spc統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制(6小時(shí))(已修改)
2025-02-28 01:26 本頁(yè)面
【正文】 培訓(xùn)講師：許蓉 培訓(xùn)日期： 2023年 11月 課程內(nèi)容 什么是 SPC？ SPC的發(fā)展 SPC的焦點(diǎn) ——過(guò)程（ Process） ? SPC與傳統(tǒng) SQC的最大不同點(diǎn)，就是由 Q——P的轉(zhuǎn)變。 SPC的焦點(diǎn) ——過(guò)程（ Process） 數(shù)據(jù)的類(lèi)型 基本統(tǒng)計(jì)術(shù)語(yǔ) Cp等級(jí)之說(shuō)明 Cp=T/6 σ 6 σ E 級(jí) 6 σ D 級(jí) 6 σ C 級(jí) 6 σ B 級(jí) 6 σ A 級(jí) 規(guī)格中心值 規(guī)格上限 規(guī)格下限 Cp Cp = Cp = Cp = Cp = T = 10 σ T = 8 σ T = 6 σ T = 4 σ 10. Cpk 過(guò)程能力指數(shù) . Cpk=(1|Ca|)*Cp Ca表集中趨勢(shì) . Cp表離散趨勢(shì) Ca=0時(shí) , Cpk=Cp 單邊規(guī)格時(shí) .Cpk以 Cp值計(jì)之 . Cpk=Min(CpU,CpL) Cpk= 時(shí) , 表示制程能力足夠 Cpk= , 表示制程能力尚可 ,應(yīng)再努力 Cpk 時(shí) , 表示制程不足 ,必須加以改善 習(xí)題 : (USL)為 11,規(guī)格下限 (LSL)為 9,規(guī)格中心值是 10, 實(shí)際 (Xbar)平均值為 , σ= 求 Ca,Cp. CpU,. CpU=(USLXbar)/3σ CPL=(XbarLSL)/3σ USL 規(guī)格上限 LSL 規(guī)格下限 Xbar 實(shí)際平均值 Ca 準(zhǔn)度度 =（實(shí)際平均值 規(guī)格平均值） /公差的一半 Cp= （規(guī)格上限 規(guī)格下限） /6 *σ 直方圖 一 .何謂直方圖 ? 直方圖就是將所收集的數(shù)據(jù) 、 特性質(zhì)或結(jié)果值 ,用一定的范圍在橫軸上加以區(qū)分成幾個(gè)相等的區(qū)間 ,將各區(qū)間內(nèi)的測(cè)定值所出現(xiàn)的次數(shù)累積起來(lái)的面積用柱形 輸 出的圖形 . 01234567891001234567890123456789100123456789012345678910012345678 雙峰型 孤島型 高原型 正態(tài)型 鋸齒型 絕壁型 四 .分布狀態(tài)判斷 100個(gè)機(jī)螺絲直徑直方圖。 圖中的直方高度與該組的頻數(shù)成正比 從直方圖到正態(tài)分布 如果資料越多，分組越密，則直方圖也越趨近一條光滑曲線(xiàn)，如直方圖趨近光滑曲線(xiàn) (如 圖所示 )。在極限情況下得到的光滑曲線(xiàn)即為 分布曲線(xiàn) ，它反映了產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計(jì)規(guī)律 正態(tài)分布中，任一點(diǎn)出現(xiàn)在 μ σ 內(nèi)的概率為 P(μ σX μ+σ) = % μ 2σ 內(nèi)的概率為 P(μ 2σX μ+2σ) = % μ 3σ 內(nèi)的概率為 P(μ 3σX μ+3σ) = % + + + % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 正態(tài)分布 正態(tài)分布概率 (雙邊 ) 目標(biāo)值線(xiàn) 預(yù)測(cè) 時(shí)間 目標(biāo)值線(xiàn) 尺寸 時(shí)間 ？ → 兩種變差原因及兩種過(guò)程狀態(tài) 如果僅存在變差的 普通原因 ,隨著時(shí)間的推移 ,過(guò)程的輸出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測(cè) 如果存在變差的 特殊原因 ， 隨著時(shí)間的推移，過(guò)程的輸出不穩(wěn)定 正態(tài)分布與兩種變差原因 受控 不受控 變差的 普通原因 普通原因 Common Cause 特殊原因 Special Cause １． 大量之微小原因所引起 ,不可避免 ２．不管發(fā)生何種之普通原因，其個(gè)別 之變異極為微小 ３．幾個(gè)較代表性之普通原因如下： （１）原料之微小變異 （２）機(jī)械之微小振動(dòng) （３）儀器測(cè)定時(shí)不十分精確之作法 ４．實(shí)際上要除去制程上之普通原因， 是件非常不經(jīng)濟(jì)之處置 １． 一個(gè)或少數(shù)幾個(gè)較大原因所引起 ,可以避免 ２．任何一個(gè)特殊原因，都可能發(fā)生 大的變異 ３．幾個(gè)較代表性之特殊原因如下： （１）原料群體之不良 （２）不完全之機(jī)械調(diào)整 （３）新手之作業(yè)員 ４．特殊原因之變化不但可以找出其原 因，并且除去這些原因之處置，在 經(jīng)濟(jì)觀點(diǎn)上講常是正確的 過(guò)程控制 范圍 不受控 （存在特殊原因） 受控 （消除了特殊原因） 持續(xù)改進(jìn)的思維模式 持續(xù)改進(jìn)的思維模式 管制圖 S a m p l eSample Mean1 91 71 51 31 1975313 3 . 13 3 . 03 2 . 93 2 . 8__X = 3 2 . 9 6 2U C L = 3 3 . 0 9 0 1L C L = 3 2 . 8 3 3 9S a m p l eSample Range1 91 71 51 31 1975310 . 40 . 30 . 20 . 10 . 0_R = 0 . 2 2 2 1U C L = 0 . 4 6 9 7L C L = 0X b a r R C h a r t o f C 1 2? 管 制圖是對(duì) 過(guò)程質(zhì)量 加以測(cè)定、記錄 ， 從而進(jìn)行控制管理的一種用科學(xué)方法設(shè)計(jì)的圖。圖上有 中心線(xiàn) (CLCentral Line)、 上管制界限 (UCLUpper Control Limit)和下管制界限 (LCLLower Control Limit)，并有按時(shí)間順序抽取的樣本統(tǒng)計(jì)量數(shù)值的描點(diǎn)序列，參見(jiàn)管制圖示例圖。 管制圖 管制圖由來(lái)說(shuō)明 正態(tài)分布有一個(gè)結(jié)論對(duì)質(zhì)量管理很有用，即無(wú)論均值 μ 和標(biāo)準(zhǔn)差 σ 取何值，產(chǎn)品質(zhì)量特性值落在 μ 177。 3σ 之間的概率為 %，于是落在 μ 177。 3σ 之外的概率為 100%一 %= %，而超過(guò)一側(cè)，即大于 μ 3σ 或小于 μ+3σ 的概率為%/2=%≈1% ，如正態(tài)分布曲線(xiàn)圖。 這個(gè)結(jié)論十分重要。管制圖即基于這一理論而產(chǎn)生！ 管 制圖原理 % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 管制圖的目的 ? 管制圖和一般的統(tǒng)計(jì)圖不同，因其不僅能將數(shù)值以曲線(xiàn)表示出來(lái)，以觀其變異之趨勢(shì)，且能顯示變異系屬于 普通原因 或 特殊原因 ，以指示某種現(xiàn)象是否正常，而采取適當(dāng)之措施。 利用控制限區(qū)隔 是否為 特殊原因 SPC控制圖分類(lèi) ,可分為 分析用 與 控制用 控制圖 是 否是 I II否 III IV
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