質(zhì)量過程控制及改善培訓(xùn)課件-在線瀏覽
2025-02-23 08:40本頁面
【正文】 樣 本 N 1 0 0標(biāo) 準 差 （ 組 內(nèi) ） 0 . 0 1 8 5 4 7 7標(biāo) 準 差 （ 整 體 ） 0 . 0 1 9 3 4 1 4過 程 數(shù) 據(jù)C L 下 限 0 . 7 4C L 上 限 0 . 9 8P P L 0 . 8 0P P U 0 . 9 2P p k 0 . 8 0C L 下 限 0 . 6 7C L 上 限 0 . 9 3C p m 0 . 8 5C L 下 限 0 . 7 5C p 0 . 9 0C L 下 限 0 . 7 6C L 上 限 1 . 0 4C P L 0 . 8 3C P U 0 . 9 6C p k 0 . 8 3C L 下 限 0 . 6 9C L 上 限 0 . 9 8P p 0 . 8 6整 體 能 力潛 在 （ 組 內(nèi) ） 能 力P P M L S L 1 0 0 0 0 . 0 0P P M U S L 1 0 0 0 0 . 0 0P P M 合 計 2 0 0 0 0 . 0 0實 測 性 能P P M L S L 6 1 2 4 . 5 0P P M U S L 1 9 4 7 . 1 1P P M 合 計 8 0 7 1 . 6 1預(yù) 期 組 內(nèi) 性 能P P M L S L 8 1 5 0 . 5 7P P M U S L 2 8 1 8 . 7 1P P M 合 計 1 0 9 6 9 . 2 8預(yù) 期 整 體 性 能組 內(nèi)整 體電 纜 直 徑（ 使 用 9 5 . 0 % 置 信 ）解釋結(jié)果 如果要解釋過程能力統(tǒng)計量，則數(shù)據(jù)應(yīng)近似服從正態(tài)分布。但是，可以看到過程平均值 () 略小于目標(biāo) ()。這意味著，有時會發(fā)現(xiàn)某些電纜直徑小于 厘米的規(guī)格下限或大于 厘米的規(guī)格上限。此處， Ppk 指數(shù)為 ，表明制造商必須通過減少變異并使過程以目標(biāo)為中心來改進過程。 同樣， PPM 合計（預(yù)期整體性能）是其受關(guān)注的特征在公差限之外的百萬分數(shù) 部件數(shù) ()。制造商未滿足客戶的要求，應(yīng)通過降低過程變異來改進其過程。但是，還應(yīng)比較 R 控制圖與 控制圖上的點，以查看它們是否彼此相似。最后 20 個子組的控制圖上的點隨機地水平散開，沒有趨勢或偏移，這也表明過程是穩(wěn)定的。在能力直方圖上，數(shù)據(jù)近似服從正態(tài)曲線。這些模式表明數(shù)據(jù)是正態(tài)分布的。這意味著有時線纜的直徑會超出公差 限 [, ]。 1 91 71 51 31 1975310 . 5 60 . 5 40 . 5 2樣本均值__X = 0 . 5 4 6 4 6U C L = 0 . 5 7 1 3 4L C L = 0 . 5 2 1 5 81 91 71 51 31 1975310 . 1 00 . 0 50 . 0 0樣本極差_R = 0 . 0 4 3 1U C L = 0 . 0 9 1 2L C L = 02 01 51 050 . 6 00 . 5 50 . 5 0樣 本值0 . 6 00 . 5 80 . 5 60 . 5 40 . 5 20 . 5 0L S L 目 標(biāo) U S LL S L 0 . 5 0目 標(biāo) 0 . 5 5U S L 0 . 6 0規(guī) 格0 . 6 00 . 5 50 . 5 0組 內(nèi)整 體規(guī) 格標(biāo) 準 差 0 . 0 1 8 5 4 7 7C p 0 . 9C p k 0 . 8 3組 內(nèi)標(biāo) 準 差 0 . 0 1 9 3 4 1 4P p 0 . 8 6P p k 0 . 8C p m 0 . 8 5整 體電 纜 直 徑X b a r 控 制 圖R 控 制 圖最 后 2 0 個 子 組能 力 直 方 圖正 態(tài) 概 率 圖A D : 0 . 2 3 3 ， P : 0 . 7 9 4能 力 圖 解釋結(jié)果 P 控制圖表明有 1 個點不受控。缺陷品率似乎不受樣本大小的影響。此過程可能需要進行大量改進 。累積 DPU 控制圖 （每單位的缺陷數(shù) ）停留在值 附近，表明收集的樣本足以很好地估計 DPU 平均值。 13. 缺陷數(shù)據(jù)能力分析 缺陷品 9 18 17 16 15 14 13 12 11 110 . 0 7 50 . 0 5 00 . 0 2 50 . 0 0 0樣 本每單位樣本計數(shù)_U = 0 . 0 2 6 5 2U C L = 0 . 0 6 9 0 4L C L = 01 0 08 06 04 02 000 . 0 3 00 . 0 2 50 . 0 2 00 . 0 1 5樣 本DPUD P U 均 值 : 0 . 0 2 6 5置 信 區(qū) 間 下 限 : 0 . 0 2 3 7置 信 區(qū) 間 上 限 : 0 . 0 2 9 5最 小 D P U : 0 . 0 0 0 0最 大 D P U : 0 . 0 7 5 3目 標(biāo) D P U : 0 . 0 0 0 0（ 9 5 . 0 % 置 信 ）摘 要 統(tǒng) 計1 4 01 2 01 0 00 . 0 7 50 . 0 5 00 . 0 2 50 . 0 0 0樣 本 數(shù) 量DPU0.070.060.050.040.030.020.010.001 61 2840D P U頻率T a r1氣 線 控 制 能 力 分 析U 控 制 圖使 用 不 相 等 樣 本 量 進 行 的 檢 驗累 積 D P U缺 陷 率直 方 圖 Cp、 Cpk、 Pp 和 Ppk 統(tǒng)計量是潛在和整體能力的度量。在實踐中，許多人將 視為過程能力統(tǒng)計量的最小可接受值。要了解和解釋能力統(tǒng)計，請使用以下信息作為指導(dǎo)。能力統(tǒng)計量的解釋因?qū)Ψ治鏊褂玫姆植级悺? Cp 和 Cpk Cp 不考慮過程平均值相對于規(guī)格限的位置。僅當(dāng)您滿足目標(biāo)值 （未指定目標(biāo)值時為過程平均值）且變異最小時，Cpk 才較高。 子組 間變異和子組內(nèi)變異都對整體變異有所貢獻。 Ppk 針對整個過程。 使用 Cpm 評估過程是否以目標(biāo)為中心。如果 Cpm、 Ppk 與 Pp 相同，則過程平均值與目標(biāo)值相同。比較 Pp 和 Ppk 以評估過程中位數(shù)是否接近于規(guī)格中點。 14. 過程能力指數(shù)的解釋方法 解釋結(jié)果 通過擬合優(yōu)度檢驗結(jié)果和概率圖來識別和選擇數(shù)據(jù)分布。對于臨界值 a，大于 a 的 p 值表明數(shù)據(jù)服從該分布。 BoxCox（ p 值 = ）和 Johnson 變換（ p 值 = ）也較好地擬合了數(shù)據(jù)。概率圖顯示，對于 2 參數(shù) Weibull、 3 參數(shù) Weibull、最大極值和 Gamma 分布，數(shù)據(jù)點近似成一條直線，并在置信區(qū)間內(nèi)?；谀芰y(tǒng)計量的分布。 15. 樣本數(shù)據(jù)分布的識別與選擇 1 0 0 . 0 0 01
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