spc統(tǒng)計(jì)技術(shù)和制成管制(文件)
【正文】 管制圖能解決之問(wèn)題 ：有效的抽樣管制，不用全數(shù)檢驗(yàn)，不良率 低，得以控制成本。 ：估計(jì)機(jī)器能力，可妥善安排適當(dāng)機(jī) 器生產(chǎn)適當(dāng)零件。 σ訂為品質(zhì)缺點(diǎn)的基準(zhǔn)理由 ◎在製程無(wú)變異情況下 (Cp=Cpk=2)，產(chǎn)生之缺點(diǎn)率僅為 。1σ 317400 177。5σ 177。2σ 308700 177。6σ 48 著作權(quán)科建所有，重製必究 常態(tài)分佈 製程能力指數(shù) Cp與製程不良率 P（ ppm）對(duì)照表（平均值不偏移）。kσ Cp 不良率 ppm 177。kσ Cp 不良率 ppm 177。4σ 6210 177。kσ 百分比（ %） 百萬(wàn)分缺點(diǎn)數(shù) 177。3σ 2700 177。 45 著作權(quán)科建所有，重製必究 常態(tài)分佈 46 著作權(quán)科建所有，重製必究 常態(tài)分佈 177。 41 著作權(quán)科建所有，重製必究 製程能力分析 ↓(準(zhǔn)確度越低越佳 ) Ca ＝ － Sc / (T/2) ↑(精密度越高越佳 ) Cp ＝ T/6σ( 雙邊規(guī)格 ) Cp ＝ (Su－ )/3σ或 ( － SL) / 3σ之最小值 (單邊規(guī)格 ) ↑（製程能力越高越佳） Cpk ＝ (1－ │Ca│) Cp；單邊規(guī)格時(shí)， Cpk=Cp。 ：製程的異常趨勢(shì)可即時(shí)發(fā)現(xiàn)並對(duì)策，預(yù)防 整批不良，以減少浪費(fèi)。 。 SPC前未作充分準(zhǔn)備。 3. 9 點(diǎn)在同一側(cè)。 6. 9 點(diǎn)在同一側(cè)。 2. 3 點(diǎn)中有 2點(diǎn)分佈於從中心線起算 2 Sigma以上 (同側(cè) ) 。 3. 有點(diǎn)子逸出管制界限之現(xiàn)象 。 31 著作權(quán)科建所有，重製必究 管制圖的判定方法 ? 不正常點(diǎn)子之動(dòng)態(tài)之管制圖 1. 在中心線附近無(wú)點(diǎn)子 。 1. 多數(shù)的點(diǎn)子 ， 集中在中心線附近 ， 且兩邊對(duì)稱 。（ n=5） XRX19 著作權(quán)科建所有，重製必究 － R管制圖用數(shù)據(jù)表 X 製品名稱：紫銅管 機(jī)械號(hào)碼： XXX 品質(zhì)特性：內(nèi)徑 操 作 者： XXX 測(cè)定單位： m/m 測(cè) 定 者： XXX 製造場(chǎng)所： XXX 抽樣期限： 自 年 月 日 至 年 月 日 樣組 測(cè)定值 R 樣組 測(cè)定值 R X1 X2 X3 X4 X5 X1 X2 X3 X4 X5 1 50 50 49 52 51 3 14 53 48 47 52 51 6 2 47 53 53 45 50 8 15 53 48 49 51 52 5 3 46 45 49 48 49 4 16 46 50 53 51 53 7 4 50 48 49 49 52 4 17 50 52 49 49 49 3 5 46 48 50 54 50 8 18 50 49 50 49 51 2 6 50 49 52 51 54 5 19 52 49 52 53 50 4 7 47 49 50 48 52 5 20 50 47 50 53 52 6 8 48 50 46 49 51 5 21 52 49 51 53 50 4 9 50 50 49 51 53 4 22 55 54 51 51 50 5 10 49 51 51 46 48 5 23 50 54 52 50 49 5 11 51 50 49 46 50 5 24 47 51 51 52 52 5 12 50 50 49 52 51 3 25 53 51 51 50 51 3 13 49 49 49 50 55 6 1,250 120 X20 著作權(quán)科建所有，重製必究 － R管制圖用數(shù)據(jù)表 X 與 R算出記入數(shù)據(jù)表內(nèi)。2σ % % 177。2σ % 177。 10 著作權(quán)科建所有，重製必究 製程中只有共同原因的變異圖示 (製程穩(wěn)定且可預(yù)測(cè)的 ) 11 著作權(quán)科建所有，重製必究 製程中有特殊原因的變異圖示 (製程不穩(wěn)定，變化不可預(yù)測(cè) ) 12 著作權(quán)科建所有，重製必究 第一種錯(cuò)誤與第二種錯(cuò)誤 (冒險(xiǎn)率： α。2σ % % μ177。Kσ 在內(nèi)之或然率 在外之或然
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