測(cè)試與分析ppt課件-wenkub
2023-05-19 04:17:05 本頁(yè)面
【正文】 推出 美國(guó) 第一部穿透式電子顯微鏡 (解像力 50 nm) 。Aring。目前 TEM的分辨力可達(dá) 。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，必須制備更薄的超薄切片（通常為 50～ 100nm）。 1942： 劍橋大學(xué)的 馬倫 首次制成世界第一臺(tái)掃描電鏡。目前，電子衍射一般都在透射電鏡中進(jìn)行。電子能譜技術(shù)的基本原理就是用電子束、 X射線、真空紫外光束等作為激發(fā)源，照射試樣表面，使其激發(fā)出具有不同動(dòng)能的電子（俄歇電子或光電子），從而得到這些電子動(dòng)能統(tǒng)計(jì)分布的譜圖，即電子能譜圖。收集這些光電子的信息進(jìn)行分析，即根據(jù)它們?cè)陔娮幽茏V圖中的位置，確定試樣表面的化學(xué)成分和不同元素的能級(jí)。它的工作原理與掃描隧道顯微鏡基本相同，二者的主要區(qū)別是： （ 1）檢測(cè)的物理量不同 掃描隧道顯微鏡檢測(cè)隧道電流；而原子力顯微鏡檢測(cè)力，它最小可檢測(cè)到 1 109N的力，相當(dāng)于互相靠近的兩個(gè)氖原子之間的作用力，故稱(chēng)原子力顯微鏡。磨損狀態(tài)的變化程度用磨粒總量 Iq和大小磨粒的數(shù)量之差 Is兩個(gè)特征量來(lái)表示，即 式中 ,AL和 AS分別代表大小磨粒數(shù)量。 二、光譜技術(shù) 光譜技術(shù)是利用物質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來(lái)確定其化學(xué)成分或結(jié)構(gòu)的一種分析技術(shù)，物質(zhì)在外界足夠大的能量作用后，會(huì)發(fā)出各種不同波長(zhǎng)的光線，從而可得到按一定波長(zhǎng)順序排列的光帶，即發(fā)和光譜。 （ 3）對(duì)鐵譜片加熱處理進(jìn)行檢測(cè)分析，根據(jù)磨粒的回火顏色，即可鑒別磨粒的材料和成分。 第二節(jié) 磨損微粒分析技術(shù) 磨損微粒分析包括微粒的尺寸、形狀與成分的分析，主要的分析方法由鐵譜技術(shù)與光譜技術(shù)，磨損微粒分析技術(shù)不僅是研究磨損機(jī)理的一種重要研究方法，也是監(jiān)控與預(yù)測(cè)磨損狀態(tài)的一項(xiàng)重要手段。 ?（ 1）近場(chǎng)探測(cè)特定的物理量 ?（ 2）用機(jī)械式探針取代電子束或光子束 ?（ 3）可觀測(cè)到物質(zhì)表面結(jié)構(gòu)的三維圖像 ?（ 4）可在大氣、真空、常溫、低溫、或液體等多種環(huán)境下工作 ?（ 5）不需要特別的制樣技術(shù)，而且探測(cè)過(guò)程中不損傷樣品 掃描隧道顯微鏡以其高分辨率（橫向分辨率達(dá)），使人類(lèi)第一次能夠直
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