統(tǒng)計過程控制培訓課件(文件)
【正文】 CPKUCLμ(或μLCL)PPM(單側(cè))σ1586552σ227513σ13504σ325σ6σ 能力指數(shù)與性能指數(shù) 能力指數(shù)性能指數(shù)符號CPK，CPPPK，PP適用過程穩(wěn)定不穩(wěn)定計算方法σ=R/d2σ=√Σ(XiX)2 (N1)PPAP要求CPK≥PPK≥五、 持續(xù)改進過程循環(huán)持續(xù)改進過程循環(huán)的各個階段1．分析過程本過程應做些什么？ 會出現(xiàn)什么錯誤？ 監(jiān)控過程性能 本過程正在做什么？ 查找偏差的特殊達到統(tǒng)計控制狀態(tài)？ 原因并采取措施確定能力 改變過程從而更好理解 普通原因變差減少普通原因變差六、 控制圖－過程控制的工具1. 控制圖的用途a. 什么是控制圖?收 集數(shù) 據(jù)實 施控 制l 收集數(shù)據(jù)并畫在圖上 l 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算試驗控制限分 析改 進l 識別變差的特殊原因并采取措施l 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施l 重復這三個階段從而不斷改進過程 b. 控制圖的用途l 現(xiàn)場人員了解過程變差并使之達到統(tǒng)計受控狀態(tài)的有效工具。l 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的依據(jù)。中位數(shù)圖X－R用X代替X，直接描點，不用計算機。計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖分類表類型應用范圍不合格品率P圖廣泛不合格品數(shù)nP圖不合格品數(shù)比不合格品率更有意義。分析結(jié)果顯示過程處于穩(wěn)定狀態(tài)時，還需進一步與質(zhì)量特性的規(guī)格界限（產(chǎn)品標準要求）作比較，判斷過程是否滿足特性要求。（以X－R圖為例）1. 收集數(shù)據(jù)2. 畫圖3. 計算試驗控制限4. 將試驗控制限及中心線畫在圖上5. 分析極差圖和均值圖6. 分析特殊原因,采取措施消除7. 修正數(shù)據(jù)或重新采集數(shù)據(jù)8. 重新畫圖和計算控制限9. 計算過程能力性能和指數(shù)10. 分析過程能力11. 保持過程、改進過程12. 控制圖制作及應用程序圖（1） 收集數(shù)據(jù)在過程的基本條件相同的情況下，按一定的時間抽取一組樣本（測定樣本中每一個體的特性值）。在這之前正確選擇刻度（參見SPC手冊）。（一般情況，大約有2／3數(shù)據(jù)分布在中心線周圍1／3控制限范圍內(nèi)。（7） 修正數(shù)據(jù)或重新采集數(shù)據(jù)只有肯定是記錄、計算或描點的錯誤，才可以修正數(shù)據(jù)。（10） 分析過程能力對受控過程，CPK值是否滿足顧客要求（PPAP手冊規(guī)定CPK≥）對于尚未完全受控但顧客批準的過程, PPK值是否滿足顧客要求。 允許的不合格品率P＝, m=15, n=400 不合格品率P=np/n, 不合格品率的平均值P=Σ(np)/Σn=41/6000=標準偏差σp=√P(1P)/n=√()/400=上控制限=UCL=P+3*σp=+3*=下控制限=LCL= P3*σp=*=CPK=Δ臨界距離/3*σpCPK= (PP)/ 3*=()/ 3*=如定性質(zhì)量特性，則Δ臨界距離由規(guī)定的質(zhì)量目標和分布的平均值計算求得；由于定性質(zhì)量特性其一側(cè)為零，所以評價工序能力時，是考慮CPK指數(shù)。10及m=10樣本,各有n=5測量數(shù)值. 平均值=X=Σxi/n 極差=R=Ximax－Ximin 各組X的平均值＝X＝ΣX／m=3002/10= 極差的平均值＝R＝ΣR／m＝56/10＝ 平均值的上控制限與下控制限: 上控制限=UCL=X+(A2*R)=+(*)= 下控制限=LCL=X－(A2*R)=－(*)= 極差的上控制限與下控制限: 上控制限=UCL=D4*R=*= 下控制限=LCL=D3*R=0*=0 (1)根據(jù)極差法計算標準偏差σs , σs=R/d2= (2)計算CP指數(shù)CP=( TuTL )/6*SR=(31029
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