儀器分析期考重點(diǎn)前十章-wenkub
2023-01-27 11:45:13 本頁(yè)面
【正文】 組成： ICP 高頻發(fā)生器 + 炬管 + 樣品引入系統(tǒng) ICP光源特點(diǎn) 1） 低檢測(cè)限：蒸發(fā)和激發(fā)溫度高； 2） 穩(wěn)定 ， 精度高： 3） 基體效應(yīng)小 4） 背景?。? 5） 自吸效應(yīng)?。? ? 6）分析線性范圍寬 : ? 7）眾多元素同時(shí)測(cè)定： ? 不足：對(duì)非金屬測(cè)定的靈敏度低；儀器昂貴；維持費(fèi)高。 直流電?。航佑|引燃，二次電子發(fā)射放電 V A E L G 220~380V 5~30A R 直流電弧特點(diǎn)： a） 樣品蒸發(fā)能力強(qiáng) （ 陽(yáng)極斑 ） 進(jìn)入電弧的待測(cè)物多 絕對(duì)靈敏度高 尤其適于定性分析；同時(shí)也適于部分礦物 、 巖石等難熔樣品及稀土難熔元素定量； ? b）電弧不穩(wěn) 分析重現(xiàn)性差； ? c）弧層厚，自吸嚴(yán)重； ? d）安全性差。 原子的能級(jí)圖： ? 三 ． 光譜分析的特點(diǎn)： ? 1． 相當(dāng)高的靈敏度： ? 2． 有較好的選擇性： ? 3． 準(zhǔn)確度較高： ? 4． 能同時(shí)測(cè)定多種元素 ， 分析速度快 。 四 .光譜種類(lèi) （ 一 ） 依外形分類(lèi) ： 線狀光譜 : 帶狀光譜 : 連續(xù)光譜： ? 線光譜 :由若干條強(qiáng)度不同的譜線和暗區(qū)相間而成的光譜 。 ?二、物質(zhì)與光的相互作用： ? 折射和反射 ? 散射 ? 吸收和發(fā)射 光學(xué)分析法可分為 光譜法 和 非光譜法 兩大類(lèi)。 ? 波長(zhǎng)（ λ）：表示相鄰兩個(gè)光波各相應(yīng)點(diǎn)間的直線距離（或相應(yīng)兩個(gè)波峰或波谷間的直線距離）。 操作簡(jiǎn)便，分析速度快，容易實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化。三、儀器分析的分類(lèi) 1. 光分析法 2. 電化學(xué)分析方法 3. 色譜法 4. 其它儀器分析方法 四、儀器分析的特點(diǎn)（與化學(xué)分析比較） 靈敏度高，檢出限量低。 相對(duì)誤差較大。 ? 波數(shù)（ ω）：指在單位長(zhǎng)度內(nèi)波的數(shù)目。 三、光學(xué)分析法分類(lèi) ? １．光譜法 ? 光譜法是基于物質(zhì)與輻射能作用時(shí)，測(cè)量由物質(zhì)內(nèi)部發(fā)生量子化的能級(jí)之間的躍遷而產(chǎn)生的發(fā)射、吸收或散射輻射的波長(zhǎng)和強(qiáng)度進(jìn)行分析的方法。 ? 帶狀光譜 :由幾個(gè)光帶和暗區(qū)相間而成的光譜 。 5． 用樣量少： ?167。 ? 交流電弧：高頻高壓引燃、低壓放電 A ~ 220V l1 l2 G1 G2 L1 C1 L2 C2 B1 B2 R1 R2 低壓交流電弧特點(diǎn)： 1） 蒸發(fā)溫度比直流電弧略低；電弧溫度比直流電弧略高； 2）電弧穩(wěn)定，重現(xiàn)性好，適于大多數(shù)元素的定量分析； ? 3）放電溫度較高，激發(fā)能力較強(qiáng)； ? 4）電極溫度相對(duì)較低，樣品蒸發(fā)能力比直流電弧差，因而對(duì)難熔鹽分析的靈敏度略差于直流電弧。 ? 二 、 分光系統(tǒng) ? 構(gòu)成：狹縫、準(zhǔn)直鏡、棱鏡或光柵、會(huì)聚透鏡。 167。 ?將上式取對(duì)數(shù) ， 得： ? lgI=lga+blgc ?譜線強(qiáng)度的對(duì)數(shù)與被測(cè)元素濃度的對(duì)數(shù)具有線性關(guān)系。 ?2） 內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行定量分析的原理 ? lgR=lgA+ b1lg c1 ? R = I1/ I0 ? A = a1 / a0 c0b0 ， ? 3） 內(nèi)標(biāo)元素及內(nèi)標(biāo)線的選擇原則： ? 內(nèi)標(biāo)元素 ? 1） 外加內(nèi)標(biāo)元素在分析試樣品中應(yīng)不存在或含量極微；如樣品基體元素的含量較穩(wěn)時(shí) ， 亦可用該基體元素作內(nèi)標(biāo) 。 ? 2） 輻射的強(qiáng)度應(yīng)足夠大 ?；鹧嫘偷脑踊到y(tǒng)我們把它叫做火焰原子化器。 ? 2． 原子化過(guò)程： ? MeX 脫水 MeX 蒸發(fā) MeX 分解 ? （ 溶液 ） （ 固體微粒 ） （ 氣態(tài)分子 ） ? Me ＋ X (基態(tài)原子 ) ? 3． 火焰：火焰的作用是將試液中的待測(cè)元素原子化 。但具有還原性 。 ? 石墨爐原子化器與火焰原子化器比較有如下優(yōu)點(diǎn)： ?1） 原子化效率高 ， 可達(dá)到90%以上 ， 而后者只有 10%左右 。 ? 2. 化學(xué)原子化（低溫原子化） ? 包括汞蒸汽原子化和氫化物原子化 。 ? （三）化學(xué)干擾：化學(xué)干擾是指在溶液中或氣相中由于待測(cè)元素與其它組分之間的化學(xué)反應(yīng)而引起的干擾。而生成的化合物又很容易揮發(fā)和原子化，對(duì)測(cè)定不干擾。 ? （四）物理干擾： ? 是指試樣在轉(zhuǎn)移、蒸發(fā)和原子化過(guò)程中由于試樣任何物理因素的變化而引起的吸光度下降的效應(yīng)。 ? （五）電離干擾： ? 電離干擾是指待測(cè)元素的原子電離而引入的干擾。 一、電化學(xué)分析分類(lèi)： ? 電導(dǎo)分析法：以測(cè)量溶液的 電導(dǎo) 為基礎(chǔ)的分析方法。 ? 包括： 直接電位法和電位滴定法 ? 3．電解分析法 ? 電解分析法：應(yīng)用外加電源電解試液，電解后稱(chēng)量在電極上析出的金屬的質(zhì)量，依此進(jìn)行分析的方法。 ? 二、優(yōu)點(diǎn) ? 儀器設(shè)備簡(jiǎn)單； ? 分析速度快； ? 靈敏度高； ? 選擇性好。 ? 由于 溶液本體的 待測(cè)離子 來(lái)不及到達(dá)滴汞表面，因此，滴汞表面濃度 Cs 低于溶液本體濃度 C，即 Cs? C， 存在一個(gè)濃度梯度。 9—3 干擾電流及其消除 ? 1. 殘余電流 ： 在極譜分析時(shí)，當(dāng)外加電壓未達(dá)分解電壓時(shí)所觀察到的微小電流，稱(chēng)為殘余電流 (ir)。滴汞面積變化 ─雙電層變化 ─電容變化 ──充電電流。 ? 消除：通常是加入支持電解質(zhì) (或稱(chēng)惰性電解質(zhì) )——類(lèi)似于緩沖液。 ? 消除： a) 通入惰性氣體如 H N CO2 (CO2僅適于酸性溶液 )。 9—2 極譜定量分析的基本原理 ? 一、極限擴(kuò)散電流的產(chǎn)生： ? 在極譜圖中，當(dāng)過(guò)了 M點(diǎn)后，繼續(xù)增加電壓， EDME更負(fù)。 ? 此時(shí)，電解電流 i與離子擴(kuò)散速度成正比，而擴(kuò)散速度又與濃度差 (CCs) 成正比，與擴(kuò)散層厚度 ? 成反比 , 即 ? i = k(CCs)/?。 ? ? 電容電流： 又為充電電流，是殘余電流的主要部分。 ? 扣除： ir 應(yīng)從極限擴(kuò)散電流中扣除：作圖法和空白試驗(yàn) 。 ? 消除：加入可使表面張力均勻化的極大抑制劑，通常是一些表面活性物質(zhì)如明膠、動(dòng)物膠等。
教學(xué)課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1