其他的顯微分析方法(專業(yè)版)
【正文】 在原子力顯微鏡的系統(tǒng)中，是利用微小探針與待測(cè)物之間交互作用力，來(lái)呈現(xiàn)待測(cè)物的表面之物理特性。 ? 通過(guò)觀察某些振動(dòng)模式的激發(fā)，可以得到吸附分子相對(duì)于襯底的取向，研究頻率隨覆蓋度的變化，可以了解覆蓋層的橫向相互作用。 離子探針顯微分析 ? 離子探針顯微分析是利用離子源產(chǎn)生的一次離子加速形成能量為 1～ 10KeV的離子束 ， 然后將其打向樣品表面產(chǎn)生的正 、 負(fù)二次離子引入質(zhì)譜儀 ， 經(jīng)放大后記錄下荷質(zhì)比 （ m／ e） 及其強(qiáng)度并根據(jù)荷質(zhì)比和強(qiáng)度進(jìn)行元素的定性和定量分析 。在場(chǎng)離子顯微鏡的熒光屏上開(kāi)一小孔，并將它與飛行時(shí)間質(zhì)譜儀相結(jié)合，則構(gòu)成原子探測(cè)束。 ? 原子力顯微鏡（ AFM）與掃描隧道顯微鏡（ STM）最大的差別在于并非利用電子隧道效應(yīng)，而是利用原子之間的范德華力（ Van Der Waals Force）作用來(lái)呈現(xiàn)樣品的表面特性。 到數(shù)百個(gè) 197。將原子線度的極細(xì)探針和被研究物質(zhì)的表面作為兩個(gè)電極，當(dāng)樣品與針尖的距離非常接近時(shí)（通常小于 1nm），在外加電場(chǎng)的作用下，電子會(huì)穿過(guò)兩個(gè)電極之間的勢(shì)壘流向另一電極 。 ? 使用離子探針作薄膜組分的定性或定量分析時(shí) ， 為消除樣品表面污染和吸附的影響 ， 應(yīng)加大一次離子束進(jìn)行刻蝕 ， 然后再縮小離子束斑直徑進(jìn)行分析 。范圍內(nèi)的化學(xué)成份進(jìn)行靈敏的分析 ， 分析速度快 ， 能分析從 Li～ U的所有元素 ， 不僅能定量分析 ， 而且能提供化學(xué)結(jié)合狀態(tài)的情況 。利用表面功函數(shù)、偏置電壓與隧道電流之間的關(guān)系，可以得到表面電子態(tài)和化學(xué)特性的有關(guān)信息。 ? 利用 XPS可以進(jìn)行除氫以外全部元素的定性 、 定量和化學(xué)狀態(tài)分析 ， 其探測(cè)深度依賴于電
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