spc統(tǒng)計技術(shù)應(yīng)用培訓(xùn)(文件)
【正文】 ＝ 在控制圖上作出控制線在控制圖上作出控制線? XR控制圖示X控制圖UCLLCLUCLXRR控制圖7點在控制界線外；一個或多個點超出控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要證明依據(jù)。連續(xù)連續(xù) 7點位于平均值的一側(cè)；點位于平均值的一側(cè)；? b.測量系統(tǒng)的改變（新的測試員或量具的變化） 。低于平均極差的鏈，或下降鏈表明下列存在低于平均極差的鏈，或下降鏈表明下列存在的情況如下之一或全部；的情況如下之一或全部；a 測量系統(tǒng)改變，這樣會遮掩過程真實性能的變化。如數(shù)據(jù)點雖在控制界限內(nèi)，如連續(xù) 3點中有 2點落在其外的三分之二的區(qū)域，應(yīng)屬工序質(zhì)量異常（見 3σ圖的說明）3點中有 2點落在其外的三分之二的區(qū)域，屬異常 控制圖報警程序和管理控制圖報警程序和管理? 當控制圖出現(xiàn)警告信號時，由責(zé)任人員填寫 XR控制圖異常報警表，交工藝人員作出分析并制定糾正措施，質(zhì)管部QA負責(zé)跟蹤和考核。? XR圖的控制限為上一次控制圖工序能力分析后，工序穩(wěn)定（即 CPK≥）時控制限，因此開始作一份 SPC控制圖的第一個點時，控制限已經(jīng)生成，并不是 25組數(shù)據(jù)取完后計算的控制限。四、工序能力計算和分析四、工序能力計算和分析 工序能力說明 CP 二級 ? 當工程規(guī)范（公差）為兩側(cè)規(guī)格時，工序能力為 Cpk，其計算為：? Cpk=（ 1K） （ UCLLCL） /6σ==XLST/3σ（規(guī)定公差下限時）? 以上 σ的計算也可用 δ近似代替，以下為估計過程的標準偏差（用 δ表示）公式? δ=N 2 3 4 5 6 7 8 9 10d2 ? 四、有關(guān)四、有關(guān) “控制控制 ”的最后概念的最后概念 ———— 用于進一用于進一步的考慮步的考慮 .? ? 調(diào)查方式按下面方法進行 ：? 按上述原則判別定，可能會出現(xiàn)兩個誤判；（ 1）即冒失者之誤：落入控制圖的機率為 %，也就是說 1000個數(shù)據(jù)，有 3個數(shù)據(jù)可能逸出控制界外，這是隨機原因，不是異常原因造成的變異。（ 2）迷糊者之誤：測量值全部落在控制圖中，且無傾向性，通常也會認為屬隨機原因變異，而判定為正常。初次使用 SPC手法控制產(chǎn)品質(zhì)量的 QC人員經(jīng)常會發(fā)生 α和 β兩種情況的誤判。這種誤判，屬迷糊者之誤，用 β表示 ,一般來說 ,用 α表示。? 五、有關(guān)五、有關(guān) 3σ控制圖的說明：控制圖的說明：? 以樣本平均值 X為中心，以 X?3σ為范圍，作成控制圖時，如質(zhì)量特性值呈現(xiàn)正態(tài)分布時（左、右對稱），則測量的數(shù)據(jù)，就有 % 機率落在 X?3σ范圍內(nèi)，我們可以判定為隨機原因的變異，為安定值。式中： R為子組極差的均值 (在極 ? 當工程規(guī)范（公差）為單向公差界限時， Cpk的計算為：? CpK=USLX/3σ（規(guī)定公差上限時） 三級 工序能力充分 ,可以考核作業(yè)簡化 特級 CP值 當控制限變得越來越好時，應(yīng)對此時的工藝參數(shù)形成文件加以介定，以優(yōu)化管理。明顯的非隨機有規(guī)律變化圖形：除了會出現(xiàn)超過控制界的點或長鏈之外，數(shù)據(jù)中還可能出現(xiàn)其他的易分辨的由于特殊原因造面的圖形，屬工序質(zhì)量異常。輸出值分布寬度減小，這常常是好的狀態(tài)，應(yīng)研究以便推廣應(yīng)用和改進過程。 輸出值分布寬度增加，其原因可能是無規(guī)律的（例如設(shè)備不正?；蚬潭ㄋ蓜樱?，或是由于過程 l（但連續(xù) 35點允許一點、連續(xù) 100點有二點逸出控制界外，可暫不采取糾正措施）UCLXLCLB）控制限之內(nèi)的圖形或趨勢，當出現(xiàn)非隨機有規(guī)律的圖形或趨勢時，盡管所有極差都在控制限內(nèi)，也表明出現(xiàn)這種圖形或趨勢的時期內(nèi)，過程質(zhì)量異?；蜻^程分布寬度發(fā)生變化。XR控制圖分析控制圖分析? （ 1） 圖的縱坐標值，以子組序號為橫坐標值，描出 X圖和 R(4)控制圖描點鏈控制圖描點鏈XX－ A2R計算控制限計算控制限? 2） k? 計算控制限? 將均值和極差畫到控制圖上將均值和極差畫到控制圖上 。選擇控制圖的刻度選擇控制圖的刻度? 式中： X X2．．．．．． Xn為子組內(nèi)的每個測量值， n為子組樣本容量。R=X最大值 － X最小值X? 圖的上方， X圖畫在 R圖的上方， X和R的值為縱坐標，按時間先后的子組為橫坐標，數(shù)據(jù)值以及極差和均值點縱向?qū)R，數(shù)據(jù)欄應(yīng)記錄讀數(shù)的和均值 (X)、極差 (R)以及日期／時間或其它識別子組代碼的空間 ? 1） ? 合理的子組大小、頻率和數(shù)據(jù)? 在控制時段內(nèi)，按抽樣容量 /頻率要求，收集產(chǎn)品工序質(zhì)量或過程特性數(shù)據(jù) 125個或者 100個，然后根據(jù)抽樣時間段連續(xù)性，將數(shù)據(jù)分成 25個子組，每個子組由 4－ 5數(shù)據(jù)組成，每個子組數(shù)據(jù)是在非常相似的生產(chǎn)條件下生產(chǎn)出來的，并且相互之間不存在著系統(tǒng)的關(guān)系，因此，每組之間的變差為普通原因造成的，對于所有的子組的樣品應(yīng)保
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