spc數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析與管理-xxxx18(完整版)
【正文】 本 統(tǒng) 計(jì) 量 樣本標(biāo)準(zhǔn)差 s 表示 樣本全距 R 表示 樣本平均 表示 樣本變異 表示 2 s X _ 表示樣本特征的統(tǒng)計(jì)量種類(lèi) R 樣本全距 s 樣本標(biāo)準(zhǔn)差 δ 母標(biāo)準(zhǔn)差 樣本變異 母變異 描述統(tǒng)計(jì)量個(gè)體 內(nèi)部的差異程度 樣本平均 μ 母平均 描述統(tǒng)計(jì)量總體 分布位置程度 符號(hào) 名 稱(chēng) 符號(hào) 名 稱(chēng) 樣本統(tǒng)計(jì)量 母體統(tǒng)計(jì)量 統(tǒng)計(jì)量表述的含義分類(lèi) 2 s 2 δ X _ 兩者的對(duì)比一覽表 統(tǒng)計(jì)特性值分類(lèi)一 數(shù)據(jù)的特征與測(cè)度 ? 在品管改善實(shí)務(wù) 上應(yīng)特別 重視 變異性 ，先縮小變異再移動(dòng)平均，會(huì)有比較好的 效果。 性質(zhì)，可作為發(fā)展統(tǒng)計(jì)推論程序中的量測(cè)變量基本機(jī)率模型 ? 大多數(shù)自然界與工業(yè)產(chǎn)品的變異均可適用常態(tài)分布 ? 常態(tài)分布為質(zhì)量管理技術(shù)的基礎(chǔ) 樣本數(shù) 大 時(shí)， 平均數(shù)的抽樣分布 會(huì)近似于常態(tài)分布 (中心 極限定理 )，此結(jié)果為統(tǒng)計(jì)在工業(yè)應(yīng)用上重要基礎(chǔ) ),(~ 2??NX常態(tài)分布的圖形 外形像鐘，左右對(duì)稱(chēng) 1. 其眾數(shù) (mode)產(chǎn)生在 處 ,即曲線(xiàn)發(fā)生最大值時(shí)的橫坐標(biāo)為 。對(duì)于正態(tài)分布，正負(fù)三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差之內(nèi)（深藍(lán)，藍(lán)，淺藍(lán)）的比率合起來(lái)為 99%。 n很大而 p很小時(shí)，泊松分布可作為二項(xiàng)分布的近似，其中 λ 為 np。 基本概念 過(guò)程控制系統(tǒng) ? 過(guò)程控制系統(tǒng) 人 機(jī)器 材料 方法 環(huán)境 我們的工作方式 資源的整合 產(chǎn)品 服務(wù) 顧客 輸入 過(guò)程 /系統(tǒng) 輸出 過(guò)程的呼聲 統(tǒng)計(jì)方法 顧客的呼聲 識(shí)別不斷變化的需要求和期望 過(guò)程控制系統(tǒng) ? 變異：任何系統(tǒng)中均存在變異，因此沒(méi)有任何兩件成品是完全相同 的。若數(shù)據(jù)為『 常態(tài)分配 』 則在 μ177。 由管制界限的寬度 177。例如在物理科學(xué)中，做重復(fù)性測(cè)量時(shí)，測(cè)量數(shù)值集合的標(biāo)準(zhǔn)差代表這些測(cè)量的精確度。 ? R Chart計(jì)算簡(jiǎn)單，若是使用計(jì)算機(jī)軟件執(zhí)行 SPC時(shí) ， 采用S Chart； 另外 S Chart可用于組內(nèi)樣本數(shù)不同 。 控制圖在實(shí)際工作應(yīng)用中常見(jiàn)的錯(cuò)誤 Thank You ! 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。 1, ??? ? nxxMR niii 通常定義 控制 圖 (單一觀測(cè)值管制圖 , ) Rmx ? MRI ?MRDLCLMRCLMRDUCLdMRxLCLxCLdMRxUCL3422 3 3 ,????????變異管制圖為平均數(shù)管制圖為在此資料型態(tài)下Rmx ? MRI ? 控制 圖 (單一觀測(cè)值管制 圖 , ) 組內(nèi)樣本大小固定 ? 假設(shè) m組樣本大小均為 n，若第 i組樣本含有 Di個(gè)不良品，則不合格率 為 ? 全部樣本的不合格率 ? 不合格率管制圖 mpmnDp mi imi i ?? ?? ??? 11 ?總樣本總不合格品數(shù)nDp i??npppLCLpCLnpppUCL)()(???????1313P控制 圖 (不良率管制圖 ) ? 不合格品數(shù)管制圖 )1(CL)1(n1ppnpnLppnpnUCLmNpmk k???????? ?nP控制 圖 (不良品數(shù)管制 圖 ) 這里： kN=子集 k中的不良品數(shù)（ k=1,2,3…m ） m=子集數(shù)（組數(shù)） ?????mk kmk kNp11n? 可用來(lái)管制 ? 一個(gè)檢測(cè)單位 (每組樣本數(shù)大小固定 )的總不合格點(diǎn)數(shù)即為 c管制圖 ? 固定樣本下出現(xiàn)不合格點(diǎn)的機(jī)率服從 卜瓦松 分配 ? 基本假設(shè)有 ? 平均缺點(diǎn)數(shù)必須遠(yuǎn)小于所有可能的缺點(diǎn)總數(shù) ? 發(fā)生缺點(diǎn)的機(jī)會(huì)很大然而特定位置發(fā)生不合格點(diǎn)的機(jī)率很小且固定 ? 每一樣本發(fā)生不合格點(diǎn)的機(jī)會(huì)相同 ? 不合格點(diǎn)的發(fā)生為獨(dú)立 c chart(缺點(diǎn)數(shù)管制圖 ) ? 在卜瓦松分配假設(shè)下，平 均 值 為 c，變異數(shù)亦為 c 因此管制界限為 以平均不合格點(diǎn) 數(shù) 作為平均值的估計(jì)： ccLCLcCLccUCL33?????ccLCLcCLccUCL33?????c chart(缺點(diǎn)數(shù)管制圖 ) ? 適用時(shí)機(jī) ? 在實(shí)務(wù)應(yīng)用 上 單 位 樣本數(shù) 可能會(huì)不同，無(wú)法滿(mǎn)足 c管制圖的假設(shè) ? 此時(shí)，使用 u chart單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 ? 定義單位不合格點(diǎn)數(shù) ? 管制界限 ncu ??樣本數(shù)缺點(diǎn)數(shù)??????????????iinuuLCLuCLnuuUCL33U chart(單位缺點(diǎn)管制 圖 ) 檢定法則 ? 控制圖異常 點(diǎn)區(qū)域檢定法則 ?將管制圖自上管制界限（ UCL）至下管制界限（ LCL）間隔分成 6個(gè)區(qū)域，每一個(gè)區(qū)域范圍恰為一個(gè) 標(biāo)準(zhǔn)偏差 ，分別給予 ABC的稱(chēng)號(hào)。 ?一般先判斷 R(或 S)控制圖 是否在管制狀態(tài)， 若是則制 程變異在管制狀態(tài)，再去判斷 管制圖是否在管制狀態(tài)。 CPK 有偏移的短期過(guò)程能力指數(shù) 。 常態(tài)分配 3σ 2σ 1σ μ +1σ +2σ
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