【正文】 差必須小于制造過程的變差。 若果真如此，則測量系統(tǒng)的統(tǒng)計特性的最大變差必 須小于過程變差和公差帶兩者中的較小者。 = R/d2 來估計。亦稱為： 不可避免的原因、非人為的原因、共同性原因、一般性原因、偶然 原因、機遇原因等。目標值線 ■ 特殊原因：一種間斷性的、不可預計的、不穩(wěn)定的變差根源，有時候 被稱為可查明原因。 ◆ 過程中有特殊原因的變差。 米表示緊固件的力矩、 XR圖、 XS、中位 數(shù)、單值和移動極差控制圖等都用于計量型數(shù)據(jù)。 如何評定數(shù)據(jù)質(zhì)量？ — 測量結(jié)果與 “ 真 ” 值的差越小越好； — 數(shù)據(jù)質(zhì)量是用多次測量的統(tǒng)計結(jié)果進行評定。 ■ 把注意力放在測量系統(tǒng)上，其產(chǎn)生的讀數(shù)可在每 個零件上獲得重復，在每個測量人員間獲得再現(xiàn)。但在某些情況下，可能由象 Los Alamos 科學實驗室這樣的某些其它機構(gòu)代表 NITS掌握。■ 第一級標準：測量結(jié)果從國家標準傳遞到下一級標準，稱為第一級標準?！?第二級標準：測量結(jié)果從第一級標準傳遞到另一級標準，稱為第二級標準?！?工作標準：測量結(jié)果也可以從第二級標準傳遞到另一級，稱為工作標準。第一階段試驗主要有二個目的 ： — 確定該測量系統(tǒng)是否具有所需要的統(tǒng)計特性？此項必須 在使用前進行 。評價測量系統(tǒng)的基本問題 ■ 是否有足夠的分辨力？ ■ 是否具備時間意義的統(tǒng)計穩(wěn)定？ ■ 統(tǒng)計特性是否在期望的范圍內(nèi)具備一致性，用于過程控制 和分析是否可接受？ ■ 所有的變差總和是否在一個可接受的測量不確定度的水平 ?測量系統(tǒng)分析（ MSA）的總目標 1）、測量不確定度 表征被測量的一個特性的真值所處的量值范圍的評定。 ■ 針對日益強調(diào)持續(xù)改進的全球化市場，僅僅用相對于 公差的百分比來表達測量誤差是不夠的。1測量系統(tǒng)的變差 測量過程的構(gòu)成因子及其相互作用，產(chǎn)生測量結(jié) 果的變差。1測量系統(tǒng)數(shù)據(jù) ■ 評估測量系統(tǒng)的組成并盡可能控制測量系統(tǒng)的變差，以確 保測量系統(tǒng)在符合使用它的要求狀態(tài)下 ■ 把我們的關(guān)注從測量過程變差擴展到測量系統(tǒng)統(tǒng)計特性和 測量不確定性上； ■ 使用統(tǒng)計過程控制（ SPC）的基本原理。遺憾的是，具有這樣 理想統(tǒng)計特性的測量系統(tǒng)幾乎不存在，因此過程管理者必須采用具有不太理想統(tǒng) 計特性的測量系統(tǒng)。為了測量的目的，相對于過程變差或規(guī)范控制限， 測量的增量應(yīng)該很小。這意味著在可重復條件下，測量系統(tǒng)的變差 只能是由于普通原因而不是特殊原因造成。對于 過程控制 ，測量系統(tǒng)的變差性應(yīng)該顯示有效的分 辨率并且與制造過程變差相比要小。 1測量系統(tǒng)的變差源 ■ 與所有過程相似，測量系統(tǒng)受隨機和系統(tǒng)變差源影響。有多 種不同的方法可以對這些變差源表述和分類，如因果圖、故障樹圖等， 但測量系統(tǒng)分析（ MSA,第三版）將關(guān)注的是測量系統(tǒng)的主要要素?！?要求理解這六個方面的因素，因此可以控制或排除這些因素。統(tǒng)計穩(wěn)定性 測量系統(tǒng)必須處于統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài)，也就是說，測量系統(tǒng)的變差 不受特殊原因支配。它也可以稱為可讀性或分辨 率。 傳統(tǒng)上 此范圍就是產(chǎn)品范圍。即：在 PPAP之前， APQP和測試期間進行量具分辨力的研究制造過程或相似過程的極差圖， 從持續(xù)不斷改進的角度看，公差值的十分之一可能不夠，測量系統(tǒng)分析（ MSA）。 這符合持續(xù)改進的原理。如果儀器刻度 “ 粗 ” ，那么就使用 它的半刻度。 2)、如果沒有如統(tǒng)計過程控制（ SPC）手冊中描述的數(shù)據(jù)趨勢 或穩(wěn)定性（漂移）時，我們也可以認為是統(tǒng)計控制狀態(tài)。由于實際的變差來源影響一個特定的測量系統(tǒng)，它對這個系統(tǒng)來說是唯一的，本圖所示可作為研究測量系統(tǒng)變差源的一個思考的起點。 S、 W、 I、 P、 E 代表標準、工件、儀器、人、程序及環(huán)境。為了控制測量系統(tǒng)變差： 1)、識別潛在的變差源； 2)、排除（可能時）或監(jiān)控這些變差源。 ■ 測量系統(tǒng)統(tǒng)計特性可能隨被測項目的變化而改變。對于 產(chǎn)品控制 ，測量系統(tǒng)的變差性與公差相比必須小。這個規(guī)則是選擇量具 期望的實際最低點。但是，確定一個測量系統(tǒng)質(zhì)量的正是其產(chǎn)生數(shù)據(jù)的 統(tǒng)計特性 。每次測量結(jié)果總 應(yīng)該與一個標準相一致。1測量儀器如何影響測量結(jié)果 ■ 測量儀器精度必須小于規(guī)范值； ■ 測量儀器的種類，如尺、游標卡尺； ■ 測量儀器的準確度和精確度； ■ 偏倚和線性； ■ 重復性和再現(xiàn)性； ■ 穩(wěn)定性。即：指測量系統(tǒng)分析人員將評價的 5－ 10個零 件予以編號，然后要求評價人 A用測量儀器將這些已編號的 5－ 10個零件 第一次進行依此測量（注意：每個零件的編號不能讓評價人知道和看 到），同時測量系統(tǒng)分析人員將評價人 A第一次所測量的數(shù)據(jù)和結(jié)果記 錄于相關(guān)測量系統(tǒng)分析表中，當評價人 A第一次將 5－ 10個零件均測量完 后，由測量系統(tǒng)分析人員將評價人 A已測量完的 5－ 10個零件重新混合， 然后要求評價人 A用第一次測量過的測量儀器對這些已編號的 5－ 10個零 件第二次進行依此測量，同時測量系統(tǒng)分析人員將評價人 A第二次所測 量的數(shù)據(jù)和結(jié)果記錄于相關(guān)測量系統(tǒng)分析表中，第三次盲測以此類推。這類數(shù)據(jù)可 表達為一系列測量值的統(tǒng)計分布、標準差、概率、百分比 及實測值與真值的差，在控制圖或曲線圖表上的點等。 ■ 第二階段（使用過程中）： — 目的是在驗證一個測量系統(tǒng)一旦被認為是可行的，應(yīng)持 續(xù)具有恰當?shù)慕y(tǒng)計特性 。工作標準也稱為生產(chǎn)標 準，并經(jīng)常由生產(chǎn)人員而不是計量部門保持。 ◆ 第一級標準和第二級標準經(jīng)常為私人公司同時擁有。 ◆ 一旦建立了第一級標準，任何機構(gòu)如私人公司、科研機構(gòu)或政府機構(gòu)，無論什 么目的都可從 NIST得到它。作為美國商務(wù)部的一部 分， NIST起著儲備大多數(shù)國家理化測量標準的作用。■ 國家標準：在整個等級制中最高級標準為國家標準。 計數(shù)型數(shù)據(jù)的質(zhì)量 — 對產(chǎn)品特性產(chǎn)生錯誤分級的概率。例如：要求的標簽出現(xiàn)、 所有要求的緊固件安裝、經(jīng)費報告中不出現(xiàn)錯誤等特性量即 為計數(shù)型數(shù)據(jù)的例子。目標值線過程控制 受控 （消除了特殊原因） 時間 范圍 不受控 （存在特殊原因） 過程能力 受控且有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差已減少） 規(guī)范下限 規(guī)范上限 時間 范圍 受控但沒有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差太大）數(shù)據(jù)的質(zhì)量 數(shù)據(jù)的類型 ■ 計量型數(shù)據(jù)（ Variable data） 指定量的數(shù)據(jù)，可用測量值來分析。亦稱為：可避免的原因、人為 的原因、局部性原因、非機遇原因等。 ◆ 過程中只有普通原因的變差。S 來估計?！?變差：過程的單個輸出之間不可避免的差別；變差的原因可分為兩類：普通 原因和特殊原因。 4)、測量精度（ increments）應(yīng)高于過程變差和公差帶 兩者中精度較高者，一般來說，測量精度是制造過 程變差和公差帶兩者中精度較高者 1/10。 測量系統(tǒng)案例 例如：要測量一個柱的內(nèi)徑，那么其測量系統(tǒng)應(yīng)包括： — 測量項目 — 人員 — 測量儀器 — 測量標準 — 進行測量的環(huán)境條件 作為測量過程活動的結(jié)果，產(chǎn)生一個數(shù)值以表示內(nèi)徑 測量的結(jié)果。但是采購最好的或最新的測量技術(shù) 未必能保證做出正確的生產(chǎn)過程控制決定。所有過程控制管理，統(tǒng)計或邏輯技術(shù)均能應(yīng)用。 三、測量不確定度與測量系統(tǒng)分析（ MSA）的區(qū)別 測量系統(tǒng)分析（ MSA）的重點是了解測量過程，確定在測量過程中的誤差總量，及評估用于生產(chǎn)和過程控制中的測量系統(tǒng)的充分性。 2 分辨率 ：可用作 測量 分辨率或 有效 分辨率。2 概率 ：以已收集數(shù)據(jù)的特定分布為基礎(chǔ)的，描述特定事件發(fā)生機會的一種估計（用 比例或分數(shù)）。評價人變差（ AV）是一種由 于操作者使用相同測量系統(tǒng)的技巧和技能產(chǎn)生的差別造成的普通原因測量系統(tǒng)變差 （誤差）源。 方差分析 ：一種經(jīng)常用于試驗設(shè)計（ DOE）中的統(tǒng)計方法（ ANOVA），用于分析多組 的計量型數(shù)據(jù)以便比較方法和分析變差源。然而，簡單的表達式能被定量表示為： U2c = σ 2性能 + σ 2其他■ 重要的是要記住測量的不確定度是在測量時間上測量值可能變化多 少的一個簡單估計值。通常，大多數(shù)重要的誤差合成部分可 用 σ 2性能 定量表示。正態(tài)分布經(jīng)常在測量系統(tǒng)中用作 一個原理性假設(shè)。這個概念的 一個簡單的表達是： 真 測量值 = 觀測到的測量值（結(jié)果） 177。即：關(guān)于測量值的數(shù) 值估計范圍，相信真值包括在此范圍內(nèi)。當長期 (不正確 )的線性，均勻性或一致性在一定的量程范圍 內(nèi)明顯變化時，測量計劃者和分析者就只有兩種實際選擇： ● 報告對于整個測量系統(tǒng)規(guī)定的條件、范圍和量程的最大 (最壞的情況 )性能或 ● 對于規(guī)定的測量量程區(qū)間 (即低、中、較大量程 )確定和報告多種性能評估。測量性 能的說明只需要完整到能合理地再現(xiàn)出測量環(huán)境和范圍。 ■ 測量性能的估計是一個規(guī)定的條件、范圍和測量系統(tǒng)量程的預期誤差的表達 (不 同于測量不確定度，測量不確定度是一個與測量結(jié)果有關(guān)的誤差或值的預期范圍 的表達 )。 性能 :測量系統(tǒng)性能是所有有效的和可確定的變差源隨時間的最終影響。在此例子 中，能力的評價可以包括在普通條件下多種類型特性的整個測量范圍。測量能力的說明只需要完整到能合理地再現(xiàn)出測量條件和量程。 例如，如果沒有測量條件的定量范圍和量程，那么一個 25mm的測微計的 能力是 。 ■ 影響均勻性的因素包括： ● 夾緊裝置對不同定位只 接受較小／較大尺寸； ● 刻度的可讀性不好； ● 讀數(shù)視差。 ■ 影響一致性的因素是變差的特殊原因，如： ● 零件的溫度； ● 電子設(shè)備的預熱要求； ● 設(shè)備的磨損。 ■ 影響靈敏度的因素包括： ● 使儀器減振的能力； ● 操作者的技能； ●