【正文】 藍(lán)色代表規(guī)格分佈形態(tài) 紅色代表實(shí)際制程分佈形態(tài) 藍(lán)色代表規(guī)格分佈形態(tài) 紅色代表實(shí)際制程分佈形態(tài) 40 抽樣檢驗(yàn)與抽樣計(jì)劃 41 案例分享 在 MBA教學(xué)中有一個(gè)著名的案例： 100個(gè)缺陷品被放進(jìn)大量的合格品中，并作 100%的檢驗(yàn)。 42 生產(chǎn)過(guò)程 樣本 數(shù)據(jù) 抽樣 檢驗(yàn) 與管制界限 比較 UCL CL LCL 在管制圖中發(fā)現(xiàn)不正常狀態(tài) 管制圖 調(diào)整品質(zhì) 供管理人員調(diào)整、改進(jìn)之資料 43 檢驗(yàn) ? 全數(shù)檢驗(yàn) 100%檢驗(yàn) ? 抽樣檢驗(yàn) 自群體中隨機(jī)抽取一定數(shù)量為樣本 ,再透過(guò)對(duì)樣本數(shù)據(jù)的分析 ,以力爭(zhēng)大體反映母體之狀況。 c).節(jié)省檢驗(yàn)費(fèi)用及時(shí)間。 g).受檢物品之群體面積很大，不適合全檢。 ? 在某些計(jì)劃裡，該冒險(xiǎn)率固定為 ，但有時(shí) α則在 ； ? 生產(chǎn)者冒險(xiǎn)率必須配合用以界定 ―好批 ‖品質(zhì)之?dāng)?shù)值 (例如允收品質(zhì) )同時(shí)敘述 ； 50 消費(fèi)者冒險(xiǎn)率 β ? 即在某一個(gè)抽樣計(jì)劃下， 壞批會(huì)被允收 的機(jī)率。 ? 不過(guò)，當(dāng)僅需較低判別力時(shí)，可採(cǎi)用 I級(jí)檢驗(yàn)水準(zhǔn)，當(dāng)需較高判別力時(shí)，就採(cǎi)用 III級(jí)檢驗(yàn)水準(zhǔn)。 ? 只要問(wèn)題能以數(shù)字表示，就可以應(yīng)用 SPC來(lái)分析。 (2) 連續(xù) 35個(gè)點(diǎn)子至多 1個(gè)點(diǎn)子落在控制界限外 。 62 判斷異常的準(zhǔn)則 : 符合下列各點(diǎn)之一就認(rèn)爲(wèi)過(guò)程存在異常因素 : (1) 點(diǎn)子在控制界限外或恰在控制界限上 。 ? 如果除去偶波外還有異波，則産品質(zhì)量的分佈必將 偏離原來(lái)的典型分佈。若變異顯著，則指製程有特殊原因存在，應(yīng)該加以鑑定及矯正?！? 68 品質(zhì)變異 製程在管制狀態(tài)下 69 管制狀態(tài)的存在，可以得到下列實(shí)際利益 顧客、供應(yīng)商 ? 生產(chǎn)製程中各單位間的變異將為最小 ? 判斷品質(zhì)的基礎(chǔ)，並具有最大的可信度 ,降低了檢驗(yàn)費(fèi)用 ? 預(yù)測(cè)產(chǎn)品良率，並有最大的準(zhǔn)確度 ? 提供改變規(guī)格界限以獲得實(shí)際利益的依據(jù) ? 供應(yīng)商的管制証明作為顧客接收產(chǎn)品的根據(jù) 70 中心極限定理 ? 定義 如果樣本規(guī)模足夠大，對(duì)于任意總體，樣本平均數(shù)的取樣分布類似于正態(tài)分布 自 《 管理者統(tǒng)計(jì)學(xué)思想 》 , Hildebrand Ott 樣本平均數(shù) 總體 總體 樣本平均數(shù) 71 中 心 極限定理 ? 正式定義： 如果從一個(gè)有限的平均數(shù)為 μ 和標(biāo)準(zhǔn)差為 ? 的總體中重覆地抽取數(shù)量為 n的隨機(jī)樣本，那麼，當(dāng) n足夠大時(shí)，各個(gè)樣本平均數(shù) (從重復(fù)和樣本中計(jì)算得來(lái) )的 分布 將近似 正 態(tài)，其平均數(shù)為 μ並且標(biāo)準(zhǔn)差等於總體標(biāo)準(zhǔn)差 ?除以 n的平方根 . (注：當(dāng) n增加時(shí)，近似值變得更精確 )。 76 不同製程管制對(duì)象有不同的資料，所有的資料都可歸類到下列其中一種： － 「好或不好」、「合格或不合格」等 。 收集資料時(shí)，如果可能應(yīng)該盡量收集定量資料，因?yàn)槎抗苤茍D所需的比較性計(jì)算較少，而且能提供較多的資訊 77 控制上限 UCL Upper Control Limit 控制下限 LCL Lower Control Limit 3σ 3σ 公差上限 Tu 公差下限 TL 中心線 CL Central Limit 樣品編號(hào)（或取樣時(shí)間） 質(zhì)量特性 x 78 ?製程之 線上 (online)監(jiān)視 ?決定 過(guò)去 之製程數(shù)據(jù)是否在管制內(nèi) 未來(lái) 之製程是否將在管制內(nèi) ?預(yù)測(cè)一些製程參數(shù)，例如平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差、不 良 率等。 可提供製程參數(shù)、製程之穩(wěn)定程度和製程能力 83 產(chǎn)品質(zhì)量特性 定性 定量 連續(xù) 離散 計(jì)量值 計(jì)數(shù)值 計(jì)件值 計(jì)數(shù)值 產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)及其統(tǒng)計(jì)描述 84 控制圖的種類 按 產(chǎn)品質(zhì)量的特性 來(lái)分類 ， 控制圖可分為 計(jì)量值 控制圖與 計(jì)數(shù)值 控制圖； 按 控制圖的用途 來(lái)分類，控制圖可分為 分析用 控制圖與 控制用 控制圖； 85 適用于：不合格品數(shù)、不合格品率、缺陷數(shù)、單位缺陷數(shù)等離散變量。常用的計(jì)量值控制圖有下面幾種 ： 1. 均值－極差控制圖（ 圖） 2. 中位數(shù)－極差控制圖（ 圖） 3. 單值－移動(dòng)極差控制圖（ 圖） 4. 均值－標(biāo)準(zhǔn)差控制圖（ 圖） Rx?~ sSx? 指是產(chǎn)品須經(jīng)由實(shí)際量測(cè)或測(cè)試而取得的連續(xù)性實(shí)際值，並對(duì)其做數(shù)理分析，以說(shuō)明該產(chǎn)品在此量測(cè)特性的品質(zhì)狀況的方法。 B級(jí) :有必要可能將其改進(jìn)為 A級(jí)。 99 Cp製造潛力 (Cp Process potential) Cp(製程潛力 )是一項(xiàng)有關(guān)製程之指數(shù)，為容差範(fàn)圍對(duì)六個(gè) Sigma離勢(shì)之比率。設(shè)若某一邊規(guī)格附加了某些特性，則能力指數(shù)或許應(yīng)改為： C p u= USLμ 3σa (單邊規(guī)格上限 ) C p l= μLSL 3σa (單邊規(guī)格下限 ) 或 101 Cp等級(jí)之解說(shuō) 等級(jí)評(píng)定後之處置原則 (Cp等級(jí)之處置 ) A級(jí) :此一製程甚為穩(wěn)定，可以將規(guī)何許容差縮小或勝任更精密之工作。 以上也是與 Ca一樣，僅是一些基本原則，在一般上 Cp如果不良時(shí)， 其對(duì)策方法是技術(shù)單位為主，製造單位為副，品管單位為輔。 Cpk是總合 Ca(k)和 Cp二值之指數(shù)，其計(jì)算式為 : 當(dāng) Ca =0時(shí)， Cpk =Cp；單邊規(guī)格時(shí)， Cpk即以 Cp值計(jì)，但需 取 絕對(duì)值。 P p k= 規(guī)格上限 X bar 3σp X bar規(guī)格下限 3σp 或 (取其較小值 ) 106 PPM： Part Per Million 是指製程中所產(chǎn)生之百萬(wàn)分之不良 率 DPM： Defect Per Million 是指製程中所產(chǎn)生之百萬(wàn)分之缺點(diǎn)數(shù) 何謂 PPM、 DPM？ 107 (各組的不良率 ) (各組不良率的平均值 ) 1. P(不良率 )管制圖 : ?計(jì)數(shù)值 n 108 2. N P(不良數(shù) )管制圖 : 109 3. C(缺點(diǎn)數(shù) )管制圖 : 110 4. U(單位缺點(diǎn)數(shù) )管制圖 : 111 第三部分 ? 規(guī)格界限與管制界限的分析 ? 計(jì)量值圖形分析 ? 制程能力分析 ? 管制圖判讀 112 規(guī)格界限與管制界限 ? 規(guī)格界限 ：判定一單位產(chǎn)品合格與否的準(zhǔn)則； ? 管制界限 ：決定一個(gè)製程是否受到值得加以鑑定的變異原因所干擾；對(duì)每組平均數(shù)的超限與否進(jìn)行管制； 113 計(jì)算各樣組的平均數(shù) 計(jì)算這些組平均數(shù)的平均數(shù) 1. X barR(平均數(shù)全距 )管制圖 : ?計(jì)量值 114 計(jì)算各樣組的平均數(shù) 計(jì)算這些組平均數(shù)的平均數(shù) 2. X barS(平均數(shù)標(biāo)準(zhǔn)差 )管制圖 : 3 3 115 計(jì)算各樣組的中位數(shù) 計(jì)算這些組中位數(shù)的平均數(shù) 3. X medR(中位數(shù) )管制圖 : 116 4. XR m(個(gè)別 移動(dòng)單值 )管制圖 : 117 制程能力分析 管制圖判讀 118 第四部分 ? SPC與失控分析 (8D) ? 邁向 SIX SIGMA ? SIX SIGMA的含意、思路 ? 結(jié)訓(xùn)考試 119