第八講集成電路可測(cè)性原理與設(shè)計(jì)(文件)
【正文】 IC設(shè)計(jì)，用 仿真 手段驗(yàn)證設(shè)計(jì)正確性 ? 對(duì) IC制造，用 測(cè)試 手段報(bào)告生產(chǎn)“良率” ? 故障的存在 –影響電路功能的正確性 ? 故障的定位 –若大量電路由于相同原因失效，要找出問題所在 2022/8/17 浙大微電子 3/26 電路測(cè)試與電路仿真的不同 ? 電路仿真 –時(shí)間充裕 –軟件可對(duì)電路內(nèi)部任意節(jié)點(diǎn)進(jìn)行仿真 ? 電路測(cè)試 –測(cè)試機(jī)時(shí)昂貴，每分鐘都計(jì)算成本 –不可能對(duì)電路內(nèi)部進(jìn)行探測(cè)，故障排查困難 2022/8/17 浙大微電子 4/26 樣品測(cè)試與產(chǎn)品測(cè)試的不同 1. 樣品測(cè)試 – 人工進(jìn)行 – 測(cè)試時(shí)間充裕 – 測(cè)試方法自由 2. 產(chǎn)品測(cè)試 – 機(jī)器測(cè)試 – 測(cè)試時(shí)間折進(jìn)產(chǎn)品成本（有時(shí)比制造成本還高） – 測(cè)試代碼編寫 2022/8/17 浙大微電子 5/26 ? 大規(guī)模 IC, 其輸入 /輸出管腳眾多。 ? 理論上 , 只有“窮盡”了輸入信號(hào)的所有組合 , 并驗(yàn)證了輸出信號(hào)相應(yīng)無(wú)誤后 , 才能斷定此電路是合格產(chǎn)品。 ? 將時(shí)鐘頻率不斷提高 , 每提高一次 , 進(jìn)行一次測(cè)試 , 直至測(cè)試結(jié)果 C ? C0, 說明電路工作狀態(tài)已發(fā)生紊亂 , 工作頻率上限即可確定。 2022/8/17 浙大微電子 10/26 ? 產(chǎn)品測(cè)試與樣品測(cè)試不同 , 目的在于如何讓機(jī)器用統(tǒng)一固定的算法來解決大量電路的快速測(cè)試問題和為“故障定位”提供可能。 ? (0 0 1), 可測(cè) D1。 ? (1 1 0 ), 可測(cè) A0， B0， C1， P1， D0 而 ( 0 1 1 )和 ( 1 0 1) 對(duì)測(cè)試故障沒有特別貢獻(xiàn) 因此只要將 T(000, 001, 010, 100, 110, 111) 提取為 測(cè)試向量集 就可以了 2022/8/17 浙大微電子 16/26 故障覆蓋率 故障覆蓋率定義為 : 用測(cè)試向量集可以測(cè)出的故障與電路中所有可能存在的故障之比。 2022/8/17 浙大微電子 17/26 電路的可測(cè)性分析 電路測(cè)試的難易程度可由 “測(cè)試因子” 定量描述。 ? SC0(X) 表示時(shí)序電路中 X 結(jié)點(diǎn) Sa0故障的可控制性。 ? 當(dāng)某點(diǎn) X的可控制因子過大時(shí) , – 當(dāng) CC0(X)過大時(shí) ,可插入一個(gè)“與門”使之下降 : CC0(X’) = min [ CC0(X), CC0( I ) ] + 1 = 1 + 1 = 2 – 當(dāng) CC1(X)過大時(shí) ,可插入一個(gè)“或門”使之下降 :
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