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spc初階-文庫(kù)吧

2025-02-08 14:21 本頁(yè)面


【正文】 14. 曲線永不與兩軸相交常態(tài)分佈的特性167。 數(shù)據(jù)若呈現(xiàn)常態(tài)分佈,則會(huì)有以下的特性:如果全部有 1000個(gè)數(shù)據(jù),大約只有 3個(gè)數(shù)據(jù)會(huì)落在平均值正負(fù)三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差以外的範(fàn)圍!智190185180165160010μ σ μ +σμ μ +2σμ 2σ μ +3σμ 3σ%%%% 的數(shù)據(jù)在 ?177。? 範(fàn)圍內(nèi) % 的數(shù)據(jù)在 ?177。2? 範(fàn)圍內(nèi)% 的數(shù)據(jù)在 ?177。3? 範(fàn)圍內(nèi)175170身高常態(tài)分佈的特性範(fàn)例:全校男同學(xué)身高假設(shè)一所學(xué)校共有 500位男同學(xué),這些同學(xué)的身高呈現(xiàn)常態(tài)分佈。而全體男同學(xué)的平均身高為 175公分,標(biāo)準(zhǔn)差為 5公分。那麼請(qǐng)問:(1) 身高介於 165~185公分的男同學(xué)約有幾位?(2) 身高在 180公分以上的男同學(xué)約有幾位?(3) 有沒有可能有身高在 150公分以下的男同學(xué)?統(tǒng)計(jì)製程管制基本概念(Basic SPC Concept)何謂統(tǒng)計(jì)製程管制 統(tǒng)計(jì)製程管制 (Statistical Process Control, 簡(jiǎn)稱 SPC),是利用抽樣所得之樣本資料 (樣本統(tǒng)計(jì)量 )來(lái)監(jiān)視製程之狀態(tài),統(tǒng)計(jì)製程管制為 預(yù)防性 之品質(zhì)管制手段,其主要目的在儘快偵測(cè)出 可歸屬原因之發(fā)生 或 製程之跳動(dòng) (偏移 ),以便在製造出更多不合格品之前,就能發(fā)現(xiàn)製程之變異並進(jìn)行改善工作:第一時(shí)間就做對(duì) (Do it right the first time)原因的分類 任何的生產(chǎn)程序一定存在變異,我們將造成變異的原因分為兩類: –自然之變異,這些變異是由一些小量不可控制原因累積而成,且會(huì)一直存在。又稱為:例如:同種原料內(nèi)的變化、機(jī)器的振動(dòng)所引起的變化等,當(dāng)這些變異之量極小時(shí),製程仍可被接受。* 當(dāng)製程在只有機(jī)遇原因出現(xiàn)下操作,則稱其在 管制中 (in control)!252。 一般原因252。 不可歸屬原因原因的分類 –變異的幅度通常較機(jī)遇原因之變異為大,且應(yīng)可被排除。又稱為:例如:機(jī)器的不適當(dāng)調(diào)整、操作員之錯(cuò)誤、原料之不良、機(jī)器故障或損壞等,當(dāng)這些變異出現(xiàn)時(shí),代表製程不可接受。* 製程若在非機(jī)遇原因變異下操作,則稱其為 製程失控 (out of control)!252。 特殊原因252。 可歸屬原因「非機(jī)遇原因」或「特殊原因」 就是我們進(jìn)行統(tǒng)計(jì)製程管制所要找到的重點(diǎn)。管制圖簡(jiǎn)介 1924年休哈特 ()提出了管制圖 (Control Chart)的概念與方法。管制圖是一種關(guān)於品質(zhì)的圖解記錄,操作人員利用所收集的資料計(jì)算出兩個(gè) 管制界限 (上限及下限 ),且畫出這兩個(gè)管制界限,在產(chǎn)品製造過程中隨時(shí)將樣本資訊點(diǎn)入管制圖內(nèi),以提醒操作人員。 如發(fā)現(xiàn)有超出管制界限外之點(diǎn)或是出現(xiàn)特殊圖樣 (異?,F(xiàn)象 )時(shí),應(yīng)立即由人員、機(jī)械設(shè)備、材料、方法 (4M)或環(huán)境 (1E)等方向進(jìn)行層別以追查原因,進(jìn)而改善製程。 SPC可以改善製程嗎?管制圖基本原理 管制圖為一種 圖形 表示工具,用以顯示從樣本中量測(cè)或計(jì)算所得之品質(zhì)特性。 典型之管制圖包含一中心線 (Center Line, CL),用以代表製程處?kù)督y(tǒng)計(jì)管制內(nèi)時(shí)品質(zhì)特性之平均值。此圖同時(shí)包含兩條水平線,稱為管制上限 (Upper Control Limit, UCL) 及管制下限 (Lower Control Limit, LCL) ,用來(lái)表示製程或品質(zhì) 變異的容許範(fàn)圍 或均勻性。
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