spc數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析與管理-xxxx18(完整版)
【正文】 本 統(tǒng) 計 量 樣本標準差 s 表示 樣本全距 R 表示 樣本平均 表示 樣本變異 表示 2 s X _ 表示樣本特征的統(tǒng)計量種類 R 樣本全距 s 樣本標準差 δ 母標準差 樣本變異 母變異 描述統(tǒng)計量個體 內(nèi)部的差異程度 樣本平均 μ 母平均 描述統(tǒng)計量總體 分布位置程度 符號 名 稱 符號 名 稱 樣本統(tǒng)計量 母體統(tǒng)計量 統(tǒng)計量表述的含義分類 2 s 2 δ X _ 兩者的對比一覽表 統(tǒng)計特性值分類一 數(shù)據(jù)的特征與測度 ? 在品管改善實務 上應特別 重視 變異性 ，先縮小變異再移動平均，會有比較好的 效果。 性質(zhì)，可作為發(fā)展統(tǒng)計推論程序中的量測變量基本機率模型 ? 大多數(shù)自然界與工業(yè)產(chǎn)品的變異均可適用常態(tài)分布 ? 常態(tài)分布為質(zhì)量管理技術(shù)的基礎 樣本數(shù) 大 時， 平均數(shù)的抽樣分布 會近似于常態(tài)分布 (中心 極限定理 )，此結(jié)果為統(tǒng)計在工業(yè)應用上重要基礎 ),(~ 2??NX常態(tài)分布的圖形 外形像鐘，左右對稱 1. 其眾數(shù) (mode)產(chǎn)生在 處 ,即曲線發(fā)生最大值時的橫坐標為 。對于正態(tài)分布，正負三個標準差之內(nèi)（深藍，藍，淺藍）的比率合起來為 99%。 n很大而 p很小時，泊松分布可作為二項分布的近似，其中 λ 為 np。 基本概念 過程控制系統(tǒng) ? 過程控制系統(tǒng) 人 機器 材料 方法 環(huán)境 我們的工作方式 資源的整合 產(chǎn)品 服務 顧客 輸入 過程 /系統(tǒng) 輸出 過程的呼聲 統(tǒng)計方法 顧客的呼聲 識別不斷變化的需要求和期望 過程控制系統(tǒng) ? 變異：任何系統(tǒng)中均存在變異，因此沒有任何兩件成品是完全相同 的。若數(shù)據(jù)為『 常態(tài)分配 』 則在 μ177。 由管制界限的寬度 177。例如在物理科學中，做重復性測量時，測量數(shù)值集合的標準差代表這些測量的精確度。 ? R Chart計算簡單，若是使用計算機軟件執(zhí)行 SPC時 ， 采用S Chart； 另外 S Chart可用于組內(nèi)樣本數(shù)不同 。 控制圖在實際工作應用中常見的錯誤 Thank You ! 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。 1, ??? ? nxxMR niii 通常定義 控制 圖 (單一觀測值管制圖 , ) Rmx ? MRI ?MRDLCLMRCLMRDUCLdMRxLCLxCLdMRxUCL3422 3 3 ,????????變異管制圖為平均數(shù)管制圖為在此資料型態(tài)下Rmx ? MRI ? 控制 圖 (單一觀測值管制 圖 , ) 組內(nèi)樣本大小固定 ? 假設 m組樣本大小均為 n，若第 i組樣本含有 Di個不良品，則不合格率 為 ? 全部樣本的不合格率 ? 不合格率管制圖 mpmnDp mi imi i ?? ?? ??? 11 ?總樣本總不合格品數(shù)nDp i??npppLCLpCLnpppUCL)()(???????1313P控制 圖 (不良率管制圖 ) ? 不合格品數(shù)管制圖 )1(CL)1(n1ppnpnLppnpnUCLmNpmk k???????? ?nP控制 圖 (不良品數(shù)管制 圖 ) 這里： kN=子集 k中的不良品數(shù)（ k=1,2,3…m ） m=子集數(shù)（組數(shù)） ?????mk kmk kNp11n? 可用來管制 ? 一個檢測單位 (每組樣本數(shù)大小固定 )的總不合格點數(shù)即為 c管制圖 ? 固定樣本下出現(xiàn)不合格點的機率服從 卜瓦松 分配 ? 基本假設有 ? 平均缺點數(shù)必須遠小于所有可能的缺點總數(shù) ? 發(fā)生缺點的機會很大然而特定位置發(fā)生不合格點的機率很小且固定 ? 每一樣本發(fā)生不合格點的機會相同 ? 不合格點的發(fā)生為獨立 c chart(缺點數(shù)管制圖 ) ? 在卜瓦松分配假設下，平 均 值 為 c，變異數(shù)亦為 c 因此管制界限為 以平均不合格點 數(shù) 作為平均值的估計： ccLCLcCLccUCL33?????ccLCLcCLccUCL33?????c chart(缺點數(shù)管制圖 ) ? 適用時機 ? 在實務應用 上 單 位 樣本數(shù) 可能會不同，無法滿足 c管制圖的假設 ? 此時，使用 u chart單位缺點數(shù)管制圖 ? 定義單位不合格點數(shù) ? 管制界限 ncu ??樣本數(shù)缺點數(shù)??????????????iinuuLCLuCLnuuUCL33U chart(單位缺點管制 圖 ) 檢定法則 ? 控制圖異常 點區(qū)域檢定法則 ?將管制圖自上管制界限（ UCL）至下管制界限（ LCL）間隔分成 6個區(qū)域，每一個區(qū)域范圍恰為一個 標準偏差 ，分別給予 ABC的稱號。 ?一般先判斷 R(或 S)控制圖 是否在管制狀態(tài)， 若是則制 程變異在管制狀態(tài)，再去判斷 管制圖是否在管制狀態(tài)。 CPK 有偏移的短期過程能力指數(shù) 。 常態(tài)分配 3σ 2σ 1σ μ +1σ +2σ
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