過(guò)程能力新版ppt課件-在線瀏覽
2025-06-20 18:34本頁(yè)面
【正文】 分變異所形成的過(guò)程能力，它實(shí)際上反映了“短期”變異。對(duì)于正態(tài)分布，過(guò)程的總標(biāo)準(zhǔn)差 σ t能用 St進(jìn)行估計(jì)。 2/ dRS w ?41/ mcSmii??mSmii /12??或 或 過(guò)程性能是指對(duì)未被證明處于統(tǒng)計(jì)受控狀態(tài)的過(guò)程特性的輸出的統(tǒng)計(jì)度量，此時(shí)因?yàn)榭赡馨ó惓Ｒ蛩?，其值又不可預(yù)測(cè)，故使用過(guò)程性能這個(gè)度量應(yīng)特別謹(jǐn)慎。 長(zhǎng)期過(guò)程能力 (過(guò)程性能 ) 長(zhǎng)期過(guò)程能力 (過(guò)程性能 ) 若正態(tài)分布的標(biāo)準(zhǔn)差 St僅由一個(gè)樣本量為n的樣本來(lái)估計(jì)，則過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差可表示為： St是一個(gè)描述性統(tǒng)計(jì)量，用來(lái)代替 σt。過(guò)程性能可以利用適當(dāng)?shù)母怕始埢驍?shù)據(jù)擬合的分布參數(shù)加以評(píng)估，過(guò)程性能表達(dá)為： 記號(hào) 用于上、下規(guī)范限于特性的標(biāo)稱(chēng)值不對(duì)稱(chēng)的情形；在對(duì)稱(chēng)情形用符號(hào) “ 177。 tt SzX ???過(guò)程性能tX?過(guò)程性能 ab??ab??處于統(tǒng)計(jì)受控狀態(tài)的過(guò)程，估計(jì)量 St和 Sw的取值趨于相等。 對(duì)均值不為設(shè)定常數(shù)的失控過(guò)程以及均值系統(tǒng)變化的過(guò)程 ， Sw可能會(huì)顯著地低估過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差，因此在使用 Sw時(shí)應(yīng)非常謹(jǐn)慎。 三、影響過(guò)程能力的因素 操作者 設(shè)備 材料 操作方法 環(huán)境 監(jiān)視與測(cè)量 第三節(jié) 過(guò)程能力指數(shù)和過(guò)程性能指數(shù) 一、過(guò)程能力指數(shù)的概念 Process capability index 過(guò)程能力指數(shù)： 衡量過(guò)程能力滿足過(guò)程要求的程度的數(shù)量值 。 是描述過(guò)程能力相對(duì)于容差的指數(shù) 。 過(guò)程要求：可以是 技術(shù)標(biāo)準(zhǔn) 、 產(chǎn)品規(guī)格、公差等要求。 過(guò)程能力強(qiáng)并不等于對(duì)過(guò)程要求的滿足程度高；相反 ， 過(guò)程能力弱也不等于對(duì)過(guò)程要求的滿足程度低 。因此，過(guò)程能力指數(shù)越大，說(shuō)明過(guò)程能力的貯備越充足，質(zhì)量保證能力越強(qiáng)，潛力越大，不合格品率越低，但這并不意味著加工精度和技術(shù)水平越高。 0 01 98 XXTTC LUp ???9 9 8 6 X對(duì)正態(tài)分布來(lái)說(shuō)， 分別為 3σ、3σ，此時(shí)， Cp為： 、 9 9 8 6 sTTTC LUp 66????圖 61 各種分布情況下的 Cp值 Cp值越大，表明過(guò)程能力越高，對(duì)統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)的人、機(jī)、料、法、環(huán)的要求也越高，相應(yīng)的成本也會(huì)越大。 例 61 某零件尺寸要求為 mm，通過(guò)抽樣檢驗(yàn)得知，樣本平均值與公差中心重合， ＝ 。 0 ?ST??解： XmmTTM LU ?????? ?6 ???? STpTC?%]9 9 8 5 [2)](1[2)]3(1[2 ?????????? pCp無(wú)偏移單側(cè)規(guī)范情形的短期過(guò)程能力指數(shù) 只有上限要求時(shí)，上過(guò)程能力指數(shù)： STUUpk UXTTC????33???? )UTX ?（當(dāng) ≥ TU時(shí) ， CpkU為 負(fù)值，與過(guò)程能力的含義矛盾，故令 CpkU ＝ 0，表示過(guò)程能力嚴(yán)重不足，此時(shí)過(guò)程的不合格率高達(dá) 50％以上。求該過(guò)程的上過(guò)程能力指數(shù)并估計(jì)其不合格率。當(dāng) μ=TU或 μ=TL時(shí)， K＝ 1， CpK＝ 0,實(shí)際上，這時(shí)合格率仍為 50％，故 CpK＝ 0是不適當(dāng)?shù)?，?shí)際上 CpK只能用于 0≤K1的情況 。 解：由題意： ?LT ?T或由 Cp=， k= %～ % )()1(62????????????????????????ppkppkCkCCkSTCx??%][1] [1 ????????????? ）（）（）（）（ ΦΦp計(jì)算 Cpk 在 ISO35342:2022中，將 Cpk稱(chēng)為最小過(guò)程能力指數(shù)，它也是上過(guò)程能力指數(shù) CpkU和下過(guò)程能力指數(shù) CpkL中的較小值。 (3)計(jì)算過(guò)程能力指數(shù) Cp nppppC Up )1(3 ???(2)計(jì)算平均不合格品率及平均樣本量 ?????kiikiindp11knnkii??? 1例 1 某產(chǎn)品規(guī)格要求 pU＝ ，現(xiàn)取 5個(gè)樣本， n1＝ n2＝ …＝ n5＝ 100, 各樣本中不合格品數(shù)為： d1＝ 7， d2＝ 5， d3＝ 6， d4＝ 2， d5＝ 4，求過(guò)程能力指數(shù) Cp。
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