第八講集成電路可測性原理與設計-文庫吧資料
2024-08-02 23:08本頁面
【正文】 端的取值 ( 0 0 0),(0 0 1),(0 1 1),(1 0 1)稱為 測試向量 ? 有些故障是不可區(qū)分的 , 例如 A0， B0， C1， P1， D0故障 , 無論用哪一組測試向量都無法將它們區(qū)分開來 , 這種故障稱為“等價故障” , 因為它們在電路中是邏輯等價的 。 2022/8/17 浙大微電子 10/26 ? 產(chǎn)品測試與樣品測試不同 , 目的在于如何讓機器用統(tǒng)一固定的算法來解決大量電路的快速測試問題和為“故障定位”提供可能。 –測試只保留了低 15位數(shù)據(jù) , 因此并不排除更高位有錯誤數(shù)據(jù)無法被發(fā)現(xiàn)的可能。 ? 將時鐘頻率不斷提高 , 每提高一次 , 進行一次測試 , 直至測試結果 C ? C0, 說明電路工作狀態(tài)已發(fā)生紊亂 , 工作頻率上限即可確定。 ? 這種方法類似于設計階段所做的電路仿真。 ? 理論上 , 只有“窮盡”了輸入信號的所有組合 , 并驗證了輸出信號相應無誤后 , 才能斷定此電路是合格產(chǎn)品。第八講 集成電路可測性原理與設計 浙大微電子 韓雁 2022/8/17 浙大微電子 2/26 IC測試概念 ? 在芯片設計正確的前提下，在制造過程中引入的缺陷（故障）造成的電路失效，需要用測試的方法將其檢測出來。 ? 對 IC設計，用 仿真 手段驗證設計正確性 ? 對 IC制造，用 測試 手段報告生產(chǎn)“良率” ? 故障的存在 –影響電路功能的正確性 ? 故障的定位 –若大量電路由于相同原因失效，要找出問題所在 2022/8/17 浙大微電子 3/26 電路測試與電路仿真的不同 ? 電路仿真 –時間充裕 –軟件可對電路內部任意節(jié)點進行仿真 ? 電路測試 –測試機時昂貴，每分鐘都計算成本 –不可能對電路內部進行探測，故障排查困難 2022/8/17 浙大微電子 4/26 樣品測試與產(chǎn)品測試的不同 1. 樣品測試 – 人工進行 – 測試時間充裕 – 測試方法自由 2. 產(chǎn)品測試 – 機器測試 – 測試時間折進產(chǎn)品成本（有時比制造成本還高） – 測試代碼編寫 2022/8/17 浙大微電子 5/26 ? 大規(guī)模 IC, 其輸入 /輸出管腳眾多。 ? 二輸入端“與非”門 , 只有測試了 00, 01, 10, 11四種輸入狀態(tài)下的輸出分別是 1, 1, 1, 0, 才能斷定該“與非”門是合格產(chǎn)品。 2022/8/17 浙大微電子 6/26 實例：乘法 /累加 ASIC測試
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