spc培訓(xùn)膠片(文件)
【正文】 圖的中心線和上下控制界限，畫(huà)出控制圖，以便分析和判斷過(guò)程是否處于穩(wěn)定狀態(tài)。What is Process Capability?l 為保證過(guò)程輸出，應(yīng)當(dāng)不斷評(píng)價(jià)控制方法的效力– 監(jiān)測(cè)過(guò)程能力– 監(jiān)測(cè)控制圖– 產(chǎn)品或過(guò)程一有變化，就要修訂控制計(jì)劃57What is Process Capability?l 什么導(dǎo)致缺陷？– 制造過(guò)程和測(cè)量系統(tǒng)– 原材料偏差– 不合理的或過(guò)窄的規(guī)格58： 潛在過(guò)程能力指數(shù)，等于設(shè)計(jì)規(guī)格線與工藝規(guī)格線的比值。Cpk： 實(shí)際的過(guò)程能力指數(shù)，對(duì) Cp進(jìn)行偏差系數(shù)（ K） 修正后得到 Cpk。Cpk與 Cp的關(guān)系是： Cpk≤CpCp VS Cpk66在實(shí)際運(yùn)用過(guò)程中會(huì)遇到如下四種情況：A、 如 Cp足夠大但是 Cpk不足（例如 Cp＞ Cpk＜ ）， 表明過(guò)程特性值分布中心與公差中心偏離太大，過(guò)程的管理能力不足，此時(shí)往往只需要采取局部措施，使分布中心向公差中心 “瞄準(zhǔn) ”。Cp VS Cpk67CPK范圍 級(jí)別 過(guò)程能力Cpk≥ Ⅰ 過(guò)程能力較高＞ Cpk≥ Ⅱ 過(guò)程能力充分＞ Cpk≥ Ⅲ 過(guò)程能力尚可，但接近 ＞ Cpk≥ Ⅳ 過(guò)程能力不足，需采取措施＞ Cpk Ⅴ 過(guò)程能力嚴(yán)重不足以上為通用標(biāo)準(zhǔn)，鑒于電子行業(yè)產(chǎn)品的復(fù)雜程度以及加工工藝的多樣化和復(fù)雜化，采用 Cp＝ 2作為過(guò)程能力充分的最低要求。有的廠家提供的質(zhì)量報(bào)告中， Cpk值已經(jīng)達(dá)到 6，個(gè)別廠家的 Cpk值已經(jīng)超過(guò) 10，對(duì)于該類問(wèn)題，可能是我們要求的規(guī)格范圍很寬，或我們要確認(rèn) /找到能夠真正代表其質(zhì)量狀況的參數(shù)。 也就是說(shuō)當(dāng)過(guò)程能力指數(shù) Cp＜ 2或者 Cpk＜ 程能力不足，此時(shí)應(yīng)該采取措施，提高過(guò)程的加工能力。C、 Cp和 Cpk均能滿足要求（ Cp≥ Cpk≥）， 則說(shuō)明過(guò)程能力非常充分，完全能夠滿足規(guī)范的要求，此時(shí)不需要進(jìn)行過(guò)程調(diào)整，只需要維持現(xiàn)狀即可。在實(shí)際計(jì)算中我們通常認(rèn)為樣本標(biāo)準(zhǔn)差與母體標(biāo)準(zhǔn)差大致相等（即 σ≈S） Cp/Pp VS Cpk/Ppk63What is Process Capability?怎樣計(jì)算 Cpk？– 檢查規(guī)格– 過(guò)程抽樣– 計(jì)算 Z值– 估算 DPPM– 計(jì)算 Cpk64此點(diǎn)， u等于規(guī)格中心值， delt=0,CPK=CPCp VS Cpk65Cp表示了過(guò)程固有的均勻性、一致性，Cp越大，則過(guò)程特性值的分布越集中，過(guò)程能力越強(qiáng)。Cp Dppm60Cpk： 實(shí)際的過(guò)程能力指數(shù)，對(duì) Cp進(jìn)行偏差系數(shù)（ K） 修正后得到 Cpk。p 控制用控制圖控制用控制圖 ：經(jīng)過(guò)上述分析證實(shí)過(guò)程穩(wěn)定并能滿足質(zhì)量要求，此時(shí)的控制圖可以用于現(xiàn)場(chǎng)對(duì)日常的過(guò)程質(zhì)量進(jìn)行控制。3σ）之外的概率僅為 %，這是一個(gè)很小的概率，根據(jù)概率論 “視小概率事件為實(shí)際上不可能 ”的原理，可以認(rèn)為：出現(xiàn)在 X177。如果有許多個(gè)體都遠(yuǎn)離中心、或小數(shù)幾個(gè)個(gè)體偏離中心太遠(yuǎn)，則（ Xi Xbar ） 數(shù)的總和則要大得多， σ也會(huì)更大。p SPC應(yīng)用概率論基本原理：小概率事件在一次試驗(yàn)中是不可能發(fā)生的（指發(fā)生概率非常小的事件）。如果系統(tǒng)內(nèi)存在變差的特殊原因，隨時(shí)間的推移，過(guò)程的輸出將不穩(wěn)定。異常波動(dòng)造成的波動(dòng)較大，容易發(fā)現(xiàn)，應(yīng)該由操作人員發(fā)現(xiàn)并糾正30普通原因和特殊原因普通原因和特殊原因p 普通原因 ：指的是造成隨著時(shí)間推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過(guò)程中的許多變差的原因，我們稱之為： “處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) ”、 “受統(tǒng)計(jì)控制 ”，或有時(shí)簡(jiǎn)稱 “受控 ”，普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。如操作方法的微小變動(dòng)，機(jī)床的微小振動(dòng)，刀具的正常磨損，夾具的微小松動(dòng)，材質(zhì)上的微量差異等。26正態(tài)分布與控制圖正態(tài)分布與控制圖27波動(dòng)的概念波動(dòng)的概念在現(xiàn)實(shí)生活中沒(méi)有兩件東西是完全一樣的?？梢杂脭?shù)字表達(dá)的質(zhì)量特性數(shù)據(jù)稱為計(jì)量型數(shù)據(jù)，例如軸徑、厚度、壓力、長(zhǎng)度等。management. 16－－檢驗(yàn)不容易做，特別是外觀－－不良率越高，檢驗(yàn)出錯(cuò)的機(jī)會(huì)也越多不能完全否定檢驗(yàn)的作用 檢驗(yàn)的目的是促進(jìn)過(guò)程改進(jìn) 單純的檢驗(yàn)是一種浪費(fèi)Revelation of the Game17Data Statistic為什么要測(cè)量和收集數(shù)據(jù)？不 … 就不能更清楚地了解過(guò)程 就無(wú)法控制過(guò)程就完全處于隨機(jī)狀態(tài)18Data Statistic為什么要統(tǒng)計(jì) ？ 數(shù)據(jù) －－ ? 通過(guò)統(tǒng)計(jì)技術(shù)轉(zhuǎn)換為 －－ ?有用的信息 19Data Statistic
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