第八講集成電路可測性原理與設計(文件)
【正文】 IC設計，用 仿真 手段驗證設計正確性 ? 對 IC制造，用 測試 手段報告生產(chǎn)“良率” ? 故障的存在 –影響電路功能的正確性 ? 故障的定位 –若大量電路由于相同原因失效，要找出問題所在 2022/8/17 浙大微電子 3/26 電路測試與電路仿真的不同 ? 電路仿真 –時間充裕 –軟件可對電路內部任意節(jié)點進行仿真 ? 電路測試 –測試機時昂貴，每分鐘都計算成本 –不可能對電路內部進行探測，故障排查困難 2022/8/17 浙大微電子 4/26 樣品測試與產(chǎn)品測試的不同 1. 樣品測試 – 人工進行 – 測試時間充裕 – 測試方法自由 2. 產(chǎn)品測試 – 機器測試 – 測試時間折進產(chǎn)品成本（有時比制造成本還高） – 測試代碼編寫 2022/8/17 浙大微電子 5/26 ? 大規(guī)模 IC, 其輸入 /輸出管腳眾多。 ? 理論上 , 只有“窮盡”了輸入信號的所有組合 , 并驗證了輸出信號相應無誤后 , 才能斷定此電路是合格產(chǎn)品。 ? 將時鐘頻率不斷提高 , 每提高一次 , 進行一次測試 , 直至測試結果 C ? C0, 說明電路工作狀態(tài)已發(fā)生紊亂 , 工作頻率上限即可確定。 2022/8/17 浙大微電子 10/26 ? 產(chǎn)品測試與樣品測試不同 , 目的在于如何讓機器用統(tǒng)一固定的算法來解決大量電路的快速測試問題和為“故障定位”提供可能。 ? (0 0 1), 可測 D1。 ? (1 1 0 ), 可測 A0， B0， C1， P1， D0 而 ( 0 1 1 )和 ( 1 0 1) 對測試故障沒有特別貢獻 因此只要將 T(000, 001, 010, 100, 110, 111) 提取為 測試向量集 就可以了 2022/8/17 浙大微電子 16/26 故障覆蓋率 故障覆蓋率定義為 : 用測試向量集可以測出的故障與電路中所有可能存在的故障之比。 2022/8/17 浙大微電子 17/26 電路的可測性分析 電路測試的難易程度可由 “測試因子” 定量描述。 ? SC0(X) 表示時序電路中 X 結點 Sa0故障的可控制性。 ? 當某點 X的可控制因子過大時 , – 當 CC0(X)過大時 ,可插入一個“與門”使之下降 : CC0(X’) = min [ CC0(X), CC0( I ) ] + 1 = 1 + 1 = 2 – 當 CC1(X)過大時 ,可插入一個“或門”使之下降 :
畢業(yè)設計相關推薦
鄂ICP備17016276號-1