【正文】 100％ T＝ Su－ SL＝規(guī)格上限－規(guī)格下限 ※ 單邊規(guī)格因沒有規(guī)格中心值，故不能算 Ca (2)等級判定 Ca值愈小，品質(zhì)愈佳 ， 依 Ca值大小分為四級 等級 Ca 值A(chǔ) ｜ Ca ｜≦ ％B ％＜｜ Ca ｜≦ ％C ％＜｜ Ca ｜≦ ％D ％＜｜ Ca ｜實績平均值－規(guī)格中心值 規(guī)格許容差 X－ u T／ 2 19 (3)Ca等級之說明 (4)處置原則 A級：維持現(xiàn)狀 B級：改進(jìn)為 A級 C級：立即檢討改善 D級：採取緊急措施，全面檢討，必要時停止生產(chǎn) (5)例：某鋼管之切削規(guī)格為 750177。3σ ＝ 748177。8㎜求 Ca值。 (1)Cp之計算 Cp＝ ＝ …… 雙邊規(guī)格時 Cp＝ 或 Cp＝ …… 單邊規(guī)格時 (2)等級判定 Cp值愈大，品質(zhì)愈佳。㎜，昨日產(chǎn)之生產(chǎn)實 績?yōu)?X177。㎜，本日之生產(chǎn)實績?yōu)?51177。 昨日 Cp值＝ ＝ ……(A 級 ) 本日 Cp值＝ ＝ ……(C 級 ) 4?423 ．製程能力指數(shù) Cpk 綜合 Ca與 Cp兩值之指數(shù) Cpk之計算式 ＝ (1－ K) K＝ ＝ (1－ Ca )Cp 當(dāng) Ca＝ 0時 Cpk＝ Cp 單邊規(guī)格時， Cpk即以 Cp值計 ＝ ZLSL＝ Cpk＝ ＝ 與 的最小值 ?6T CaTX ??2/???XUSL ???)( XLSL ??3minZ??3XUSL ???3)( XLSL ??24 (2)等級判定 Cpk值愈大，品質(zhì)愈佳 ， 依 Cpk值大小分為六級 等級 C pk 值 A + + ≦ Cpk A+ ≦ Cpk ＜ A ≦ Cpk ＜ B ≦ Cpk ＜ C ≦ Cpk ＜ D Cpk ＜ 25 (3)處置原則： A+級：考慮管理的簡單化或成本降低的方法 A 級：維持原狀 B 級：改進(jìn)為 A級 C 級：需全數(shù)選別並管理、改善工程 D 級：進(jìn)行品質(zhì)的改善，探求原因，需要採取緊急對策，並且重新檢討規(guī)格。㎜；製程實 績?yōu)?X177。㎜求 CPK值。2σ) ％％ 6σ(177。4σ) PM PM σ(177。σ) PM PM σ(177?？煽紤]簡化管理與降低成本的方法。 3. ＞ Cp ≧ 製程能力雖不充足，卻屬中等。不過因為 Cp值一旦接近於 1 時恐會發(fā)生不良品，應(yīng)依需要，採取適當(dāng)措施。 5. /0 .83 ＞ Cp 製程能力不足 無法滿足品質(zhì)之狀態(tài)。此外，須再度檢討規(guī)格的訂定。 ，及他們的要求。 (Define)現(xiàn)在的製程 (程序 ) (程序 )，避免浪費資源。 29 MOTOROLA邁向 6 Sigma之路 1979－管理階層的承諾與了解 1981－品質(zhì)喚醒 － 5年內(nèi) 10倍的改善 1986－企業(yè)標(biāo)竿及品質(zhì)訪查 1987－ 6 Sigma遠(yuǎn)景 1989－ 10倍之品質(zhì)改善 1991－ 100倍之品質(zhì)改善 1992－ 6 Sigma 1993－超越 6 Sigma 1994－每 2年 10倍之品質(zhì)改善 2023－獲利率乘 2倍 30 十、管制圖的運(yùn)用 管制圖的由來 管制圖是 1924年由蕭華特博士 (Dr. W. A. Shewhart)，在研究產(chǎn)品品質(zhì)特性之次數(shù)分配時所發(fā)現(xiàn)。3σ)的產(chǎn)品只有 ％。 31 A區(qū) B區(qū) C區(qū) C區(qū) A區(qū) B區(qū) % % % % % % 規(guī)格範(fàn)圍 % %％％％32 管制圖定義 一種用於調(diào)查製造程序是否在 穩(wěn)定狀態(tài)下，或者維持製造程 序在穩(wěn)定狀態(tài)上所用之圖。 計數(shù)值： Attribute Data,一種品質(zhì)特性之?dāng)?shù)值，可用以間斷數(shù)據(jù)計數(shù)者。 ．中心線 (CL)記以實線，管制上限 (UCL)及管制下限 (LCL)記以虛線，中心線及管制上、下限，分別記入其數(shù)值及 CL、 UCL、 LCL等符號。 36 X－ R Chart (平均值與全距管制圖 ) 適用製程 ．可用以管制分組之計量數(shù)據(jù)，即每次同時取得幾個數(shù)據(jù)之工程。 37 X－ R管制圖公式 X管制圖： 中心線 (CL)＝ X 管制上限 (UCL)＝ X＋ A2R 管制下限 (LCL)＝ X－ A2R R管制圖： 中心線 (CL)＝ X 管制上限 (UCL)＝ D4R 管制下限 (LCL)＝ D3R X － R 管制圖係數(shù)表樣本大小 A2D4D32 03 04 05 15 06 07 8 9 10 2? dR??38 建立 X－ R管制圖步驟 ． 建立解析用管制圖的步驟： (1)搜集數(shù)據(jù)－依測定時間順序排列 (2)數(shù)據(jù)分組－以 3～ 5個數(shù)據(jù)為一組最佳 (3)記入管制圖的數(shù)據(jù)欄內(nèi) (4)計算平均值 X－求各組的平均值 X (5)計算全距 R－求各組的全距 R (6)計算總平均值 X－求各組均值 X的總平均值 X (7)計算全距的平均值 R－求各組全距 R的平均值 R (8)查係數(shù) A2， D4， D3並代入公式計算管制界限 (9)繪制管制界限及中心線－ X管制圖在上， R管制圖在下 (10)點繪－點在其數(shù)值之位置並以直線連接之 (11)管制界限檢討如流程圖 39 解析用計量值管制圖分析流程 (R－管制圖 ) 註：摘自 SPC Simplified 全距均在管制 界限內(nèi)嗎？ 是 否 只有一個或二個點 在管制界限外？ 是 否 3個以上的點在管制界限外 剔除這一或二個 全距值的樣本 重新計算 X、 R 的全距管制界限 全距失控 停止計算平均值的管制界限限外 其餘的全距值均在界限內(nèi)嗎？ 找出亦修正非機(jī)遇原因 重新收集資 計算平均值的管制界限 是 否 全距值均 在控制中 計算平均值的管制圖 平均值管制圖分析流程 40 ．建立製程管制用管制圖步驟 (1)記上必要事項 (2)繪入管制界限 (3)繪點 (4)狀態(tài)之判定 (5)改正措施 (6)管制界限的延續(xù)使用 41 X－ R Chart (中位數(shù)與全距管制圖 ) 適用製程與 X－ R Chart同，但檢出力較差，故多以 X－ R Chart代之。 25％ 管制上限 (UCL)＝ P＋ 3 管制下限 (UCL)＝ P－ 3 當(dāng)樣組樣本 n超過177。 (1)點超出管制界限 ★ UCL CL +3σ +2σ +1σ A區(qū) B區(qū) C區(qū) 56 (2)在中心線同側(cè)，連續(xù)三點中有二點落在 A區(qū)或 A區(qū)以外者 +3σ +2σ +1σ A區(qū) B區(qū) C區(qū) UCL CL ★ (3)在中心線同側(cè)，連續(xù)五點中有四點落在 B區(qū)或 B以外者 ★ +3σ +2σ +1σ A區(qū) B區(qū)