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正文內(nèi)容

foundry工廠專業(yè)名詞的解釋-在線瀏覽

2025-06-30 22:07本頁面
  

【正文】 頭發(fā)寬度之五十萬分之一。   13 APCVD(ATMOSPRESSURE) 常壓化學氣相沉積 APCVD為Atmosphere(大氣),Pressure(壓力),Chemical(化學),Vapor(氣相)及Deposition(沉積)的縮寫,也就是說,反應氣體(如SiH4(g),B2H6(g),和O2(g))在常壓下起化學反應而生成一層固態(tài)的生成物(如BPSG)于芯片上。半導體工業(yè)用的砷離子(As+)可由AsH3氣體分解得到。   15 ASHING,STRIPPING 電漿光阻去除 1. 電漿預處理,系利用電漿方式(Plasma),將芯片表面之光阻加以去除。3. 電漿光組的產(chǎn)生速率通常較酸液光阻去除為慢,但是若產(chǎn)品經(jīng)過離子植入或電漿蝕刻后,表面之光阻或發(fā)生碳化或石墨化等化學作用,整個表面之光阻均已變質(zhì),若以硫酸吃光阻,無法將表面已變質(zhì)之光阻加以去除,故均必須先以電漿光阻去除之方式來做。封裝的材料不同,其封裝的作法亦不同,本公司幾乎都是以樹酯材料作晶粒的封裝,制程包括:芯片切割→晶粒目檢→晶粒上「架」(導線架,即Lead frame)→焊線→模壓封裝→穩(wěn)定烘烤(使樹酯物性穩(wěn)定)→切框、彎腳成型→腳沾錫→蓋印→完成。   17 BACK GRINDING 晶背研磨 利用研磨機將芯片背面磨薄以便測試包裝,著重的是厚度均勻度及背面之干凈度。   18 BAKE, SOFT BAKE,HARD BAKE 烘烤,軟烤,預烤 烘烤(Bake):在集成電路芯片上的制造過程中,將芯片至于稍高溫(60℃~250℃)的烘箱內(nèi)或熱板上均可謂之烘烤,隨其目的的不同,可區(qū)分微軟烤(Soft bake)與預烤(Hard bake)。預烤(Hard bake):又稱為蝕刻前烘烤(preetch bake),主要目的為去除水氣,增加光阻附著性,尤其在濕蝕刻(wet etching)更為重要,預烤不全長會造成過蝕刻。一種供做離子植入用之離子。BF2 +是由BF3 +氣體晶燈絲加熱分解成:BB1F1B10FB11F2 。   20 BOAT 晶舟 Boat原意是單木舟,在半導體IC制造過程中,常需要用一種工具作芯片傳送、清洗及加工,這種承載芯片的工具,我們稱之為Boat。石英Boat用在溫度較高(大于300℃)的場合。   21 緩沖蝕刻液 BOE是HF與NH4F依不同比例混合而成。HF為主要的蝕刻液,NH4F則作為緩沖劑使用。HF會浸蝕玻璃及任何含硅石的物質(zhì),對皮膚有強烈的腐蝕性,不小心被濺到,應用大量水沖洗。在晶粒封裝(Assembly)的制程中,有一個步驟是作“焊線”,即是用金線(塑料包裝體)或鋁線(陶瓷包裝體)將晶粒的線路與包裝體之各個接腳依焊線圖(Bonding Diagram)連接在一起,如此一來,晶粒的功能才能有效地應用。焊墊通常分布再晶粒之四個外圍上(以粒封裝時的焊線作業(yè)),其形狀多為正方形,亦有人將第一焊線點作成圓形,以資辨識。而晶粒上有時亦可看到大塊的金屬層,位于晶粒內(nèi)部而非四周,其上也看不到開窗線,是為電容。由五個質(zhì)子及六個中子所組成。另外有同位素,是由五個質(zhì)子及五個中子所組成原子量是10(B10)。   24 BPSG 含硼及磷的硅化物 BPSG乃介于Poly之上、Metal之下,可做為上下兩層絕緣之用,加硼、磷主要目的在使回流后的Step較平緩,以防止Metal line濺鍍上去后,造成斷線。   26 BURN IN 預燒試驗 「預燒」(Burn in)為可靠性測試的一種,旨在檢驗出哪些在使用初期即損壞的產(chǎn)品,而在出貨前予以剔除。預燒試驗分為「靜態(tài)預燒」(Static Burn in)與「動態(tài)預燒」(Dynamic Burn in)兩種,前者在試驗時,只在組件上加上額定的工作電壓即消耗額定的功率,而后者除此外并有仿真實際工作情況的訊號輸入,故較接近實際狀況,也較嚴格。另外對于一些我們認為它品質(zhì)夠穩(wěn)定且夠水準的產(chǎn)品,亦可以抽樣的方式進行,當然,具有高信賴度的產(chǎn)品,皆須通過百分之百的預燒試驗。在以往計算機尚未廣泛應用時,設計者必須以有限之記憶、經(jīng)驗來進行設計,可是有了所謂CAD后,我們把一些常用之規(guī)則、經(jīng)驗存入計算機后,后面的設計者,變可節(jié)省不少從頭摸索的工作,如此不僅大幅地提高了設計的準確度,使設計的領(lǐng)域進入另一新天地。通常于某一個層次中,為了控制其最小線距,我們會制作一些代表性之量測圖形于晶方中,通常置于晶方之邊緣。量測CD之層次通常是對線距控制較重要之層次,如氮化硅、POLY、CONT、MET…等,而目前較常用于測量之圖形有品字型,LBAR等。與水、酒精、乙醚互溶。﹪以上之純化物
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