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spc-統(tǒng)計(jì)制程品管培訓(xùn)-在線瀏覽

2025-03-22 14:32本頁(yè)面
  

【正文】 ( 1 |Ca|) Cp突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制CPK與與 PPK的區(qū)別的區(qū)別突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制Case study? 請(qǐng) 依照上個(gè) case study的數(shù)據(jù),計(jì)算其下列的各項(xiàng)指標(biāo)結(jié)果,假設(shè)其規(guī)格為: 75177。? Ca? Cp? Cpk? Pp? Ppk突破創(chuàng)新 (界限并繪圖。 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制X—R 管制圖用數(shù)據(jù)表管制圖用數(shù)據(jù)表制品名稱:紫銅管 品質(zhì)特性:內(nèi)徑 測(cè)定單位: m/m 制造場(chǎng)所: XXX機(jī)械號(hào)碼: XXX 操 作 者 : XXX 測(cè) 定 者 : XXX 抽樣期限:自 年 月 日 至 年 月 日樣組 測(cè)定值 X R 樣組 測(cè)定值 X RX1 X2 X3 X4 X5 X1 X2 X3 X4 X51234567891011121350474650465047485049515049505345484849495050515050494953494950525046495149494952454849545148495146465250515049525054525153485051553844855545536141516171819202122232425535346505052505255504753484850524949474954545151474953495052505151525151525151494953535351505250515253495150525050495251657324645553120突破創(chuàng)新 求 X 與 R X = ———— = ———— = R = ———— = ———— = 查系數(shù) A2, D4, D3 A2 = , D4 = , D3 = 負(fù)值(以 0代表)ΣXΣRnn1202525==突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制X—R 管管 制制 圖圖UCLX()CLX()LCLX()UCLR()CLR()LCLR(0)突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制P控制圖的制做流程A收集數(shù)據(jù)B計(jì) 算控制限C過 程控制解釋D過 程能力解釋突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制A1子組容量、頻率、數(shù)量? 子組容量:用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗(yàn)出性能的變化,一般希望每組內(nèi)能包括幾個(gè)不合格品,但樣本數(shù)如果太利也會(huì)有不利之處。時(shí)間隔短則反饋快,但也許與的子組容量的要求矛盾? 子組數(shù)量:要大于等于 25組以上,才能判定其穩(wěn)定性。 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制A2計(jì) 算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率? 記錄 每個(gè)子組內(nèi)的下列值– 被檢項(xiàng) 目的數(shù)量 ─ n– 發(fā)現(xiàn) 的不合格項(xiàng)目的數(shù)量 ─ np– 通過這些數(shù)據(jù)計(jì)算不合格品率突破創(chuàng)新 縱坐標(biāo)刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍。 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制A4將 不合格品率描繪在控制圖上? 描繪每個(gè)子組的 p值,將這些點(diǎn)聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢(shì)。? 記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況,當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時(shí),將它們記錄在控制圖的 “ 備注 ” 部份。 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制B計(jì)算控制限 B1計(jì)算過程平均不合格品率B2計(jì) 算上、下控制限B3書線并標(biāo) 注建立 p控制圖的步驟 B突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制C過程控制用控制圖解釋C1分析數(shù)據(jù)點(diǎn),找出不穩(wěn)定證據(jù)C2尋 找并糾正特殊原因C3重新計(jì)算控制界限超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形建立 p圖 的步驟 C突破創(chuàng)新 突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制過 程能力解釋偶因和異因并存 找出異因只剩偶因運(yùn)用控制圖過 程穩(wěn)定(連 5點(diǎn)不超限 )計(jì) 算過程能力突破創(chuàng)新 如需要,還可以用符合規(guī)范的比例 (1p)來 表示。? 當(dāng)正式研究過程能力時(shí),應(yīng)使用新的數(shù)據(jù),最好是 25個(gè)或更多時(shí)期子組,且所有的點(diǎn)都受統(tǒng)計(jì)控制。突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制Case studyn 請(qǐng)計(jì) 算出上表的 p控制圖的控制限?n 請(qǐng)判定過程是否穩(wěn)定?n 如果是不穩(wěn)定該如何處理?突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制P 管管 制制 圖(不良率)圖(不良率)實(shí)例 某工廠制造外銷產(chǎn)品,每 2小時(shí)抽取 100件來檢查,將檢 查所得之不良品數(shù)據(jù),列于下表,利用此項(xiàng)數(shù)據(jù),繪制 不良率( P)管制圖,控制其品質(zhì)。 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制P 管管 制制 圖圖 繪繪 圖圖 步步 驟驟求管制界限 CL = P = ———— = = 5% UCL = P +3 ——————— = % LCL = P 3 ——————— (為負(fù)值,視為 0)1252500P( 1 P)nP( 1 P)n突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制計(jì)量值管制圖常用之系數(shù)表計(jì)量值管制圖常用之系數(shù)表取樣數(shù)n平均數(shù)管制圖 標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 全距管制圖 中位數(shù)管制圖 個(gè)別值管制圖最大值最小值管制圖X 圖管制界限 中線 管制界限 中線 管制界限 管制界限 管制界限 管制界 限 界限 系數(shù)A A1 A2 C2 1/C2 B1 B2 B3 B4 d2
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