2記述統(tǒng)計(jì)學(xué)minitab操作(已修改)
2024-09-02 00:52 本頁(yè)面
【正文】 記述統(tǒng)計(jì)學(xué)記述統(tǒng)計(jì)學(xué) (Descriptive Statistics)用于：所有 I2DOV各步驟以及 CDOV各步驟Invent/innovate Develop Optimize VerifyConcept Design Optimize Verifyl 在 I2DOV中之目的：描述和預(yù)測(cè)在商品化和最終使用中遭受一般噪音和壓力的干擾下，系統(tǒng)參數(shù)表現(xiàn)的幅度。l 在 CDOV中之目的：描述和預(yù)測(cè) CDOV過(guò)程中產(chǎn)出的少數(shù)樣機(jī)（ prototypes)在制造和最終使用中之表現(xiàn)。l 使用記述統(tǒng)計(jì)學(xué)能獲得哪些產(chǎn)出？機(jī)率分布和關(guān)鍵效應(yīng)模式提供對(duì)平均表現(xiàn)和變異的預(yù)測(cè)基于記述統(tǒng)計(jì)學(xué)可預(yù)測(cè)表現(xiàn)取得計(jì)算能力的資訊。? 我在過(guò)程中要做什么？? 應(yīng)用記述統(tǒng)計(jì)學(xué)，我們可對(duì)系統(tǒng)關(guān)鍵效應(yīng)加以量測(cè)，并預(yù)測(cè)出它們的分布，平均和變異，我們由樣本資料計(jì)算平均和變異后，再分布去對(duì)超出規(guī)格界限的機(jī)率做出預(yù)測(cè)。? 記述統(tǒng)計(jì)學(xué)的回顧和工具? 平均? 作為一個(gè)設(shè)計(jì)工程師，我們?cè)诋a(chǎn)品開(kāi)發(fā)期會(huì)遭遇下列二個(gè)挑戰(zhàn)? 在我們關(guān)鍵的效應(yīng)中我們?nèi)绾螌?duì)變異加以量化和管制。? 基于設(shè)計(jì)階段只有少量樣機(jī)的基礎(chǔ)上，我們?nèi)绾螌?duì)該產(chǎn)品的母體表現(xiàn)做出預(yù)測(cè)。? 統(tǒng)計(jì)學(xué)就能提供我們解答上述問(wèn)題的工具。? 平均數(shù)對(duì) outlier（外邊數(shù)據(jù)）敏感? 使用算術(shù)平均去表現(xiàn)外邊數(shù)據(jù)? 外邊數(shù)據(jù)通常是指不好的暗示，但也可能顯示表現(xiàn)特別差或特別好的條件，知道后，可以躲開(kāi)它或盯住它。? 還有中位數(shù)和眾數(shù)二種平均數(shù)，它們對(duì)外邊數(shù)據(jù)較算術(shù)平均數(shù)不敏感? 變異數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差? 變異數(shù)告訴我們這些觀察值是接近平均還是遠(yuǎn)離平均。? 通常我們要一個(gè)小的變異數(shù)，它的開(kāi)方，稱標(biāo)準(zhǔn)差，它和被量測(cè)變數(shù)的單位相同。? 我們使用變異數(shù)去偵測(cè)堅(jiān)韌性（ Robustness),在我們關(guān)鍵的效應(yīng)中之變異對(duì)噪音是否不敏感。? ? ? 常態(tài)分布 效應(yīng)（ critical voltage)? 因 故LSL USL超下限機(jī)率超上限機(jī)率檢核表 (check sheet) 資料整理及次數(shù)分配檢核表檢核表 (check sheet)資資 料整理及次數(shù)分料整理及次數(shù)分 配配一 設(shè)計(jì) check sheet收集及整理資料之原則216。簡(jiǎn)單化：消除原始資料的復(fù)雜性216。系統(tǒng)化：消除原始資料的雜亂性二 方法：A. 分類：因一切現(xiàn)象都有差異性，故研究任何科學(xué)的最主 要 最基本的方法就是分類，成為簡(jiǎn)單化檢核表檢核表 (check sheet)資料整理及次數(shù)分配資料整理及次數(shù)分配l 分類標(biāo)準(zhǔn)：216。時(shí)間：以事物發(fā)生先后為分類標(biāo)準(zhǔn)216?？臻g：以事物所在地區(qū)為分
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