其他的顯微分析方法-文庫吧
2025-04-22 07:36 本頁面
【正文】 晶體表面的原子排列 ? 氣相沉積表面膜的生長 ? 氧化膜的形成 ? 氣體吸附和催化 俄歇電子能譜分析 AES ? 俄歇電子能譜分析 （ AES ， Auger Electron Spectroscopy） 是利用入射電子束使原子內(nèi)層能級電離 ， 產(chǎn)生無輻射俄歇躍遷 ， 俄歇電子逃逸到真空中 ， 用電子能譜儀在真空中對其進行探測的一種分析方法 。 ? 在薄膜材料化學(xué)成份的分析方面 ， 俄歇電子能譜是應(yīng)用最為廣泛的分析方法 ， 它能對表面5～ 20197。范圍內(nèi)的化學(xué)成份進行靈敏的分析 ， 分析速度快 ， 能分析從 Li～ U的所有元素 ， 不僅能定量分析 ， 而且能提供化學(xué)結(jié)合狀態(tài)的情況 。進行薄膜材料的縱向成份分析時 ， 可用氬或其它惰性氣體的離子對試樣待分析部分進行濺射刻蝕 ， 同時進行俄歇電子能譜分析 ， 從而得到薄膜材料沿縱向的元素成份分布 。 場離子顯微鏡 (FIM) ? 把金屬樣品做成針尖狀，然后加正電壓，在針尖周圍充以低壓惰性氣體，氣體的電子可通過隧道效應(yīng)進入樣品費密能級以上的空態(tài)，帶正電的離子被針尖場所斥，打在熒光屏上并顯示出一定的圖樣，這個圖樣可提供有關(guān)表面分子電離、化學(xué)反應(yīng)、分解以及蒸發(fā)的信息。在場離子顯微鏡的熒光屏上開一小孔，并將它與飛行時間質(zhì)譜儀相結(jié)合，則構(gòu)成原子探測束。 ? 由于表面可被看為破壞了點陣周期性的缺陷，因此表面的原子具有和體內(nèi)原子不同的振動模式。當(dāng)表面有分子的覆蓋層，通過研究這些覆蓋層的振動模式可以測定吸附分子的結(jié)構(gòu)，確定分子在表面的吸附位置。 ? 通過觀察某些振動模式的激發(fā)，可以得到吸附分子相對于襯底的取向，研究頻率隨覆蓋度的變化，可以了解覆蓋層的橫向相互作用
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