陣列感應(yīng)資料處理培訓(xùn)-文庫吧
2024-12-29 13:40 本頁面
【正文】 5 4 3 2 1 0 1 2 3 4 5 VGF (1/m)z (m) 子 陣列1 子 陣列2 子 陣列3 子 陣列4 子 陣列5 子 陣列6 子 陣列7 子 陣列8? 二維響應(yīng)特性 ? 二維響應(yīng)特性反映空間各點(diǎn)對測量信號(hào)的貢獻(xiàn)大小 ? 井眼附近有正負(fù)峰值，不同程度受到井眼影響； ? 不同徑向深度，響應(yīng)函數(shù)具有不同的縱向分辨率，隨著徑向深度增加，縱向分辨率下降，即高分辨率信息來自井眼附近； ? 不同的縱向位置，響應(yīng)函數(shù)變化很大，在主接收線圈位置，函數(shù)具有最大的正值，在屏蔽線圈位置，函數(shù)具有最大的負(fù)值； ? 短線圈間距子陣列具有高的分辨率，長線圈間距子陣列具有低的分辨率。 MIT子線圈幾何因子（ 1 15） MIT子線圈幾何因子（ 2 2 3 72） MIT5530陣列感應(yīng)技術(shù)指標(biāo) 指標(biāo)名稱 指標(biāo)數(shù)據(jù) 最高溫度： 155℃ 最大壓力： 100MPa 數(shù)據(jù)傳輸： 100kbps 儀器外徑： ?95mm（電子儀： ?90mm） 儀器長度： 測井速度： 1000m/h 井眼范圍： 150～ 250mm 測量范圍： ～ 1000??m 測量精度： 177。 2% 縱向分辨率： 30cm、 60cm、 120cm 探測深度： 25cm、 50cm、 75cm、 150cm、 225cm MIT5530陣列感應(yīng)儀器適應(yīng)范圍 MIT55305530短陣列測量誤差較大 ?MIT55305530最佳工作范圍： Rt 在 m， Rt/Rm應(yīng)在白色區(qū)域內(nèi) 。 ?MIT5530陣列感應(yīng)儀器適用最佳井眼條件：鉆頭直徑在 6”（ 150cm） 12”(300cm)， 當(dāng)井眼尺寸大于 12”時(shí) ， 合成的誤差可能較大 。 MIT55305530所有陣列測量誤差較大 ? 陣列感應(yīng)與雙感應(yīng)相比 ,具有以下優(yōu)點(diǎn)： ? 測量信息多 ? 縱向分辨率高（陣列感應(yīng)能夠提供 , 3種縱向分辨率曲線；常規(guī)雙感應(yīng)：中感應(yīng) : 深感應(yīng) :） ? 分辨率統(tǒng)一 ? 徑向探測深度大（中感應(yīng) : 深感應(yīng) : ） ? 測量精度高，能夠詳細(xì)描述侵入剖面 ? 準(zhǔn)確確定地層真電阻率 MIT5530陣列感應(yīng)儀器優(yōu)點(diǎn) ? 一 . MIT5530儀器結(jié)構(gòu)及技術(shù)指標(biāo) ? 二 . MIT5530儀器原始曲線質(zhì)量控制 ? 三 . MIT5530測井不合格原始曲線 ? 四 . MIT5530儀器影響因素及處理流程 ? 五 . MIT5530資料處理質(zhì)量控制 ?監(jiān)控曲線 QC判定 ?測井曲線合理性判定 QC曲線判定： MIT5530儀器質(zhì)量監(jiān)控曲線 QC數(shù)值變化范圍應(yīng)小于 10％。且QC曲線無突變。否則需重新加電測井 。 原始曲線合理性判定： MIT5530原始曲線在典型地層情況下應(yīng)符合理論響應(yīng)。其典型地層主要有：均質(zhì)地層響應(yīng)，有井眼無侵入厚層，高侵厚層，低侵厚層情況下理論響應(yīng)。在判斷原始曲線關(guān)系時(shí)，應(yīng)選擇典型厚層進(jìn)行曲線關(guān)系分析，如果與理論圖版相符，即儀器工作狀態(tài)正常。 110100 1 10 100地層電導(dǎo)率（S/m）視電導(dǎo)率（S/m） .A6HRA9HRA12HRA15HRA12MRA15
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