spc統(tǒng)計過程控制與控制圖-閱讀頁
2025-07-22 12:05本頁面
【正文】 小、頻率和數(shù)據(jù)a. 子組大小 所有的子組樣本的容量應(yīng)保持恒定， 一般為4~5件連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品的組合；b. 子組頻率 應(yīng)當在適當?shù)臅r間收集足夠的子組，這樣子組才能反映潛在的變化；c. 子組數(shù)的大小 一般情況下，包含100或更多單值讀數(shù)的25或更多個的子組可以很好地用來檢驗穩(wěn)定性。n為子組的樣本容量。對于R 圖：刻度值應(yīng)從最低值為0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差的2倍。非隨機排列情況：┈ 點子屢屢接近控制界限（在2δ外的范圍內(nèi)）a. 連接3個點中，至少有2個點接近界限b. 連接7個點中，至少有3個點接近界限c. 連接10個點中，至少有4個點接近界限┈ 連（控制圖中心線一側(cè)連續(xù)出現(xiàn)的點）長（點子的數(shù)目）不少于7┈ 間斷的連a. 連續(xù)11個點中，至少有10個點在中心線的一側(cè)b. 連續(xù)14個點中，至少有12個點在中心線的一側(cè)c. 連續(xù)17個點中，至少有14個點在中心線的一側(cè)d. 連續(xù)20個點中，至少有16個點在中心線的一側(cè)┈ 連續(xù)6個點中，至少有5個點超過中心線一側(cè)的1δ界限┈ 連續(xù)不少于7個點的上升或下降 識別并標注特殊原因 重新計算控制極限D(zhuǎn). 過程能力解釋＾ 計算過程的標準偏差 σ = R/d2 =σR/d2＾ 計算過程能力＾ Cp =（USL – LSL）/（6σR/d2）注：僅限于公差中心與過程中心重合。 未滿足要求的措施：l 通過減少普通原因引起的變差或?qū)⑦^程均值調(diào)整到接近目標值方法來改進過程性能； 臨時措施：l 對輸出進行篩選，根據(jù)需要進行報廢或返工處置；l 改變規(guī)范使之與過程性能一致。 對修改的過程繪制控制圖并分析控制用控制圖：如分析用控制圖為受控狀態(tài)且能力滿足，可直接作為控制用控制圖
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