【正文】 負(fù)值說明過程均值超過規(guī)范。 例如，對(duì)于 Z=， Pz= 6%。 61 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC Zmin也可轉(zhuǎn)化為能力指數(shù) Cpk， 按下式定義： 的最小值即或即????????????????????????????????2333min2/ dRdRLSLXCPLXUSLCPUZCpk??Zmin=3的過程，其能力指數(shù) Cpk=； 如果 Zmin=4， 則過程能力指數(shù)為 Cpk=。 改變規(guī)范使之與過程性能一致（這樣既不能改進(jìn)過程也不 能滿足顧客要求）。一般來說，糾正這些造成不可接受的過程能力的系統(tǒng)原因可能會(huì)超出操作者或者他們的現(xiàn)場(chǎng)管理人員的能力。 65 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 第二節(jié) 均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 樣本的標(biāo)準(zhǔn)差 s是過程變異性更有效的指標(biāo)，尤其是對(duì)于樣本容量較大的情況，一般來說，當(dāng)出現(xiàn)下列一種或多種情況時(shí)用 s圖代替 R圖： A、 收集數(shù)據(jù) 如果過程服從正態(tài)分布，只要中位數(shù)和極差處于統(tǒng)計(jì)控制 狀態(tài)，則可直接用 σ估計(jì)值業(yè)評(píng)價(jià)過程能力。 5．破壞性之試驗(yàn)，每檢驗(yàn)一個(gè)產(chǎn)品，即損失一個(gè)。 如果過程的分布不是對(duì)稱的，則在解釋單值控制圖時(shí)要非常小心； 在數(shù)據(jù)圖上從左至右記錄單值讀數(shù)（ X） 71 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC B、 計(jì)算控制限 控制界限之計(jì)算 KXXXXX KKX ??????? ??321 Rm=每組之最大值 每組之最小值 1??? ? nK RmmRRm： 移動(dòng)全距 K： 樣本組數(shù) n： 一次取用的測(cè)定值個(gè)數(shù) 72 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 不同 n的移動(dòng)全距 1??? ?nK RmRm測(cè)定值X1 43 50 49 45 51 42 47 40 44 41 平均移動(dòng)全距 移 動(dòng) 全 距 Rm N=2 N=3 N=4 7 1 7 4 5 7 6 6 6 9 9 9 5 9 9 7 7 11 4 7 7 3 4 7 C、 過程控制解釋（見 ） D、 過程能力解釋（見 ） RX?73 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 2dRLSLUSLCp????? ???SLSLUSLPp??74 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 為能力比值CPCR 1? 為性能比值PPPR 1?75 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC Cpk及 Ppk用途 目標(biāo)柱與損失函數(shù) 76 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 3．應(yīng)注意如果每一個(gè)子組代表很長的一段時(shí)間的過程操作， 大的子組容量 會(huì)有不利之處。 c. 子組的數(shù)量 —— 收集數(shù)據(jù)的時(shí)間應(yīng)足夠長，使得能找到 所有可能的影響過程的變差源。 2．當(dāng)點(diǎn)描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意 一點(diǎn)比別的高出或低出許多，檢查計(jì)算是否正確。 注：當(dāng) 很小和 /或 n很小時(shí)， LCL的計(jì)算值有時(shí)會(huì)為負(fù)值，在這種情況下則沒有下控制限，因?yàn)榧词乖跇O精胡的時(shí)期同p=0， 也在隨機(jī)變差極限之內(nèi)。 控制限（ UCL， LCL） —— 水平虛線。 83 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 超出上控制限的點(diǎn)： 低于控制限下的點(diǎn)： 84 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 注：當(dāng)每個(gè)子組的不合格項(xiàng)目的平均值（ ）較大時(shí) （ ≥9），子組的 p的分布近似于正態(tài)分布并且可以使用與 圖所用分析相似的分布方法。 連續(xù) 7點(diǎn)位于均值的一側(cè)； 過程性能已惡化 —— 而且可能還在惡化； 評(píng)價(jià)系統(tǒng)已改變。 控制限或描點(diǎn)的計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤； 發(fā)生了計(jì)算或描點(diǎn)錯(cuò)誤； 91 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC C． 3 重新計(jì)算控制限 當(dāng)進(jìn)行初始過程研究或?qū)^程能力重新評(píng)價(jià)時(shí)，應(yīng)重新計(jì)算試驗(yàn)控制限，以便排除某些控制時(shí)期的影響。 P93 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC D． 過程能力解釋 對(duì)于計(jì)數(shù)型控制圖，能力直接被定義為不合格品的平均百分?jǐn)?shù)或比例。 新nn92 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 計(jì)算過程能力 若從實(shí)例得： = 目前的過程能力是 :功能檢驗(yàn)的失效為 % (%合格 ) 評(píng)功價(jià)過程能力 如果進(jìn)行 100%的功能檢驗(yàn)并已選出不合格的產(chǎn)品， 顧客是得到免受不合格產(chǎn)品的保護(hù) 。 如果存在幾個(gè)過程流，應(yīng)發(fā)別識(shí)別和跟蹤它們。 數(shù)據(jù)被編輯過（明顯偏離均值的值已換調(diào)或剔除）。 pn p87 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC c. 明顯的非隨機(jī)圖形 點(diǎn)到過程均值的距離：通常，在一個(gè)處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，僅存在普通原因變差并且其 中等較大的過程中，大約 2/3的點(diǎn)將在位于控制限中部三分之一的區(qū)域內(nèi)；大約 1/3的點(diǎn)將位于控制限三分之二以內(nèi)的區(qū)域，大約 1/20的點(diǎn)將位于與控制限較接近的區(qū)域（外部三分之一區(qū)域）。 86 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 出現(xiàn)低于均值的長鏈或邊續(xù)下降，通常表明存在下列情況之一： 在這些情況下，應(yīng)對(duì)促使采取措施的點(diǎn)進(jìn)行標(biāo)記（例如 第 7個(gè)高于平均值的點(diǎn)），從這點(diǎn)作一條參考線延伸到鏈的開 始點(diǎn)是有幫助的，分析時(shí)應(yīng)考慮趨勢(shì)出現(xiàn)或開始變化時(shí)的大 致時(shí)間。 b. 鏈 —— 在一個(gè)受控的， 中等較大的過程中，落在均 值兩側(cè)的點(diǎn)的數(shù)量將幾乎相等。 過程性能已改進(jìn)（為了改進(jìn)，應(yīng)當(dāng)研究這種情況且長期保 持）； 過程性能惡化，在當(dāng)時(shí)那點(diǎn)或作為一種趨勢(shì)的一部分； 注：上述給出的控制限計(jì)算公工式適用于子組容量相同的情況下（因?yàn)樗鼈兛赡苁翘幱谑芸氐娜忧闆r），理論上，只要樣本容量改變（即使是一個(gè)子組），控制限隨之變化，在對(duì)每個(gè)具有不同的樣本容量的子組應(yīng)分別計(jì)算各組的控制限，但實(shí)際應(yīng)用時(shí)，當(dāng)各子組容量與其平均值相差不超過正負(fù) 25%時(shí)（典型的處于相對(duì)穩(wěn)定的條件下的實(shí)際生產(chǎn)量），可用平均樣本容量（ ）來計(jì)算控制限，在這種情況下， Pn ? ? npppLCLUC Lpp /13 ????82 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC C． 過程控制用控制圖解釋 目的：找出過程不同以同一水平運(yùn)行的證據(jù) —— 即過程 失控 —— 并采取相應(yīng)的措施。 過程均值（ ） —— 水平實(shí)線。 79 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC B． 計(jì)算控制限 B． 1 計(jì)算過程平均不合格品率（ ） 對(duì)于 K個(gè)子組的研究時(shí)期，計(jì)算不合格品率的均值如下： p k kKnnn pnpnpnp ??? ???? ?? ??21 2211式中： 為每個(gè)子組內(nèi)的不合格項(xiàng)目數(shù)及檢查的項(xiàng)目數(shù)。 77 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC A． 2 計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率（ P） 記錄每個(gè)子組內(nèi)下列值： 發(fā)現(xiàn)的不合格項(xiàng)目的數(shù)量 —— np 通過這些數(shù)據(jù)計(jì)算不合格品率： nnpP?A． 3 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 描繪數(shù)據(jù)點(diǎn)用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組識(shí)別（小時(shí)、天等）作為橫坐標(biāo)，縱坐標(biāo)的刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍的值。 4．如果子組容量相對(duì)來說足夠大也是很有好處的，這樣能獲 得不控制限，從而也可以發(fā)現(xiàn)由于改進(jìn)造成的可查明的原 因。 23 dRXUSLCpu????23 dRLSLXCpl???? 為穩(wěn)定過程的能力指數(shù)?????????? ???? ??2233mindRdRXUSLLSLXCPK?? 為過程性能指數(shù)???????? ??????SXUSLLSLXPpkS ?? 33min 由于每一子組僅有一個(gè)單值， 和 值會(huì)有較大的變異性 ，（即使過程是穩(wěn)定的）直到子組數(shù)達(dá)到 100以上為止。 69 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 單值控制圖，要注意下面四點(diǎn)： 2．所選取之樣本，系屬于一種極為均勻一致之產(chǎn)品，如像液 體或氣體，幾個(gè)測(cè)定值沒有意義，只要一點(diǎn)就可以時(shí)。 計(jì)算極差的平均值，記為 RDUC L R 4? RXUCL AX~~2~ ??RLC L R 3? RXLCL AX~~2~ ??C、 過程控制解釋 與 大致相同 RX?67 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC D、 過程能力解釋 與 大致相同 有方便適用的袖珍計(jì)算器使 S的計(jì)算能簡單按程序算出； 64 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 對(duì)修改的過程繪制控制圖并分析 對(duì)過程已采取了系統(tǒng)的措施后，其效果應(yīng)在控制圖上表現(xiàn)出來，控制圖更成了驗(yàn)證措施是否有效的一種方式。 63 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 提高過程能力 為了提高過程能力，必須重視減少普通原因。 對(duì)于雙向容差，分別計(jì)算超過上、下規(guī)范界限的百分比。 對(duì)于單邊容差，沿著的邊緣，找到 Z值。 對(duì)于單邊容差，計(jì)算： Z= 或 Z= （ 選擇合適的一個(gè)） 2dRXUSL??? 2dRLSLX???式中： SL=規(guī)范界限， =測(cè)量的過程均值， =估計(jì)的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差。 如果不知道分布是否是正態(tài)分布，則應(yīng)進(jìn)行正態(tài)性檢驗(yàn)使 用諸如審查直方圖，在正態(tài)分布紙上描點(diǎn)。 過程的各測(cè)量值服從正態(tài)分布； 55 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC R?????新 RUCLR=D4 新 UCL= 新 LCLR=D3 新 LCL= 新 RAX 2? 2?R 只要過程的均值和極差保持受控，可將控制限延長用 于以后的時(shí)期。 如果沒有明顯的證據(jù)表明已發(fā)現(xiàn)過程的特殊原因，任 何“糾正”措施將可能增加而不是減少過程輸出的總變異。 過程或抽樣方法造成連續(xù)的子組中包含從兩個(gè)或多個(gè)不同 過程流的測(cè)量值（這可能是由于對(duì)可調(diào)整的過程進(jìn)行過度 控制造成的）。 控制限或描點(diǎn)已計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)或重新計(jì)算錯(cuò) ； 52 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC