【正文】 此 , 有必要按不同的設(shè)備進行質(zhì)量分層 , 也應(yīng)按不同條件對質(zhì)量特性值進行分層控制 , 作分層控制圖 . 另外 , 當控制圖發(fā)生異常時 , 分層又是為了確切地找出原因、采取措施所不可缺少的方法 .39複合層別的說明40使用控制圖的注意事項n 控制界限的重新計算n 為使控制線適應(yīng)今后的生產(chǎn)過程 , 在確定控制圖最初的控制線 CL、 UCL、 LCL時 , 常常需要反復(fù)計算 , 以求得切實可行的控制圖 . 但是 , 控制圖經(jīng)過使用一定時期后 , 生產(chǎn)過程有了變化 , 例如加工工藝改變、刀具改變、設(shè)備改變以及進行了某種技術(shù)改革和管理改革措施后 , 應(yīng)重新收集最近期間的數(shù)據(jù) , 以重新計算控制界限並作出新的控制圖 .41為何控制界限應(yīng)延用42建立控制圖的四步驟A收集數(shù)據(jù)B計算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋43建立 XR圖的步驟 AＡ階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組頻率子組數(shù)大小A2建立控制圖及記錄原始記錄A3計算每個子組的均值 X和極差 RA4選擇控制圖的刻度A5將均值和極差畫到控制圖上44取樣的方式n 取樣必須達到組內(nèi)變異小，組間變異大n 樣本數(shù)、頻率、組數(shù)的說明45組數(shù)的要求 (最少 25組 )當製程中心值偏差了二個標準差時，它在控制限內(nèi)的概率為 那麼連續(xù) 25點在線內(nèi)的概率為：46每個子組的平均值和極差的計算1 100 98 99 100 982 98 99 98 101 973 99 97 100 100 984 100 100 101 99 995 101 99 99 100 99平均 100 極差 3 3 3 2 247平均值和極差n 平均值的計算n R值的計算48Ｂ計算控制限 B1計算平均極差及過程平均值B2計算控制限B3在控制圖上作出平均值和 極差控制限的控制線建立 XR圖的步驟 B4950Ｃ過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點C2識別並標注特殊原因 (極差圖 )C3重新計算控制界限 (極差圖 )C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形C5識別並標注特殊原因 (均值圖 )C6重新計算控制界限 (均值圖 )C7為了繼續(xù)進行控制延長控制限建立 XR圖的步驟 C51控制圖的判讀n 超出控制界限的點：出現(xiàn)一個或多個點超出任何一個控制界限是該點處於失控狀態(tài)的主要證據(jù)UCLCLLCL異常異常52控制圖的判讀n 鏈：有下列現(xiàn)象之一即表明過程已改變n 連續(xù) 7點位於平均值的一側(cè)n 連續(xù) 7點上升 (後點等於或大於前點 )或下降。UCLCLLCL54控制圖的觀察分析n 作控制圖的目的是為了使生產(chǎn)過程或工作過程處于 “控制狀態(tài) ”. 控制狀態(tài)即穩(wěn)定狀態(tài) , 指生產(chǎn)過程或工作過程僅受偶然因素的影響 , 產(chǎn)品質(zhì)量特性的分布基本上不隨時間而變化的狀態(tài) . 反之 , 則為非控制狀態(tài)或異常狀態(tài) .n 控制狀態(tài)的標準可歸納為二條 :n 第一條 , 控制圖上點不超過控制界限 。n 連續(xù) 35點中 , 僅有 1點超出控制界限 。n 當出現(xiàn) 6點鏈時 , 應(yīng)開始調(diào)查原因 。n 連續(xù)的 14點中至少有 12點出現(xiàn)在一側(cè)時 。n 連續(xù)的 20點中至少有 16點出現(xiàn)在一側(cè)時 .57控制圖的觀察分析n 傾向 : 若干點連續(xù)上升或下降的情況稱為傾向 , 其判別準則如下 :n 當出現(xiàn)連續(xù) 5點不斷上升或下降趨向時 , 要注意該工序的操作方法 。n 當出現(xiàn)連續(xù) 7點不斷上升或下降的趨向時 , 應(yīng)判斷為異常 , 需采取措施 .n 周期 : 點的上升或下降出現(xiàn)明顯的一定的間隔時稱為周期 .n 周期包括呈階梯形周期變動、波狀周期變動、大小波動等情況 .58控制圖的觀察分析n 接近 : 圖上的點接近中心線或上下控制界限的現(xiàn)象稱為接近 . 接近控制界限時 , 在中心線與控制界限間作三等分線 , 如果在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi)存在下述情況可判定為異常 :n 連續(xù) 3點中有 2點 (該兩點可不連續(xù) )在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi) 。n 連續(xù) 10點中有 4點 (該 4點可不連續(xù) )在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi) .59為了繼續(xù)進行控制延長控制限n 估計過程標準偏差 n 計算新的控制限60Case study1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 141 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 722 68 75 73 74 78 74 72 74 78 76 74 76 75 793 68 77 96 75 78 71 73 75 77 75 76 77 75 804 69 79 95 72 80 72 71 76 72 75 77 72 72 7815 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 281 75 74 70 62 74 78 80 80 72 55 70 73 72 732 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 723 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 744 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 7661Case studyn 請計算出上表的 XR控制圖的控制限？n 請判定過程是否穩(wěn)定？n 如果是不穩(wěn)定該如何處理？n 如果製程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自 n=4調(diào)為 n=5時，那麼其新控制限為何？62Ｄ過程能力解釋D1計算過程的標準偏差D2計算過程能力D3評價過程能力D4提高過程能力D5對修改的過程繪制控制圖並分析建立 XR圖的步驟 D63646566製程績效指標67群體平均值 =μ標準差 =σ對 σ的估計群體標準差的估計6810 14 18T12 16μ Cp CPL CPU CPK Cpm13 2 T10 14 1812 1610 14 18T12 16μ Cp CPL CPU CPK Cpm14 2 μ Cp CPL CPU CPK Cpm15 2 指數(shù)差異說明69Case studyn 請依照上個 case study的數(shù)據(jù)，計算其下列的各項指標結(jié)果，假設(shè)其規(guī)格為： 75177。n Can Cpn Cpkn Ppn Ppk707172何時應(yīng)用 Cmk指數(shù)n 新機器驗收時n 機器大修後n 新產(chǎn)品試製時n 產(chǎn)品不合格追查原因時n 在機械廠應(yīng)和模具結(jié)合在一起考慮73Case study1 2 3 4 5 6 7 8 9 101 50 47 46 50 46 50 47 48 50 492 50 53 45 48 48 49 49 50 50 513 49 53 49 49 50 52 50 46 49 514 52 45 48 49 54 51 48 49 51 465 51 50 49 52 50 54 52 51 53 48平均s74Case studyn 假設(shè)其規(guī)格為 50177。n 最差情形，可以允許製程中心，偏差 177。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個數(shù)的均值。n 如果過程的分布不是對稱