2記述統(tǒng)計學minitab操作(已修改)
2025-08-28 00:52 本頁面
【正文】 記述統(tǒng)計學記述統(tǒng)計學 (Descriptive Statistics)用于：所有 I2DOV各步驟以及 CDOV各步驟Invent/innovate Develop Optimize VerifyConcept Design Optimize Verifyl 在 I2DOV中之目的：描述和預(yù)測在商品化和最終使用中遭受一般噪音和壓力的干擾下，系統(tǒng)參數(shù)表現(xiàn)的幅度。l 在 CDOV中之目的：描述和預(yù)測 CDOV過程中產(chǎn)出的少數(shù)樣機（ prototypes)在制造和最終使用中之表現(xiàn)。l 使用記述統(tǒng)計學能獲得哪些產(chǎn)出？機率分布和關(guān)鍵效應(yīng)模式提供對平均表現(xiàn)和變異的預(yù)測基于記述統(tǒng)計學可預(yù)測表現(xiàn)取得計算能力的資訊。? 我在過程中要做什么？? 應(yīng)用記述統(tǒng)計學，我們可對系統(tǒng)關(guān)鍵效應(yīng)加以量測，并預(yù)測出它們的分布，平均和變異，我們由樣本資料計算平均和變異后，再分布去對超出規(guī)格界限的機率做出預(yù)測。? 記述統(tǒng)計學的回顧和工具? 平均? 作為一個設(shè)計工程師，我們在產(chǎn)品開發(fā)期會遭遇下列二個挑戰(zhàn)? 在我們關(guān)鍵的效應(yīng)中我們?nèi)绾螌ψ儺惣右粤炕凸苤啤? 基于設(shè)計階段只有少量樣機的基礎(chǔ)上，我們?nèi)绾螌υ摦a(chǎn)品的母體表現(xiàn)做出預(yù)測。? 統(tǒng)計學就能提供我們解答上述問題的工具。? 平均數(shù)對 outlier（外邊數(shù)據(jù)）敏感? 使用算術(shù)平均去表現(xiàn)外邊數(shù)據(jù)? 外邊數(shù)據(jù)通常是指不好的暗示，但也可能顯示表現(xiàn)特別差或特別好的條件，知道后，可以躲開它或盯住它。? 還有中位數(shù)和眾數(shù)二種平均數(shù)，它們對外邊數(shù)據(jù)較算術(shù)平均數(shù)不敏感? 變異數(shù)和標準差? 變異數(shù)告訴我們這些觀察值是接近平均還是遠離平均。? 通常我們要一個小的變異數(shù)，它的開方，稱標準差，它和被量測變數(shù)的單位相同。? 我們使用變異數(shù)去偵測堅韌性（ Robustness),在我們關(guān)鍵的效應(yīng)中之變異對噪音是否不敏感。? ? ? 常態(tài)分布 效應(yīng)（ critical voltage)? 因 故LSL USL超下限機率超上限機率檢核表 (check sheet) 資料整理及次數(shù)分配檢核表檢核表 (check sheet)資資 料整理及次數(shù)分料整理及次數(shù)分 配配一 設(shè)計 check sheet收集及整理資料之原則216。簡單化：消除原始資料的復(fù)雜性216。系統(tǒng)化：消除原始資料的雜亂性二 方法：A. 分類：因一切現(xiàn)象都有差異性，故研究任何科學的最主 要 最基本的方法就是分類，成為簡單化檢核表檢核表 (check sheet)資料整理及次數(shù)分配資料整理及次數(shù)分配l 分類標準：216。時間：以事物發(fā)生先后為分類標準216?？臻g：以事物所在地區(qū)為分
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