質(zhì)量過程控制及改善培訓(xùn)課件-文庫吧在線文庫
【正文】 12. 帕累托圖 13. 因果圖 運(yùn)行圖概念： 所有過程中都會(huì)發(fā)生變異。聚類可以指出抽樣問題或測(cè)量問題。 計(jì) 數(shù) 2 7 4 5 9 4 3 1 9 1 0 1 8百 分 比 6 4 . 8 1 3 . 9 1 0 . 2 4 . 5 2 . 4 4 . 3累 積 % 6 4 . 8 7 8 . 7 8 8 . 9 9 3 . 4 9 5 . 7 1 0 0 . 0缺 陷 數(shù) 其 他不 完 整 部 件有 缺 陷 的 外 罩漏 油 襯 墊缺 少 的 線 夾丟 失 的 螺 絲 釘4 0 03 0 02 0 01 0 001 0 08 06 04 02 00計(jì)數(shù)百分比缺 陷 數(shù) 的 P a r e t o 圖 因果圖概念： 因果 （或魚骨）圖描述問題的潛在原因。 表 面 瑕 疵環(huán) 境測(cè) 量方 法材 料機(jī) 器人 員運(yùn) 算 符培 訓(xùn)主 管 人班 次速 度車 床位套 接 字供 應(yīng) 商滑 潤(rùn) 劑合 金剎 車接 觸角 度檢 查 員顯 微 鏡微 米凝 聚濕 度 %檢驗(yàn)指導(dǎo)者錯(cuò)誤太慢條件準(zhǔn)確度因 果 圖 跟蹤質(zhì)量過程并檢測(cè)是否存在特殊原因 2 11. 控制圖概念 12. 缺陷（計(jì)數(shù)型）控制圖 13. 成型過程（測(cè)量型）控制圖 14. 利用控制圖判斷生產(chǎn)過程失控 控制圖概念： 可以使用控制圖跟蹤一段時(shí)間內(nèi)的過程統(tǒng)計(jì)量并檢測(cè)是否存在特殊原因。例如，可將產(chǎn)品與標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較，并將其歸類為有缺陷產(chǎn)品 或無缺陷產(chǎn)品。根據(jù)產(chǎn)品的缺陷數(shù)將產(chǎn)品歸類有時(shí)會(huì)更加方便。單值的變量控制圖、時(shí)間加權(quán)控制圖 和多變量控制圖 也標(biāo)繪測(cè)量數(shù)據(jù)。 X 子組平均值的控制圖 我們用控制圖來監(jiān)控過程、判斷過程的受控狀態(tài)，一旦控制圖出現(xiàn)異常的信息，就可以認(rèn)為過程發(fā)生了異常，從而對(duì)生產(chǎn)過程進(jìn)行檢討，尋找原因，制定改善措施，對(duì)過程進(jìn)行修正，直到過程重新達(dá)到質(zhì)量要求。這些圖形有助于評(píng)估數(shù)據(jù)的分布并證實(shí)過程受控。但是，可以看到過程平均值 () 略小于目標(biāo) ()。制造商未滿足客戶的要求，應(yīng)通過降低過程變異來改進(jìn)其過程。這些模式表明數(shù)據(jù)是正態(tài)分布的。此過程可能需要進(jìn)行大量改進(jìn) 。要了解和解釋能力統(tǒng)計(jì)，請(qǐng)使用以下信息作為指導(dǎo)。 14. 過程能力指數(shù)的解釋方法 解釋結(jié)果 通過擬合優(yōu)度檢驗(yàn)結(jié)果和概率圖來識(shí)別和選擇數(shù)據(jù)分布?；谀芰y(tǒng)計(jì)量的分布。 屬性 ，它以樣本中的缺陷 數(shù)或缺陷品 數(shù)為基礎(chǔ)。例如，如果需要檢驗(yàn)壁厚和外徑，則需要兩個(gè)單獨(dú)的抽樣計(jì)劃。同時(shí)質(zhì)檢人員和車間議定絕大多數(shù)情況下將拒收含 10% 缺陷品的批次，以保護(hù)公司的利益。 抽樣計(jì)劃確定： 解釋結(jié)果 對(duì)于每個(gè) 2500 個(gè)批次，您需要隨機(jī)選擇并檢驗(yàn)其中的 104 個(gè)。 。如果 大于臨界距離（在本例中 k = ），則接受整個(gè)批次；否則，拒收整個(gè)批次。 創(chuàng)建抽樣計(jì)劃以確定樣本大小，并基于該樣本中發(fā)現(xiàn)的缺陷品數(shù)或缺陷數(shù)決定是接受還是拒收整個(gè)批次的產(chǎn)品。 實(shí)例：假設(shè)收到 車間 5000 支毛管，使您很不滿意的是許多毛管壁厚不達(dá)標(biāo)。例如，可以檢驗(yàn)毛管的壁厚。他想檢驗(yàn)少量蘋果以確定是接受整批貨進(jìn)行銷售，還是應(yīng)當(dāng)拒收并退給供應(yīng)商。 BoxCox（ p 值 = ）和 Johnson 變換（ p 值 = ）也較好地?cái)M合了數(shù)據(jù)。如果 Cpm、 Ppk 與 Pp 相同，則過程平均值與目標(biāo)值相同。子組 間變異和子組內(nèi)變異都對(duì)整體變異有所貢獻(xiàn)。 Cp 和 Cpk Cp 不考慮過程平均值相對(duì)于規(guī)格限的位置。 13. 缺陷數(shù)據(jù)能力分析 缺陷品 9 18 17 16 15 14 13 12 11 110 . 0 7 50 . 0 5 00 . 0 2 50 . 0 0 0樣 本每單位樣本計(jì)數(shù)_U = 0 . 0 2 6 5 2U C L = 0 . 0 6 9 0 4L C L = 01 0 08 06 04 02 000 . 0 3 00 . 0 2 50 . 0 2 00 . 0 1 5樣 本DPUD P U 均 值 : 0 . 0 2 6 5置 信 區(qū) 間 下 限 : 0 . 0 2 3 7置 信 區(qū) 間 上 限 : 0 . 0 2 9 5最 小 D P U : 0 . 0 0 0 0最 大 D P U : 0 . 0 7 5 3目 標(biāo) D P U : 0 . 0 0 0 0（ 9 5 . 0 % 置 信 ）摘 要 統(tǒng) 計(jì)1 4 01 2 01 0 00 . 0 7 50 . 0 5 00 . 0 2 50 . 0 0 0樣 本 數(shù) 量DPU0.070.060.050.040.030.020.010.001 61 2840D P U頻率T a r1氣 線 控 制 能 力 分 析U 控 制 圖使 用 不 相 等 樣 本 量 進(jìn) 行 的 檢 驗(yàn)累 積 D P U缺 陷 率直 方 圖 Cp、 Cpk、 Pp 和 Ppk 統(tǒng)計(jì)量是潛在和整體能力的度量。 1 91 71 51 31 1975310 . 5 60 . 5 40 . 5 2樣本均值__X = 0 . 5 4 6 4 6U C L = 0 . 5 7 1 3 4L C L = 0 . 5 2 1 5 81 91 71 51 31 1975310 . 1 00 . 0 50 . 0 0樣本極差_R = 0 . 0 4 3 1U C L = 0 . 0 9 1 2L C L = 02 01 51 050 . 6 00 . 5 50 . 5 0樣 本值0 . 6 00 . 5 80 . 5 60 . 5 40 . 5 20 . 5 0L S L 目 標(biāo) U S LL S L 0 . 5 0目 標(biāo) 0 . 5 5U S L 0 . 6 0規(guī) 格0 . 6 00 . 5 50 . 5 0組 內(nèi)整 體規(guī) 格標(biāo) 準(zhǔn) 差 0 . 0 1 8 5 4 7 7C p 0 . 9C p k 0 . 8 3組 內(nèi)標(biāo) 準(zhǔn) 差 0 . 0 1 9 3 4 1 4P p 0 . 8 6P p k 0 . 8C p m 0 . 8 5整 體電 纜 直 徑X b a r 控 制 圖R 控 制 圖最 后 2 0 個(gè) 子 組能 力 直 方 圖正 態(tài) 概 率 圖A D : 0 . 2 3 3 ， P : 0 . 7 9 4能 力 圖 解釋結(jié)果 P 控制圖表明有 1 個(gè)點(diǎn)不受控。最后 20 個(gè)子組的控制圖上的點(diǎn)隨機(jī)地水平散開，沒有趨勢(shì)或偏移，這也表明過程是穩(wěn)定
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