin 式中： X1
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