【正文】 經(jīng)營方式下的企業(yè)狀況Cost成本Quality質(zhì)量Productivity生產(chǎn)效率Competitive position競爭地位Time時(shí)間58/171CECpanda LCD technologySPC的企業(yè)作用運(yùn)用 SPC進(jìn)行質(zhì)量改進(jìn)后的企業(yè)狀況Cost成本Quality質(zhì)量Productivity生產(chǎn)效率Competitive position競爭地位Time時(shí)間開始 SPC穩(wěn)定的過程持續(xù)改善59/171CECpanda LCD technology控制圖的作用? 、實(shí)時(shí)的預(yù)警? ? 、提升效率、降低成本? ? ? 60/171CECpanda LCD technology控制圖的種類? 控制圖的分類? 按用途分：? 分析用 控制圖? 控制用 控制圖? 按控制對象的數(shù)據(jù)類別分類? 計(jì)量值數(shù)據(jù) 控制圖 數(shù)據(jù)類別為連續(xù)型數(shù)據(jù)，如長度、重量、壓力、時(shí)間、溫度等? 計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù) 控制圖 數(shù)據(jù)類別為離散型數(shù)據(jù)，如不良數(shù)、不良率等61/171CECpanda LCD technology? 始于控制圖；終于控制圖? 控制圖可以分為兩類：分析用控制圖和控制用控制圖。這就是分析用控制圖的階段?？刂茍D的使用62/171CECpanda LCD technology控制圖分類均值－極差控制圖 Xbar 和 R 圖均值－標(biāo)準(zhǔn)差控制圖 Xbar 和 S 圖中位數(shù)－極差控制圖單值－移動極差控制圖不合格品率控制圖（ P圖）不合格品數(shù)控制圖（ Pn圖）單位缺陷數(shù)控制圖（ U圖）缺陷數(shù)控制圖（ C圖）計(jì)量值控制圖計(jì)數(shù)值控制圖控制圖分類63/171CECpanda LCD technology計(jì)量值與計(jì)數(shù)值控制圖比較64/171CECpanda LCD technology控制圖常用術(shù)語術(shù)語 解釋 備注平均值 Xbar 用以測量一個(gè)過程控制對象的中心趨勢，監(jiān)控過程 /產(chǎn)品在整個(gè)時(shí)間區(qū)間的變化的平均值越接近規(guī)格中心越好極差 R 用以測量過程控制對象的變動范圍 越小越好標(biāo)準(zhǔn)差 σ 用以測量過程控制對象的分布離散程度 越小越好單值 Individual 用于測量中心變化趨勢，顯示兩個(gè)個(gè)體在整個(gè)時(shí)間區(qū)間內(nèi)的變化情況累積和 Cum Sum 用于發(fā)現(xiàn)過程的突然變異，將當(dāng)前和最近的數(shù)據(jù)相比較中位數(shù) Median 用以測量一個(gè)過程控制對象的中心趨勢，監(jiān)控過程 /產(chǎn)品在整個(gè)時(shí)間區(qū)間的變化的中位數(shù)移動極差 Moving Range強(qiáng)調(diào)數(shù)據(jù)的平滑趨勢，用于長期過程能力評估65/171CECpanda LCD technology控制圖實(shí)施步驟? 組織 SPC實(shí)施小組? 開展培訓(xùn)? 確定需要控制的過程及參數(shù)? 確定測量系統(tǒng)并進(jìn)行測量系統(tǒng)分析 測量系統(tǒng)包含測量儀器、測量人員、測量方法、測量環(huán)境等， 相對固定的測量系統(tǒng)是十分必要 ? 選擇適當(dāng)?shù)目刂茍D進(jìn)行控制? 實(shí)施有效性評估66/171CECpanda LCD technology選擇適當(dāng)?shù)目刂茍D進(jìn)行控制? （ 1）針對控制對象的不同，選擇適當(dāng)?shù)目刂茍D? （ 2）制定控制圖應(yīng)用規(guī)范文件，明確：? ? ? ? OCAP? （ 3）實(shí)施控制? 25組（至少 20組）以上，結(jié)果描于控制圖上? ? ? ，描點(diǎn)，實(shí)施正?？刂?7/171CECpanda LCD technology計(jì)量值數(shù)據(jù)控制圖計(jì)量值數(shù)據(jù)控制圖廣為使用的原因? ? ? ,成本低 ,可靠性高? ,這對改進(jìn)過程能力而言十分重要? ,對過程狀態(tài)的分析更為直觀和深入 .68/171CECpanda LCD technology計(jì)量值數(shù)據(jù)控制圖? 常用計(jì)量值數(shù)據(jù)控制圖及其用途－－~69/171CECpanda LCD technology計(jì)量值數(shù)據(jù)控制圖? 計(jì)量值數(shù)據(jù)控制圖選用程序確定控制對象性質(zhì)是否方便按子組抽樣子組均值計(jì)算是否方便子組容量是否 =9是否方便計(jì)算每組 S值選用 XRM圖否 否選用 XbarR圖否選用 XbarR圖否選用 XbarS圖是是 是 是選用 XR圖~70/171CECpanda LCD technology計(jì)量值數(shù)據(jù)控制圖? 計(jì)量值數(shù)據(jù)控制圖的制作和應(yīng)用選擇控制圖種類收集數(shù)據(jù)設(shè)定控制界限分析控制圖計(jì)算過程能力能力改善選擇有代表性的質(zhì)量特性 關(guān)鍵質(zhì)量特性或?qū)Ξa(chǎn)品特性有顯著影響的輸入變量（關(guān)鍵的少數(shù)） ,從客戶需求入手、具操作性 選擇樣本的原則：隨機(jī)，一般應(yīng)包含最新或接近最新生產(chǎn)的產(chǎn)品作為樣本，以獲取最新的資料子組容量的確定：綜合考慮經(jīng)濟(jì)性、抽樣頻率等因素，一般為 4~7抽樣頻率的確定：綜合考慮經(jīng)濟(jì)性和過程穩(wěn)定性，頻率越高，成本越高，頻率越少，則發(fā)現(xiàn)特殊原因的概率就越小。78/171CECpanda LCD technology過程控制和過程能力過程的四種狀態(tài)與過程能力的關(guān)系 :CPk=CP過程類別 短期能力 CP 長期能力 CPk CP與 CPk差異1 高 高 小2 低 低 小3 高 低 大4 低 低 大79/171CECpanda LCD technology計(jì)量值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析? 過程能力反映的是僅有普通原因作用時(shí)過程滿足要求的能力 .?影響工程能力的變數(shù)? Spec(USL, LSL)? 目標(biāo)值 (Target) : esp. 目標(biāo)值不在 Spec的中心時(shí) ? 平均值? 散布? 工程平均的移動 (異常原因 , 偶然原因 )80/171CECpanda LCD technology計(jì)量值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析? 過程能力的度量指數(shù)? CP為能力指數(shù) ,定義為不考慮過程偏移時(shí) ,公差寬度除以過程固有偏差的 6σ范圍 .? USL=規(guī)格上界限? LCL=規(guī)格下界限 R=子組內(nèi)數(shù)據(jù)極差的平均值 d2=常數(shù) ,如下表 ,n為子組樣本容量=過程固有偏差CPU= USLXbar3σR/d2^82/171CECpanda LCD technology計(jì)量值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析? 過程能力的度量指數(shù)? CPL為下限能力指數(shù) ,定義為平均值與規(guī)格下限之差除以過程固有偏差的 3σ范圍 .? LSL=規(guī)格下界限? Xbar=所有樣本的本均值 R=子組內(nèi)數(shù)據(jù)極差的平均值 d2=常數(shù) ,如下表 ,n為子組樣本容量”范圍內(nèi)動態(tài)變化。ZUSL= XbarLSLσR/d2^σS^K Rjj=1K－R=∑? 抽取樣本：抽取 30組，樣本數(shù)據(jù)如下表94/171CECpanda LCD technologyXbarR圖95/171CECpanda LCD technologyXbarR圖? 計(jì)算控制界限? UCLx=X+A2R=+=? LCLx=XA2R==? CLx=X=? UCLR=D4R==? LCLR=D3R(無 )? CLR=R=? n=子組容量? Xi=子組內(nèi)每個(gè)測量數(shù)據(jù)? X=子組平均值? K=子組數(shù)? Xj=每個(gè)子組的均值? Rj=每個(gè)子組的極差? A2， D3， D4均為常數(shù)∑? 檢驗(yàn)出下列點(diǎn)不合格 : 6, 10, 11, 26? 檢驗(yàn) 5。?出現(xiàn)趨勢和循環(huán)等。? 機(jī)械磨損? 化學(xué)成分減少? 污染增大? 等 .? 檢驗(yàn) 4 – 上下波動? 過度調(diào)節(jié)? 班次間偏差? 機(jī)器間偏差UCLLCLAABCCB檢驗(yàn) 3. 有六個(gè)點(diǎn)連續(xù)上升或下降xxUCLLCLAABCCB檢驗(yàn) 4. 連續(xù) 14個(gè)點(diǎn)中相臨點(diǎn)交替上升和下降x103/171CECpanda LCD technology檢驗(yàn) 3 – 展示 X杠? ? ?UCLLCL? ? ?規(guī)則 3檢驗(yàn) 3. 有六個(gè)點(diǎn)連續(xù)上升或下降104/171CECpanda LCD technology檢驗(yàn) 4 – 展示 X杠? ? ?UCLLCL? ? ?規(guī)則 4檢驗(yàn) 4. 連續(xù) 14個(gè)點(diǎn)中相臨點(diǎn)交替上升和下降105/171CECpanda LCD technology檢驗(yàn) 5 和 6? 檢驗(yàn) 5? 第二個(gè)基本檢驗(yàn)? 在 3?6?過程穩(wěn)定可預(yù)測。K Xjj=1K＝X=_ ∑? 定義測量系統(tǒng)：因機(jī)加工過程采用兩班制生產(chǎn)，因此確定的測量系統(tǒng)為兩班各一位檢驗(yàn)人員，共用一臺二座標(biāo)測量機(jī)，及各班生產(chǎn)的產(chǎn)品? 測量系統(tǒng)分析：經(jīng)分析測量系統(tǒng)誤差在可接受范圍? 確定抽樣數(shù)及抽樣頻率：抽樣數(shù)為每個(gè)子組 10pcs，連續(xù)抽樣，抽樣頻率為每 2小時(shí)抽樣一次。CPL= XbarLSL3σS/C4^123/171CECpanda LCD technology正態(tài)分布表正態(tài)分布表Z 0 39E01 Z124/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? 我們的分析有問題嗎？? 過程能力計(jì)算分析的前提：? 1）過程受控? 2） 過程測量數(shù)據(jù)服從正態(tài)分布? 3)過程規(guī)范準(zhǔn)確反映了客戶要求125/171CECpanda LCD technology誤差的描述－直方圖什么是直方圖常見的直方圖形態(tài)直方圖與標(biāo)準(zhǔn)的比較直方圖的制作方法和練習(xí)126/171CECpanda LCD technology什么 是直方圖回憶 :直方圖 是怎么作出來的 ?直方圖 是用來表示若干個(gè)具有相同質(zhì)量特性的參數(shù)在不同范圍內(nèi)的出現(xiàn)的頻次。直方圖的制作方法130/171CECpanda LCD technology各組區(qū)界線的確定組區(qū)號 下限 上限第一組 最小值 S－ H / 2 第一組下限＋組距 H第二組 第一組上限 第一組上限＋ H第三組 第二組上限 第二組上限＋ H ? ? ? 直方圖的制作方法131/171CECpanda LCD technology計(jì)算落在各組中的數(shù)據(jù)數(shù)目組序 組區(qū) 組中心值 頻數(shù)統(tǒng)計(jì) 頻數(shù)123直方圖的制作方法132/171CECpanda LCD technology 51FS綠粉寬列最大列最小(1) 收集數(shù)據(jù)(2) 計(jì)算極差 最大值 223, 最小值 206 R=223206=17(3) 計(jì)算組距 取 K為 10, H = 17/10= ~ 2(4) 第一組下限 206 2/ 2=205 第一組上限