【企業(yè)-標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范】汽車系統(tǒng)用電子元器件檢驗規(guī)范(word檔)(已修改)
2025-05-10 11:35 本頁面
【正文】 電子元器件 檢驗規(guī)范 1 范圍 電子元器件、器件和組件，在本規(guī)范中，均統(tǒng)稱為電子元器件。 本規(guī)范主要針對汽車系統(tǒng)中所使用的電子元器件。 電子元器件的種類繁多。就安裝方式而言，目前可分為傳統(tǒng)安裝（又稱通孔裝即 DIP）和表面安裝兩大類（即又稱 SMT 或 SMD）。 2 目的 確定了對設(shè)計、生產(chǎn)中所使用的電子元器件進(jìn)行檢驗的一般方法和指導(dǎo)。由于器件的種類繁多，應(yīng)用目的不同，適用的試驗方法上也有區(qū)別，具體可查閱相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。 3 參考文件 適合于微電子器件組件的試驗檢測標(biāo)準(zhǔn)： MILSTD883E 美國國防部 微電子器件試驗方法標(biāo)準(zhǔn)試驗、檢測方法及標(biāo)準(zhǔn)適用于軍用及宇航用的，單片、多片、厚膜薄膜混合微電路、微電路陣列，以及構(gòu)成微電路和陣列的各類元器件。對于惡劣環(huán)境下的應(yīng)用，也可以參考本標(biāo)準(zhǔn)對所用器件進(jìn)行試驗和檢測。 適合于汽車電子器件的試驗標(biāo)準(zhǔn)： VW80101： 2021 大眾 汽車中的電氣和電子組件通用試驗條件。 GMW3172： 2021 通用工程標(biāo)準(zhǔn) 汽車電子 器件 的環(huán)境、可靠性、及性能要求符合性分析、開發(fā)及驗證總規(guī)范。 MES PW67600： 1995 馬自達(dá)工程標(biāo)準(zhǔn) 汽車器件試驗標(biāo)準(zhǔn)。 主要檢驗標(biāo)準(zhǔn)有： GB/T 5729— 94 《電子設(shè)備固定電阻器第一部分：總規(guī)范》； GB/T 26932021《電子設(shè)備用固定電容器 第 1部分：總規(guī)范》； GB/T 8554— 1998 《變壓器和電感器測量方法及試驗程序》； GB/T 4023－ 1997《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第 2部分：整流二級管》； GB/T 6571－ 1995《半導(dǎo)體器件分立器件 第 3 部分：信號（包括開關(guān)）和調(diào)整二級管》； GB/T 4587－ 94《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第 7部分：雙極型 晶體管》； GB/T 4586－ 94《半導(dǎo)體器件 分立器件 第 8部分：場效應(yīng)晶體管》； GB/T － 2021《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第 52部分：光電子器件基本額定值和特性》； GB/T15291－ 94《半導(dǎo)體器件 第 6部分 晶閘管》； GB 3442－ 86《半導(dǎo)體集成電路 運算（電壓）放大器測試方法的基本原理》； GB/T 6798－ 1996《半導(dǎo)體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理》； GB/T 4377－ 1996《半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測試方法的基本原理 》； GB 343982《半導(dǎo)體集成電路 TTL電路測試方法的基本原理》； GB 383483《半導(dǎo)體集成電路 CMOS 電路測試方法的基本原理》； GB/T1402892《半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)測試方法的基本原理》； GB 344382《半導(dǎo)體集成電路 MOS 隨機(jī)存儲器測試方法的基本原理》； YD/T 7312021《通信用高頻開關(guān)整流器》； YD/T 10192021《數(shù)字通信用實心聚烯烴絕緣水平對絞電纜》； GJB128A97《半導(dǎo)體分立器件試驗方法》； GJB150－ 86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 》； GJB 360A－ 96《電子及電氣元件試驗方法》； GJB 548A－ 96《微電子器件試驗方法和程序》等。 5 程序 試驗及檢測標(biāo)準(zhǔn)的選用原則： 對于設(shè)計、試生產(chǎn)過程中所選用的新器件，在向
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