【正文】 改進循環(huán)運轉(zhuǎn)。 制作和使用控制圖的基本步驟 : ： ? 按計劃收集數(shù)據(jù) ? 將被研究的特性（過程或產(chǎn)品）的數(shù)據(jù)收集后轉(zhuǎn)換成可以畫到控制圖上的形式（如：平均值 X、極差 R、不合格品率 P、不合格品數(shù) np等） ： ? 利用數(shù)據(jù)計算試驗控制限 ? 將數(shù)據(jù)與控制限相比較，識別變差特殊原因 ? 采取措施（一般是局部措施），使過程受控 ? 進一步收集數(shù)據(jù)，必要時重新計算控制限 ? 繼續(xù)識別特殊原因并采取措施 ： ? 特殊原因消除后，過程統(tǒng)計受控，此時可計算過程能力 ? 因普通原因造成變差過大，過程輸出（產(chǎn)品）不能滿足規(guī)范要求，必須采取管理措施來改進系統(tǒng)。 重復以上三個階段，不斷地改進過程。 合理使用控制圖能夠： ? 供正在過程控制的操作者使用 ? 有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地、可預測地保持下去 ? 使過程達到： 更高的質(zhì)量 更低的單位成本 更高的有效能力 ? 為討論過程性能提供共同的語言 ? 區(qū)分變差的特殊原因和變通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施時決策的指南。 二、控制圖的種類 控制圖分類 ：可分為計量型數(shù)據(jù)控制圖和計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖兩類。 計量型數(shù)據(jù)控制圖 ： ?大多數(shù)過程和其輸出具有可測量的特性（如：長度、重量、時間、強度、硬度、成份、純度等）。 ?用計量型數(shù)據(jù)，可以分析一個過程的性能，可以量化所作的改進，即使每個單值都在規(guī)范限界之內(nèi)。 ?計量型控制圖可以通過分布寬度（零件間的變異性）和其位置（過程的平均值）來解釋數(shù)據(jù)。 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 ： ?其特性數(shù)據(jù)是不能連續(xù)取值的計數(shù)數(shù)據(jù)（如：不合格品數(shù)、不合格品率、缺陷數(shù)、疵點、級別等）。 ?由于質(zhì)量特性值是通過一個個計算單位來表示的，因此屬離散型數(shù)據(jù)。 ?收集數(shù)據(jù)快，化費小，且使用簡單量具（如：量規(guī)、目視），通常不需要專業(yè)化的收集技術。 控制圖的種類 : 特性數(shù)據(jù)種類 控制圖名稱 控制圖符號 均值和極差圖 ― R 圖 均值和標準差圖 ― S 圖 中位數(shù)和極差圖 R 圖 計量型 數(shù)據(jù) 單值和移動極差圖 X – R S 圖 不合格品率圖 P 圖 不合格品數(shù)圖 nP 圖 不合格數(shù) ( 缺陷 ) 圖 C 圖 計數(shù)值 數(shù)據(jù) 單位產(chǎn)品不合格數(shù)圖 ( 單位缺陷數(shù)圖 ) U 圖 X X X ∽ 控制圖的選用程序 使用 X－ S圖 確定要制定控制圖的特性 是計量型數(shù)據(jù)嗎 ? 性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣 例如 :化學槽液 ,批量油漆等 ? 使用 XRS圖 關心的是不合格品數(shù)嗎 ? 關心的是缺陷數(shù)嗎 ? 樣本客量是否恒定 ? 使用U圖 使用 C或 U圖 使用 np圖或 p圖 樣本容量是否恒定 ? 使用 np圖或p圖 子組均值是否能方便計算 ? 是否能方便計算子組的 S值 ? 子組容量是否大于等于 9? 使用 X－ R圖 － 使用 X－ R圖 － 使用 X－ S圖 ~ 注：本圖假設測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價并且是適用的。 否 否 否 否 否 否 否 否 是 是 是 是 是 是 是 是 是 范圍 三、計量型數(shù)據(jù)控制圖 均值和極差圖（ XR圖） 在使用 XR圖前，必須做的準備： ? 建立適合于實施的環(huán)境：沒有一個可靠環(huán)境，任何統(tǒng)計方法都會失敗。管理者必須提供資源（人力和物力）支持改進措施。 ? 定義過程：應根據(jù)有反饋的過程控制系統(tǒng)來理解過程。 ? 確定作圖的（待管理）特性： 顧客的需求（顧客呼聲，過程何處需改進）。 當前的潛在問題區(qū)域（考慮存在的浪費或低效能的證據(jù)，如：廢品、返工、過多加班、與目標值不符，以及風險區(qū)域）。 特性間關系，如：該特性難測量（如體積），可選一個相關的易測量的特性（如重量）。一個項目的幾個單獨特性如有相同變化趨勢， 可能用一個特性來畫圖就足夠了。 ? 定義測量系統(tǒng)：測量設備本身的準確性和精密性，必須是可預測的。 ? 使不必要的變差最小化：在開始研究應消除不必要的變差外部原因，避免過度調(diào)整或過度控制，過程記錄表上應記錄所有相關事件，如：刀具更換、新的原材料批次。 如何使用均值和極差圖（ X－ R圖）： ? 收集數(shù)據(jù) ? 計算控制限 ? 過程控制解釋 ? 過程能力解釋 A、收集數(shù)據(jù) 、頻率和數(shù)據(jù) ：確定 “ 合理子組 ” 。子組變差代表短時間內(nèi)零件間的變差。 在過程初期時，子組一般選 4－ 5件，且僅代表單一刀具、沖頭、模槽（型腔）等生產(chǎn)出的零件（即一個單一的過程流）。 對于所有的子組樣本容量應保持不變。 ：在初始過程研究時，通常是連續(xù)進行分組或子組間間隔時間很短。 當證明過程穩(wěn)定受控后，可增加子組間的時間間隔（如每班兩次或每小時一次等）。 ：一般情況下，零件總數(shù)不少于 100件，子組不少于 25組。 XR圖通常由 X圖和 R圖組成，上方為 X圖，下方為 R圖，最下方有一個數(shù)據(jù)欄。 X和 R值為縱坐標，按時間順序的子組為橫坐標。 （ X）和極差（ R） X = X1+X2+??+X n R = XmaxXmin 式中： X1， X2? 為子組內(nèi)每個測量值 n為子組的樣本容量。 對于 X圖，縱坐標上的刻度值的最大值與最小值之差應至少為子組均值（ X）的最大值與最小值差的 2倍。 對于 R圖，縱坐標刻度值應從最低值 0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 注意：初始研究時，生產(chǎn)現(xiàn)場控制圖尚未計算控制限（因無足夠的數(shù)據(jù)），此時在初期操作的控制圖上應清楚地標明“初始研究”字樣。 n （ X）和平均極差（ R） X = X1+X2+??+X K R = R1+R2+??+R K K K 式中： K為子組的數(shù)量， X1和 R1為第一個子組的均值和極差，以此類推。 極差的上控制限 UCLR = D4?R 極差的下控制限 LCLR = D3?R 均值的上控制限 UCLX = X+A2?R 均值的下控制限 LCLX = XA2?R 式中： D D A2為常數(shù)，隨樣本容量的大小而變化，可查表得到。當 n7時，極差無下控制限。 、下控制限的控制線（虛線） = = = = C、過程控制解釋 ? 一個或多個點超出 UCLR線時： 控制限計算錯誤或描點描錯 零件間變化性或者分布寬度已增大（即變壞），立即識別特殊原因 測量系統(tǒng)變化（如：不同的檢驗員或量具） 測量系統(tǒng)沒有適當?shù)姆直媪? ? 有一點位于 LCLR線下時（當 n≥ 7時）： 控制限計算錯誤或描點錯誤 分布寬度變?。醋兒茫? 測量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或偽造） ? 連續(xù) 7點位于平均值的上側(cè)或連續(xù) 7點上升，說明離散度在增大（即變壞） 輸出值的分布寬度增加，其原因可能是無規(guī)律的（如：設備工作不正?；蚬潭ㄋ蓜樱┗蚴怯捎谶^程中的某個要素變化（如：使用新的不是很一致的原材料），需要糾正。 測量系統(tǒng)改變（如：新的檢驗員或量具） ? 出現(xiàn)低于平均極差的鏈或下降鏈時： 輸出值分布寬度在減?。醋兒茫３窒氯?。 測量系統(tǒng)改變，不能反映過程真實性能的變化。 ? 明顯的非隨機圖形 驗證子組內(nèi)數(shù)據(jù)點總體分布的準則：一般，大約 2/3的點應落在控制限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)；大約 1/3的點落在其外的2/3區(qū)域內(nèi)。 （極差圖） 對于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每個特殊原因應在控制圖上進行標注，分析，采取措施解決。 （極差圖） 在進行初次過程研究或重新評定過程能力時，失控的原因已被識別和消除或制度化，此時可重新計算控制限。 由于出現(xiàn)特殊原因而從 R圖中去掉的子組，也應從 X圖中去掉。重新計算的 R和 X值可用于重新計算極差和均值的控制限。 = ?超出控制限 UCLX或 LCLX時： 出現(xiàn)一點或多點超出 UCLX或 LCLX時，證明這點出現(xiàn)特殊原因，要分析： 控制限計算錯誤或描點錯誤 過程已改變（可能是一件獨立事件）或是一種趨勢的一部分 測量系統(tǒng)發(fā)生改變（如：不同量具或檢驗員） ?連續(xù) 7點在平均值一側(cè)，連續(xù) 7點上升或下降，證明過程已開始變化或有變化的趨勢，要識別原因： 過程均值已改變，也許還在變化 測量系統(tǒng)已改變（不穩(wěn)定、偏倚、靈敏度等） ?明顯非隨機圖形 判斷準則：各點與過程均值的距離，一般情況下，大約 2/3點應落在控制限 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其余的2/3區(qū)域內(nèi)。 1/20的點應落在控制限近處（位于外 1/3的區(qū)域）。但大約 1/150的點落在控制限之外，可認為過程是受控的。 對于均值數(shù)據(jù)中每一個顯示處于失控狀態(tài)的點應進行分析，以確定特殊原因產(chǎn)生的理由，糾正該狀態(tài)，防止再發(fā)生。出現(xiàn)這樣的點應在控制圖上進行標注。 （均值圖） 通過初始研究或重新評定過程能力時，特殊原因已被識別并排除，從X圖中去除失控點，重新計算并描繪過程均值和控制限。 ? 如果過程中心偏離目標值，可調(diào)整過程使之對準目標值，這些控制限可繼續(xù)用來進行過程監(jiān)控。 ? 調(diào)整子組容量（減小樣本容量但增加抽樣頻率） 按原子組容量查得的 d2求過程標準差 ? =R/d2 按調(diào)整后的子組容量查得的 d2新，計算新的均值和極差的控制限。 R新 = ??d2新 UCLR = D4R 新 ， LCLR = D3R 新 （當 n7時，無 LCLR） UCLX = X+A2R 新 ， LCLX = XA2R 新 = = ^ ^ 基于如下假設下的過程能力解釋： ?過程處于統(tǒng)計穩(wěn)定的狀態(tài)時 ?過程中的各測量值服從正態(tài)分布時 ?工程及其他規(guī)范準確地代表顧客的需求 ?設計目標值位于規(guī)范中心 ?測量變差相對較小 ?符合上述條件后，還存在過程是否有能力滿足顧客需求的問題 當現(xiàn)行的控制圖反映過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)（最好是不少于 25個子組時），可以進行過程能力的評估。 過程能力的評估，是將過程輸出的分布與工程規(guī)范相比，看是否始終滿足工程規(guī)范。 ? ? = R/d2 = ?R/d2 式中： R是子組極差的平均值（極差圖受控時