【正文】 下限計(jì)算出來是負(fù)數(shù)時(shí) ,必須將其改為“ 0” 制作 :品管部 圖 1 圖 2 制作 :品管部 二 . C chart缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (要 20組以上 ,檢驗(yàn)數(shù)需相同 ) : 組 數(shù) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 檢驗(yàn)數(shù) 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 缺點(diǎn)數(shù) 5 6 9 5 6 7 8 6 9 7 5 4 2. 計(jì)算 CL=C=(C1+C2+C3+…….Ck)/k k= 組數(shù) CL=C=(5+6+9+……..4) / 12 = 3. 計(jì)算 UCL=C+3* C =+3* = 4. 計(jì)算 LCL=C3* C =* = 0 制作 :品管部 5. 圖示 制作 :品管部 三 . U chart單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (要 20組以上 ,檢驗(yàn)數(shù)可不相同 ) : 組 數(shù) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 檢驗(yàn)數(shù) 400 375 365 420 405 410 360 350 400 400 440 450 430 470 410 缺點(diǎn)數(shù) 23 19 18 26 20 18 12 10 18 22 28 20 19 31 17 單位 U 2. 計(jì)算 CL=U=(C1+C2+C3+…….Ci) / (N1+N2+N3+…..Ni) CL=U=(23+19+18+……17) / (400+375+365+……410) = 3. 計(jì)算 UCL=U+3* U / Ni 4. 計(jì)算 LCU=U3* U / Ni 注 : 如所有 N均在 N的 +25%之內(nèi) ,則 Ni=N 本例 Ni=N(因?yàn)樗?Ni均在 N+25%內(nèi) ) 若否則做出圖如下下頁圖 2 制作 :品管部 N= (400+375+365+……410) / 15 = UCL=U+3* U / N = + 3* / = LCL=U3* U / N = 3* / = 制作 :品管部 圖 1 圖 1 制作 :品管部 四 . XR chart (一般要有 25子組以上的數(shù)據(jù)才有分析價(jià)值 ) : 50+10 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 NO1 51 53 51 50 48 47 50 49 50 49 50 50 50 52 49 55 52 50 46 48 NO2 48 47 49 52 48 53 53 52 48 52 52 53 50 50 51 46 52 49 51 54 NO3 53 48 50 50 50 51 45 51 55 50 52 47 51 52 48 50 51 52 48 51 NO4 51 50 53 48 49 51 49 49 53 52 53 51 50 50 52 52 51 54 49 49 NO5 51 52 50 45 47 52 52 52 48 50 55 51 50 45 51 49 51 48 48 48 X 50 50.6 49 48.4 50.8 49.8 50.6 50.8 50.6 52.4 50.4 50.2 49.8 50.2 50.4 51.4 50.6 48.4 50 R 5 6 4 7 3 6 8 3 7 3 5 6 1 7 4 9 1 6 5 6 制作 :品管部 2. 計(jì)算總體平均值 X= X1+X2+X3+….Xi K =XCL K: 表示組數(shù) ,該例 K=20 X=XCL=(+++………) / 20 = 3. 計(jì)算全距平均值 R=(R1+R2+R3+……Ri) / K = RCL K: 表示組數(shù) ,該例 K=20 R=RCL=(5+6+4+…..….6) / 20 = 4. 計(jì)算管制上下限 XUCL=X+A2R 平均數(shù)管制上限 XCL=X 平均數(shù)中心限 XLCL=XA2R 平均數(shù)管制下限 RUCL=D4R 全距管制上限 RCL=R 全距中心限 RLCL=D3R 全距管制下限 A2,D3,D4 均查第二章第 8節(jié)的 XbarR常數(shù)表 制作 :品管部 XUCL=+A2R=+*= XCL=X= XLCL==*= 圖表如下 : 制作 :品管部 RUCL=D4R=*= RCL=R= RXLCL=D3R=0 圖表如下 : 制作 :品管部 第五章 : 制程能力分析 關(guān)於 Ca , Cp , Cpk ,Pp ,Ppk等有多種算法 ,本教材只取一種 制作 :品管部 ?確切了解要調(diào)查的 品質(zhì)特性 與 調(diào)查範(fàn)圍 ，並 收集數(shù)據(jù) ?製作 解析用管制圖 ，確定製程處於 受控狀態(tài) 之中 ?計(jì)算 制程能力指數(shù) ( Short Term : Cpk ) ?判斷制程能力 是否足夠 ，如不夠時(shí)或不穩(wěn)定時(shí)，則加以改善 ?以解析用管制圖之『管制上、下限』，作為『管制用管制圖』之監(jiān)控，並 於一段期間後，再計(jì)算 制程能力指數(shù) ( Long Term : Ppk ) 制作 :品管部 5 04 03 02 01 01 41 31 21 11 0I n d e xCO2ShrtC O 2 L e v e l s f o r 5 5 T i m e P o i n t s過程實(shí)績 : 全部散布包括 Shifts 和 Short Term (Pp Ppk) 能力 : 只有隨機(jī)的或短期的散布 (Cp Cpk) Cpk – 在一穩(wěn)定制程下的『能力指數(shù)』某一天、某一班次、某一批、某一機(jī)臺 其組內(nèi)的變異 ( Rbar / d2 or Sbar / c4 ) Ppk – 性能指數(shù) 量試階段的『能力指數(shù)』、 某一產(chǎn)品長期監(jiān)控下的『能力指數(shù)』 Cpk / Ppk 制作 :品管部 準(zhǔn)確度 精密度 高 低 高 低 Precision Accuracy ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ??? ? ? ? ? ? ? ? ? 制作 :品管部 制程準(zhǔn)確度 (Capability of Accuracy) 衡量自產(chǎn)品中所獲得產(chǎn)品資料的 實(shí)績平均值 (X),與 規(guī)格中心值 (u)其間 偏差的程度 ,是 期望製程中生產(chǎn)的每個(gè)產(chǎn)品的實(shí)際值能與規(guī)格中心值一致 (1) Ca之計(jì)算方式如下： 實(shí)績平均值 規(guī)格中心值 Xu Ca== 規(guī)格公差 / 2 T/2 T=USLLSL =規(guī)格上限 規(guī)格下限 例 : 上面 XbarR chart例子中 50 Ca= (6040) / 2 = 制作